Фотоэлектрический способ измерения линейных размеров Советский патент 1982 года по МПК G01B11/04 

Описание патента на изобретение SU926531A1

( ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ

Похожие патенты SU926531A1

название год авторы номер документа
Способ определения положения границыОб'ЕКТА 1979
  • Шестаков Константин Михайлович
  • Романов Александр Вячеславович
  • Павлов Леонид Иванович
  • Садов Василий Сергеевич
SU849000A1
Измеритель координат элементов объектов 1990
  • Чехович Евгений Казимирович
  • Лакоза Игорь Михайлович
SU1744446A1
Фотоэлектрическое измерительное устройство 1988
  • Жильцов Алексей Иванович
  • Малков Александр Васильевич
  • Байдак Николай Григорьевич
  • Шибакин Герман Иванович
SU1677520A1
Способ контроля линейных размеров микропроволоки 1990
  • Александров Владимир Кузьмич
  • Ильин Виктор Николаевич
SU1776986A1
Способ исследования микрообъектов и ближнепольный оптический микроскоп для его реализации 2016
  • Жаботинский Владимир Александрович
  • Лускинович Петр Николаевич
  • Максимов Сергей Александрович
RU2643677C1
Устройство для измерения линейных размеров малых объектов 1982
  • Колобродов Валентин Георгиевич
  • Остафьев Владимир Александрович
  • Скакальский Андрей Иосифович
  • Тымчик Григорий Семенович
SU1027510A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОСТРАНСТВЕННЫХ ПАРАМЕТРОВ ГРАНИЦЫ ОБЪЕКТА 2000
  • Леун Е.В.
  • Загребельный В.Е.
  • Телешевский В.И.
  • Серебряков В.П.
  • Жирков А.О.
  • Шулепов А.В.
RU2172470C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИЗГИБА АРТИЛЛЕРИЙСКОГО СТВОЛА 2001
  • Брух Георгий Андреевич
  • Голик Марат Николаевич
  • Гринюк Игорь Евгеньевич
  • Пасько Игорь Матвеевич
RU2224980C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАЗМЕРОВ СРЕДНЕГО ДИАМЕТРА ОБЪЕКТОВ В ГРУППЕ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1992
  • Мелик-Саркисян В.П.
  • Буряченко В.Ф.
  • Пресняков Ю.П.
RU2044265C1
Способ измерения расстояния между отражающими поверхностями объекта 1989
  • Аноховский Вениамин Николаевич
SU1793215A1

Иллюстрации к изобретению SU 926 531 A1

Реферат патента 1982 года Фотоэлектрический способ измерения линейных размеров

Формула изобретения SU 926 531 A1

Изобретение относится к измерител ной технике и может быть использовано при автоматическом контроле линейных размеров, например, шага замедля ющих систем ламп бегущей волны. Известен фотометричекий способ измерения линейных размеров, заключающийся в том, что объект освещают, перемещают, преобразуют распределение светности в плоскости объекта в распредел ние освещенности по ограничен ному контуром щели участку светочувст вительной поверхности фотоприемника, и по величине фототока судят о размере объекта 1 . Недостатком способа является низкая точность измерения, вызванная нестабильностью характеристик освети теля и фотоприемника и неравномерностью чувствительности отдельных участков светочувствительной поверхности фотоприемника. Известен способ измерения линейных размеров с помощью ряда фотодат,чиков, заключающийся в том, что, |объект освещают, перемещают и по средней величине временного сдвига моментов коммутации фотодатчиков определяют превышение размера над шагом фотодатчиков 21. Недостаток этого способа - зависимость точности от размера изделия; наличие ошибки, вызванной неравномерностью чувствительности фотодатчиков, сложная аппаратурная реализация. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемому результату является фотоэлектрический способ измерения линейных размеров, заключающийся в том, что освещают контролируемый объект, перемещают его с постоянной скоростью, регистрируют сигнал о пройденном пути, регистрируют провзаимодействовавший с объектом световой поток в плоскости анализа и осуществляйт фотоэлектрическую обработку светового потока. В известном спбсобе судят о контролируемое, размере по величине сигнала медлу двумя последо вательными сигналами 3 . Недостаток данного способа - низкая точность измерения из-за нестабильности скорости перемещения и наличия флуктуации светового потока. Цель изобретения - повышение точности измерения. Указанная цель достигается тем, что с способе перед фотоэлектрической обработкой формируют в плоскости анализа негативное изображение границы объекта, движущегося синхронно с объектом, путем раздваивания свето вого потока, провзаимодействовавшего с объектом, смещение одного из полученных потоков в направлении движения объекта и сложения этих потоков с образованием минимума интерференци онного поля в плоскости знал за, фот злектрическую обработку осуществляют путем преобразования перемещения негативного изображения в последовател ность импульсов и судят о контролируемом размере по среднему расстоянию между одноименными импульсами двух последовательностей. На чертеже изображена схема, пояс няющая суть способа. Схема содержит контролируемый объект 1, источник 2 монохроматического когерентного света, объектов 3. зеркала -7, плоскопараллельную плас тину 8, диафрагму 9 фотоИриемник 10 датчик 11 линейного перемещения, вычислительное устройство 12. Способ осуществляется следующим образом. Освещают контролируемый объект 1 источником 2 монохроматического коге рентного света 2. Получают негативно изображение границы объекта, движущееся синхронно с объектом, зеркалами -7, образующими интерферометр Цендера-Маха и плоскопараллельной пластинкой 8, осуществляющей смещение одного из раздвоенных потоков. Получают сигнал о пройденном пути с помощью датчика 11 линейного перемещения. Преобразуют перемещение негативного изображения границы а последовательность световых импульсов с помощью многощелевой диафрагмы 9 преобразуют световые импульсы в элек рические сигналы фотоприемником 10. Вычисляют среднее расстояние между одноименными импульсами двух поспрлг 14 вательностей вычислительным устройством 12 и по этому результату определяют фактический размер объекта. При этом погрешность определения размера объекта, обусловленна13 нестабильностью скорости перемещения, флуктациями светового потока, нестабильностью параметров фотоприемника, снижается за счет формирования в плоскости анализа негативного изображения, границыобъекта при соответствующей фотоэлектрической обработке светового потока. Формула изобретения Фотоэлектрический способ измерения линс.ных размеров, заключающийс в том, что освещают контролируемый объект, перемещают его с постоянНОИ скоростью, регистрируют сигнал о пройденном пути , регистрируют провзаимодействовавший с объектом световой поток в плоскости анализа и осуществляют фотоэлектрическую обработку светового потока, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, перед фотоэлектрической обработкой формируют в плоскости анализа негативное изображение границы объекта, движущееся синхронно с объектом, путем раздваивания светового потока, провзаимодействовавшего с объектом,смещение одного из полученных потоков в направлении движения объекта и сложения этих потоков с образованием минимума интерференционного поля в плоскости анализа, фотоэлектрическую обработку осуществляют путем преобразования перемещения негативного изображения в последовательность импульсов и судят о контролируемом размере по среднему расстоянию между одноименными импульсами двух последовательностей. Источники информации, принятые во Внимание при экспертизе 1.Бернштейн А.С., Джохадзе Ш.Р. и Перова Н.И. Фотоэлектрические измерительные микроскопы. М., Машиностроение, 1976, с.28. 2.Авторское свидетельство СССР ff 17607, кл, G 01 В 11/0, 196. 3. Авторское свидетельство СССР № 533817, кл. G 01 В 11/2, 1976 (прототип ).

i

в 7

SU 926 531 A1

Авторы

Шестаков Константин Михайлович

Романов Александр Вячеславович

Павлов Леонид Иванович

Садов Василий Сергеевич

Василевский Валентин Евгеньевич

Даты

1982-05-07Публикация

1979-05-31Подача