Способ получения фотографических снимков различного рода объектов Советский патент 1982 года по МПК G03B41/00 G01N27/00 

Описание патента на изобретение SU911440A1

(Ц). СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ФОТОГРАФИЧЕСКИХ СНИМКОВ РАЗЛИЧНОГО РОДА ОБЪЕКТОВ

Похожие патенты SU911440A1

название год авторы номер документа
Способ получения фотографических снимков различного рода объектов 1949
  • Кирлиан С.Д.
SU106401A1
Устройство для получения фотографических снимков различного рода объектов 1950
  • Кирлиан С.Д.
SU108092A2
Способ фотографирования цилиндрических металлических объектов 1955
  • Кирлиан В.Х.
  • Кирлиан С.Д.
SU113807A2
Способ получения фотографических снимков различного рода объектов 1951
  • Кирлиан В.Х.
  • Кирлиан С.Д.
SU108099A2
Устройство для фотографирования объектов в электрическом поле токов высокой частоты 1977
  • Кравцов Александр Давидович
  • Перепелкин Евгений Николаевич
SU617762A1
Устройство для съемки объектов в электрическом поле 1989
  • Коротков Константин Георгиевич
  • Филатов Сергей Иванович
SU1720059A1
Способ высокочастотной регистрации воздушных раковин в твердом материале 1982
  • Романий Станислав Филиппович
  • Карпенко Виктор Семенович
  • Бурминов Владимир Валерианович
SU1091106A1
УСТРОЙСТВО для ПОЛУЧЕНИЯ ФОТОГРАФИЧЕСКОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ ОБЪЕКТА ТОКАМИ ВЫСОКОЙ ЧАСТОТЫ 1969
SU246317A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТРЕВОЖНОСТИ ЧЕЛОВЕКА 2003
  • Коротков К.Г.
RU2234854C1
Способ обнаружения дефектов и включенийВ МАТЕРиАлАХ 1979
  • Пивоваров Олег Николаевич
  • Гудков Леонид Александрович
  • Котельников Валерий Александрович
  • Кочетков Юрий Васильевич
  • Курсевич Петр Антонович
  • Балакшин Виктор Николаевич
SU832522A1

Иллюстрации к изобретению SU 911 440 A1

Реферат патента 1982 года Способ получения фотографических снимков различного рода объектов

Формула изобретения SU 911 440 A1

I

Изобретение относится к фототехнике и может быть использовано при-неразрушающем контроле глубинной структуры диэлектрических материалов.

Известен-способ получения фотографических снимков различного рода объектов, заключающийся в том, что подлежащий съемке объект помещают в электрическое поле высокой частоты, а фотоматериал располагают между электродом высокочастотной цепи, образующим обкладку конденсатора, и подлежащей съемке поверхностью объекта. При определенной величине напряжения на обкладках, величине разрядного промежутка и выдержке в фотоматериале формируется скрытое изображение, поверхности , а также глубинной структуры объекта. При соответствующей химической обработке фотоматериала -изображение становится видимым 1.

Недостатком известного способа является невозможность проведения

объемного контроля объектов с открытой пористой структурой, например пенопласта и других материалов, получаемых вспениванием, так как разряд,проходя от одной обкладки через поры объекта к другой, производят засветку фотоматериала и при этом.не несет информации о внутреннем строении объекта.

10

Цель изобретения - обеспечение возможности проведения.неразрушающего объемного контроля объектов с открытой пористой структурой.

IS

Поставленная цель достигается тем, что подлежащий съемке объект помещают в электрическое поле высокой частоты, фотоматериал располагают между электродом высокочастотной це30пи, образующим обкладку конденсатора, и подлежащей съемке поверхностью объекта,.а на поверхности объекта помещают диэлектрическую пленку. 391 На чертеже представлена принципиальная схема устройства для осуществ ления предлагаемого способа. Устройство содержит обкладки 1 и 2 конденсатора, к которым подключен генератор 3 токов высокой частоты, фотоматериал. . На чертеже показан подлежащий съемке объект 5 с открытой пористой структурой и диэлектрическая пленка 6, плотно контактирующая с поверхностью объекта. Между диэлектрической пленкой и фотоматериалом имеется разрядный промежуток. Способ осуществляется следующим образом. Для проведения снимка структуры пористого объекта 5 его помещают в ; электрическое поле, высокой частоты между обкладками конденсатора. Фотоматериал располагают между обкладкой 2 конденсатора и поверхностью объекта, при этом вплотную на поверхности объекта 5 располагают диэлектрическу пленку 6, например полихлорвиниловую толщиной 0,1 мм. Диэлектрическая пленка, становясь неотъемлемой частью исследуемого объекта, исключает сквозной, пробой между электродами через поры объекта На фотоматериале же формируется скры тое изображение глубинной структуры объекта с открытой пористой структурой, которое известным способом получить невозможно. Изобретение позволяет производить фотографирование внутренней структуры пористых объектов, имеющих несплошность по всей толщине. Формула изобретения Способ получения фотрграфических снимков различного рода объектов, заключающийся в том, что подлежащий съемке объект помещают в электрическое поле высокой частоты, а фотоматериал располагают между электродом высокочастотной цепи, образующим обкладку конденсатора, и подлежащей съемке поверхностью объекта, отличающийся тем, что, с целью неразрушающего объемного контроля объектов с открытой пористой структурой, на поверхности объекта помещают диэлектрическую пленку. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР N 106401, кл. G 03 В 41/00, 1949.

SU 911 440 A1

Авторы

Романий Станислав Филиппович

Черный Зиновий Денисович

Даты

1982-03-07Публикация

1978-10-09Подача