Изобретение относится к технике СВЧ и может использоваться для измерения коэффициента отражения различных объектов.
Известен способ измерения комплексного коэффициента отражения от. поверхности, при которсад исследуемую поверхность облучают одновременно Электромагнитными и акустическими волнами и по измеренным парамет-t . рам отраженных от исследуемой поверхности указанных волн определяют комплексный коэффициент отражения
1.
Однако использование данного способа при неизвестном расстояний от измерительной системы до исследуемой поверхности и для .поверхности сложной формы, для которой в пределах облученного участка нельзя применить плоскую аппроксимацию, дает большую ошибку . .
Цель изобретения - повышение, точности измерений.
Согласно способу измерения комплексного коэффициента отражения от поверхности, при котором исследуемую поверхность облучают одновременно электромагнитными и акустическими волнами, и по измеренным парамет-.
рам отраженных от исследуемой поверхности указанных волн определяют комплексный коэфф.циент отражения, постоянные распространения электромагнитных и акустических волн- выбирают равными друг другу, измеряют комплексные амплитуды электроь-агннтных и акустических волн, отраженных от исследуемойповерхности, а комп10лексный коэффициент отражения определяют, как отношение указанных измеренных амплитуд.
Сущность способа заключается в следующем.
15
Как известно, электрсичагнитный сигнал, отраженный от исследуемой поверхности, определяется комплексным коэффициентом отражения. При приеме отраженного сигнала на некотором
20 расстоянии от исследуемой поверхности необходимо учитывать фазовый набег ПРИ распространении электромагнитной волны в свободном прстранстве, уменьшение амплитуды поля с рас25стоянием.
Коэффициент отражения акустических волн от жесткой поверхности, которой являются границы раздела воздуха и большинства твердых и жидких тел,
30 практическиравен единице. При выборе постоянных распространения электромагнитных и акустйчесикх волн одинаковыми, фазовый набег и уменьш ение амплитуд этих волн при распространении в воздушной среде одинаковы. Рассеивакяцие свойства поверхностей сложной- формы в приближении физической оптики для электромагнитной и акустической волн одинаковы. Таким образом, создав одинаковые распределения предварительно рткали брованных подающих электронного и акустического полей и измеряя комплексные амплитуды отраженных полей в одной и той же точке, можно определить комплексный коэффициент отра . женин электромагнитного поля п, Ёотр ,- -мГ - комплексная амплитуда отраженного электромагнитно . го поля; Ротр. комплексная амплитуда отраженного акустического поля. Калибровка амплитуд падающих эле тромагнитного и акустического полей и фазовых измерений отраженных поле производится на математическом лис.т для которого известно, что R .Следовательно, амплитуды падающих на металлический лист электромагнитного и акустических полей выбираются так, чтобы 1Г |й2ГШ- д Предлагаемый способ обеспечивает измерение комплексного коэффициента отражения от поверхности с высокой точностью. Формула изобретения Спосбб измерения комплексного «сгэф(1 и11иента отражения от поверхности, при котором исследуемую поверхность облучают одновременно электромагнитными и акустическими волнами и по измеренным параметрам отраженных от исследуемой поверхности указанных волн определяют комплексный коэффициент отражения, отличающийс я тем, что, с целью повышения точности измерений, йостоянные распространения электромагнитных и акустических волн выбирают равными друг другу, измеряют комплексные амплитуды электромагнитных и акустических волн, отраженных от исследуемой поверхности, а комплексный коэффициент отражения определяют, как отношение указанных измеренных амплитуд. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР по заявке № 2847141/18-09, кл. G 01 R 27/06, 1979 (прототип).
