Способ выявления геологических структур Советский патент 1981 года по МПК G01V9/00 G01V8/00 

(54) СПСХ:ОБ ВЫЯВЛЕНИЯ ГЕОЛОГИЧЕСКИХ Изобретение относится к поиску и р изведке месторождений полезных ископаемых с помощью измерения освещеннос ти, отраженной от земной поверхности. Известен способ выявления геологических структур, в котором измеряют температуру в мелких скважинах на разной от поверхности глубине, определяемой как О,23-О,30 величины слоя с изменяющимися годовыми температурами. В результате обработки полученных данных устанавливают повышение значений температуры над антиклиналями ij, Недостатками этого способа являются необходимость бурения скважин, а также определение мощности слоя с изменяющимися годовыми температурами, Известен также способ поиска геологических структур, основанный на регистрации инфракрасного излучения Земли, Обычно инфракрасная съемка проводится с летательного или космического аппарата в диапазоне длин волн 0,761,Д мкм. Дешифрированиеснимков позво СТРУКТУР ляет выявить геологические объекты, отличающиеся по температуре от окружающей среды Г2. Недостатками этого способа являются его малая чувствительность и, как следствие, низкая разрешающая способность. Цель изобретения - повышение эффективности изучения глубинного геологического строения. Поставленная цель достигается тем, что согласно способу выявления геологических структур, основанном на регистрации отраженного от поверхности Земли излучения, измеряют отраженную от земной поверхности освещенность в диапазоне 1ОО-9500 лк в условиях затёне ния, причем изменения освещенности, происходящие в период съемки корректируют по изменениям в базовых точках. Изобретение основано на том, что участки поверхности Земли, соответствующие геотермическим аномалиям, обладают повышенной отражаюшей способностью. 38 Способ реализуют следующим образом. Плошадь, подлежащая исследованию, в случае разнородного строения в зависимости от характера растительного покрова почвы, поверхностной литологии, рильефа местности и др. разделяют на ряд участков. В каждом из этих участков намечают базовую точку (плавающий ноль вследствие изменения освещенности),характеризующуюся осредненными для данного участка условиями (растительный покров, рельеф . ). Исследования проводят на площади по профилям располагающимся в плане по взаимно перпендикулярным линиям, В базовой точке каждого участка проводят через короткие промежутки времени (3-5 мин в зйви симости от времени перехода из предьщущей точки на последудаую) измерения отраженной освещенности наблюдаемого объ кта при затенении. При переходе к исследованиям другого участка наблюдения начинают параллельными замерами в старой и новой базовых точках. Замеры отраженной освещенности про изводят люксметром (например Ю-16) в затененных условиях наблюдаемого объекта, для чего точки замеров (и базовую) изолируют от прямого попадания солнечных лучей. Длительность затенения должна составлять не менее 20 с, учитывая инерционность прибора. Замеры осуществляют при расположении прибора параллельно земной поверхности на расстоянии в пределах 1-1,3 м от нее (строго оди.наковом расстоянии прибора от поверхнос ти земли). Указанное расстояние удобно для наблюдений. Практически при изменении расстояния прибора от поверхности земли 0,5-3 м изменения отраженной освещенности не превьпдают 2-4%, в то время как разница в точках наблюдения колеблется в пределах 5-80%. Время замера определяется стабильностью показаний прибора и не превышает 10-15 с. На чертеже показана кривая зависимости эффективности измерений от отраженной освещенности в условиях затенения. Оптимальное значение измеряемой отраженной освещенности должно находиться в пределах 10О-950Олк. Подт- верждение правильности выбранных пределов показано на чертеже. На оси абсцисс показаны логарифмы полученных значений отраженной освещенности в затененных условиях, по оси ординат - эффективность в процентах. В точках 1-5 пока7ашз средние значения отраженной осещенности, полученные при полевых набюдениях. Наиболее оптимальные значеия получены в точках 1-4 (100500 лк) с эффективностью, составляюей 55-90%. При значениях отраженной освещенности свьпле 10ООО лк (точка 5) эффективность уменьщается до 40%. Выбор оптимального диапазона наблюдений достигается затенением объекта от прямого попадания солнечных лучей. При облачной и пасмурной погоде производят затенение как в базовой, так и точках наблюдения. Результаты измерения отраженной освещенности в пунктах наблюдения корректируют по наблюдениям, получаемым в базовой точке. В результате сопротивления данных наблюдений в пунктах замера с данными наблюдений, полученных в базовых точках, получают различия в показаниях отраженной освещенности. Значения отраженной освещенности по точкам наблюдения наносят на карту и строят карту изолюкс, по которой затем выявляют антиклинали. В процессе практической реализации способа установлено, что над антиклиналями, которые могут содержать залежи нефти и газа, регистрируют повышенные значения отраженной освещенности Использование данного способа выявления геологических структур по сравнению с известными позволяет ускорить работы по выявлению геологических структур и .удешевить работы по их съемке. Формула изобретения Способ выявления.геологических структур, основанный на регистрации отраженного от поверхности Земли излучения, отличающийся тем, что, с целью повьпиения эффективности изучения глубинного геологического строения, измеряют отраженную ..от земной поверхности освещенность в диапазоне 10О950О лк в условиях затенения, причем изменения освещенности, происходящие в период съемки, корректируют по изменениям в базовых точках. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР № 625177, кл. q 01V 9/ОО, опублик. 1974. 2. Кац Я. Г. и др. Космические методы в геологии. М., МГУ, 1976, с. 133134( прототип).

3(р ск{тпи$ность

т

90