Устройство для измерения динамических параметров микросхем Советский патент 1981 года по МПК G01R31/28 G01R27/00 

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ даНАМИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МИКРОСХЕМ

I

Изобретение относится к электрЭ измерительной технике и может быть использовано для измерения динамических параметров микросхем, логических элементов, полупроводниковых элементов и т.п.

По основному авт. св. № 432431 известно .устройство для измерения динамических параметров ьоисросхем, содержащее цепь последовательно соединенных микросхем, переключатели, дискриминатор напряжения, регуашруемый источник опорного напряжения и элемент совпадения L1. Недостаток известного устройства заключается в его ограниченных функциональных возможностях, так как оно не позволяет измерять выходное со-противление контролируемой микросхемы.

Цель изобретения - расширение функциональных возможностей.

Поставленная цель достигается тем, что в устройство, содержащее

элемент совпадения, к выходу которого подключена цепь последовательно соединенньос микросхем, выход которой соединен с контролируемой микросхемой и через первый переключатель - с одним из входов элемента совпадения, другой вход которого соединен с выходом второго переключателя, вход которого соединен с выходом дискриминатора, один вход которо- .

10 го соединен с выходом контролируемой микросхемы, а другой вход - с выходом регулируемого источника опорного напряжения, введены последовательно соединенные эталонный конден15сатор и ключ, вход которого соединен с выходом контролируемой микросхемы, первая обкладка эталонного конденсатора соединена с общей шиной, а вторая его обкладка соединена

20 с вьцсодом ключа.

На чертеже приведена структурная схема предлагаемого устройства. Устройство содержит цепь 1 последовательно соединенных микросхем, переключатели 2 и 3, ключ 4, дискриминатор 5 напряжения, регулируемый источник 6 опорного напряжения, эталонный конденсатор 7 и элемент 8 сов падения. Устройство работает следуюпщм образом. На вход контролируемой teiKpocxeмы 9 поступает импульс напряжения с выхода цепи J последовательно соединенных микросхем. С выхода контролируемой микросхемы 9 сигнал поступа ет на один из входов дискриминатора 5 напряжения, на другой вход которого поступает опорное напряжение с вы хода регулируемого источника 6 опорного напряжения. При достижении уров ня выходного сигнала контролируемой микросхемы 9 уровня заданного опорного напряжения дискриминатор 5 напряжения переключается. Таким образо дискриминатор 5 напряжения с регулируемым источником 6 опорного напряже НИН предназначен для измерения времени задержки контролируемой микросхеьбл 9, При подаче на вход дискриминатора 5 напряжения опорного нгшряжения получают значения t U и tj U , а при подаче опорного напряжения Ua tj Ua и t U , где и t время задержки контролируемой микросхеьш 9 при пере1слючении из состояни соответственно. Разность этих времен дает время переключения контролируемой микросхемы 9 t, и t из состояI и из Г ния О в состояние О соответственно i.OA II4.,.ОЛ t {Ua--t° U, ., t1 причем t и tt определяется из соотношенийtn TiUa - f TaU.-TaU.-TaUa-T Uz , -„ -.,--- ... где Т U и Т Ua - периоды повторения импульсов, вырабатываемых устройством 9 при подаче на вход дискриминатора 5 напряжения опорного напряжения U и Ua соответственно, причем Т соответствует замыканию переключателей 2 и 3, Та - замыканию переключателя 3. измерения выходного сопротивления контролируемой микросхемы 9 состоит из двух тактов, В первом такте производится измерение времени задержки контролируемой микросхемы 9, а BTdpoM такте к выходу контролируемой микросхемы 9 с помощью ключа 4 подключается эталонный конденсатор 7 и далее вновь производится измерение времени задержки испытуемой микросхемы 9. По результатам измерения времени задержки контролируемой микросхемы 9 в первом (tcj,) и вторым (tcJ тактах осуществляется вычисление величины выходного сопротивления контролируемой микросхемы 9 как функции Т () где Сд - о кость эталонного конденсатора 7-; Сп - паразитная емкость, подключаемая к выходу конт тролируемой микросхемы 9 в первом такте.. Использование предлагаемого устройства позволяет получить более полную информацию о динамических параметрах контролируемой микросхемы. Формула изобретения Устройство для измерения динамических параметров микросхем по авт. св. № 432431, отличающееся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, в него введены последовательно соединенные эталонный ковденсатор и ключ, вход которого соединен с выходом контролируемой ьшкросхемы, первая обкладка эталонного конденсатора соединена с общей шиной, а вторая его обкладка соединена с выходом ключа. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1« Авторское свидетельство СССР 432431, кл, G 01 R 31/28, 1972.

8

И

.zi.z:.j

t-J