Испытательные тесты для контроля микроскопов Советский патент 1951 года по МПК G01M11/02 G01N21/41 G02B21/14 G02B27/52 

увеличений и-раз1 ой разреииающей способности, второй тест (фиг. 2) служит для проверки оптической толщины фазовой пластинки изготовленного микроског1.а (каждый объектив имеет свою группу цприхов), а треида-Февт (фиг. 3) служит для наладки фазовых микроскоnoii и приспособлений ири их эксилуатацпи.

Одинаковая оптическая толщина на элементах тестов первого и третьего получа1гт(:ятравлением слабой (ие выше 5%) илавиковон кислотой или выщелачиванием слабыми растворами других кислот (азотной, серной, уксусной и др.), а фазовой клин на штрихах второго теста гЮv yчaeтcя полированием с изменением времеии иолировки илавно от конца к концу.

Травление, вьпцелачиваиие и иолироваиие П1)оизводятся ио рисункам из металлического хрома, коиденсировапного и вакууме на фотографические изображения тесюв на хромированных с.юях кол.лои;1ов или CMo;i. Дру11 е слои (150СК и различиые грунты) ири необходимом длительном травлении и особенно выщелачивании отстают от cTCK.ia, а постепенным опусканием в кислоту фазового кл1Н1а ие Ho;iyчаются из-за де11стви 1 капиллярных сил па с.мачщ аемость стек..1а п узких промежутках между штрихами. Дрхчме металлы для иолироиаппл фазо1юго клипа также не годятся из-за недостаточной их твердости.

И р е д м е т и з о б р е т е н и я

1. Ис1Н)Гг;.тельн1-1 е тесты д.1я ()ля , вынолнеиiibie в системы штрихов, иаиесеииых на ирозрачную основу и расположенных группами по четырем панравлениям в каждой группе, о т л и ч а ю Hut с с я тем, что, с целью контроля фазового контраста в фазо1и) .М 1кроскоиах и фазовых нриспособлепиях, оптическая толщина щтрихо15 выполиеиа одниаково: и от,тичпой от oiriTi4ecKOi то.чщпиы промежутке.

2. Видо1Г(менение ис1И)Ггател1)Иьг тестов д.:1я коптроля мпкроско1ЮК по п. 1. вьпюлпемиых в 1,иде спстем1 1 niTpiixoi, иа11ссе1И1Ых на ирозрачную основу и расположе1ни 1х 1р ипал1и одпого направления, отличающееся тел;, что с целью проверки оптической толнцщы фазовой пластинки, оптическая толниша каждо|-() штриха вынолнена плавно пзмепя1он1е11ся по Bcefi eio длине.

:. Видоизмепепне испытательных тестов для контроля мнкроскопо 5 ио п. 1, вынолнеппых в вггте )асположенг1ых па цроз)ач11ой основе ii шахматиом порядке нолей, одинаковой пли разной геометрической (|)орм1.1, о т л и ч а ю щ; е е с я тем. что, с цел1ио иаладки фазовых микроскопов и фазовых H iiicnoco6.ieHin i при экеплуатаиии. соседппе поля тес1а нмеют различную онтическую т()Л1Ццну.

2J

f