Фотоэлектрический тензометр Советский патент 1950 года по МПК G01B11/16 

Предметом изобретения является применение оптического контакта в известных фотоэлектрических тензометрах, с целью повьпиения их чу1 ствительности.

На чертеже показана схема такого фотоэлектрического тензометра.

Свет от ла.миочки /, концеитрнруемый линзой :, направляется на грань - нризмы 4 полного внутреннего отражения. Рядом с призмой 4 расположена маленькая призмочка .

Призма 4 закрепляется на пластине 6, прикрепленной к одному концу базы контролируемого предмета, а призмочка закреплена на пластинке 7, прикрепленной к другому концу этой базы. Расстояние между призмами регулируется (устройство для регулировки на. схеме не показано). При отсутствии деформации часть сиета, отражаясь от грани .-), падает на фотоэлемент . а остальная проходит сквозь иризмочку Л.

При деформации исс.тедуемого предмета меняется И1ель между призмами 4 и -Х вследствие чего меняется распределение света, а вместе с ним и ток в фотоэлементе.

Таким образом, изменеиие тока, сиимаемого с фотоэлемента, характеризует измеряемую деформацию.

Предмет изо б р е т е и и я

Фотоэлектрический тензометр,о тличаюн1.нйся тем, что, с целью повып1ения чувствительиости, в ием поименен онтическш Kotrrai T.