Предметом изобретения является способ измерения резонансной частоты колебательных контуров, преимущественно в области низких частот (до / 10 гц), основанный на измерении сдвига фаз между напряжением на аноде лампы и контрольным напряжением, подаваемым на сетку.
Предлагаемый способ имеет преимущественное значение для тех устройств, к которым предъявляются высокие требования точности на стройки не только по амплитуде, «о и по фазе.
Обычно применяемый способ настройки по максимуму резонасного напряжения (или тока) не позволяет точно настроить контур ввиду того, что амплитудная резонансная кривая контура имеет весьма пологий экстремальный участок в районе точной настройки, причем производная этой функции равна нулю на собственной частоте контура.
В противоположность этому фазовая характеристика контура имеет наиболее крутой участок в районе точной настройки, а производная функции имеет наибольшую величину на собственной частоте контура.
Известные способы настройки контура по углу сдвига фаз между током и напряжением на контуре связаны или с включением специального измерительного сопротивления последовательно с настраиваемым контуром, т. е. с изменением рабочей схемы, или с включением двух буферных ламп, между которыми включается настраиваемый контур, во избежание влияния фазоизмерительного прибора (например катодного осциллографа).
В случае же настройки зазел-гленных контуров необходимо включение источника питания постоянного тока буферной лампы последовательно пли параллельно (через дроссель) испытуемому контуру, что неизбежно связано с существенным изменением монтажа.
На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого измерительного устройства. К высокопотенциальному концу контура () подключается катод лампы, в анодной цепи которой включено небольшое измерительное сопротивление г . На управляющую сетку -лампы подается-Напряжение 1 нужной частоты WQ, а фазоизмерительный при
