Установка аподизации устройств на акустических поверхностных волнах Советский патент 1982 года по МПК G05D3/10 

Описание патента на изобретение SU930279A1

393 прецизионносгь, бесконгактносгь, возможмость обработки изделия через тфозрачные среды на расстоянии от фокусирующей оптики 4}. Однако сзгществуюаше в настоящее время лазерные технологические устансвки микрогравировки, например ЭМ-551, не позволяют автоматизировать процесс амплитудной аподизации устройств на АПВ; наведение на место обработки лазерного луча и управлен1Ю им осуществляется оператором. Указаннью установки для автоматизации техпроцесса требуется оснащать датчиком, определяюищм место, обработки. Известны фотоэлектрические датчики линейных перемещений (ДЛП), в том числе со штриховыми измерительными звенья ми. Они позволяют измерять перемещение движущихся объектов с микргашой точностью на расстояниях 1ОО-300 мм (а при необходимости и больще) tS. Однако их применение в установках амплитуш1ой аподизации устройства на АПВ для автоматизации процесса затруднено разбросом положения штырей от заданнь1Х, возникающих в процессе изгоговления прибора.. . Цель изобретения - повышение точноети устройства. Поставленная цель достигается тем, что в установку аподизации устройств на акустических поверхностных волнах, содержащую соосно установленные лазер. диафрагму, оптическую систему, объектив координатный стол с аподизируемым устройством и осветитель, а также привод координатного стола, проекционную систему, индикатор положения устройства, введены последовательно соединенные фотодетектор и блок программного управления, выходы которого связаны с входами привода диафрагмы и привода координатного стола, а в качестве элемента индикатора . положения устройства использована имеющая .штриховую структуру поверхность аподизируемого устройства. На чертеже изображена оптическая схема установки. Схема содержит осветитель 1, конденсатор 2, координатный стол 3, аподизируе мое устройство 4 (фотодатчик), объектив 5, зеркапо 6, оптическую систему 7, диафрагму 8 (затвор), лазер 9, фотодетектор 10, окуляр 12, зеркало 11, блок программного управления 13 и привод коордиватного стола. Зеркала 6 и 11, осветитег I, Конденсатор 2, объектив 5 составляют гшоекционную систему. 794 Излучение лазера 9, огра.п1ченное циафрагмой 8 и сформированное оптической Системой 7, фокусируется объективом 5 на поверхность изцелия 4, установленного на координатном столе 3. Последний осуществляет поступательные перемещения изделия по оси jf . Изделие устанавливается таким образом, чтобы штыри преобразователя (не показаны) были р ас по л ожены всюль оси х. Изображение обрабатываемого участка проецируется с помощью объектива 5 и зеркал 6 и II либо на фотокатод фотодетектора Ю, либо на экран со щельк позади которого установпен фотоприемник (не показан). Таким образом, объектив S используются здесь как для фокусировки лазерного излучения на место обработки, так и для наблюдения за этой зоной с помощью зеркала 6 и окуляра 12. Действительное изображение места обработки здесь используется в ка- честве штрихового измерительного звена датчика положения обрабатываемого изделия Освещение фотошаблона производится осветителем 1 через конденсатор 2 снизу; при обработке готового устройства на АПВ используется боковой подсвет. Электрические сигналы, возникающие в фотодетекторе при.движении изделия к месту обработки, преобразуются в блоке уг равления 13 в команды, послюдовательно вызывающие остановку движения координатного стола по оси у при подходе к месту обработки, смещение стола по оси х в соответствии с законом аподизации, включение лазерного затвора 3, испарение требуемого участка, выключение затвора, включение, движения по оси у. Далее этот цикл повторяется. Информация о величине смещения стола по оси X и размерах зоны обработки вводится в блок управления посредством перфоленты; данные о выборе штыря, подг лежащего обработке, заносятся в память блока 13. Предлагаемая оптическая схема построения технологической установки для амплитудной аподизации устройств на АПВ и фотошаблонов для них экспериментально опробована, на ее основе разработан и изгоTOBjKH действующий макет. Точность наведения лазерного луча на место обработки, не зависяШЧя от истинного положения штыря преобразователя, составила величину около 1 мкм. Формула изобретения Установка аподизации устройств на акустических поверхностных волнах, со 59 цержащая соосно усганюленные лазер. ; оиафрагму, опгичеекую систему, обьектив, коорпивагный стол с а по дизируемым устройством и осветитель, а также привод Координатного стола, проекционную систему, индикатор положения устройства, отличающаяся тем, что, с пелью повышения точности ус ановки, она содержит последовательно соединенные фотодетектор и блок программного управления, выходы которого связаны с входами привода диафрагмы и привода координатного стола, а в качестве индикатора положения устройства использована имеющая штриховую структуру поверхность аподиаируемого устройства, . Источники информаци13, принятые во внимание при экспертизе 1. SEobodmit А.J., Surface Аех)о&tit Waves and SA Wateriaes.-Рго79l edinoj o Ъв JEEE,v.fe4ip. 581-9 5. I.SmiU dtae W.R.Attae ses andf Desinqr oE Dispersive 3titer dierUdC rfdtfe Wdrc Тгс1«9восегс. Ttans WAcrowapBs Tbeonj iec KO MTT-do,/i97i, p. 458-471/ 3. Морозов A. т., ЦрокловВ. В. Станковский В. А,, Чингиз А, AilTotornpoводниковые преобразователи и их: примеиение. М., aHepnM, 1973,. с, 12, 4. Стельмах М. Ф., Тимофеев А; И., Чельный А. А. Лазерная техвояогйя is электронной промышлв ости я электрооная промышленность, 1976,1 выо , 5-10 (тфототип). 5. Мироненко А. В. Фотоэлектрические измерительные системы М., Эвергня l976, с. ЗёО.

Похожие патенты SU930279A1

название год авторы номер документа
Трехканальный фотоэлектрический микроскоп 1971
  • Гаврилкин Анатолий Александрович
SU498591A1
Способ ретуши дефекта и устройство для его осуществления 1991
  • Белокопытов Александр Михайлович
  • Верещагин Игорь Иванович
  • Либенсон Михаил Наумович
  • Чуйко Владимир Анатольевич
  • Шандыбина Галина Дмитриевна
SU1821315A1
Способ фокусировки телескопического объектива и устройство для его осуществления 1990
  • Васильев Александр Семенович
  • Земсков Виктор Васильевич
SU1760423A1
Устройство для определения размеров малых объектов 1987
  • Весельев Виктор Михайлович
  • Лизунов Виктор Дмитриевич
SU1469344A1
ПРИЦЕЛ-ПРИБОР НАВЕДЕНИЯ С ЛАЗЕРНЫМ ДАЛЬНОМЕРОМ 2011
  • Литвяков Сергей Борисович
  • Тареев Анатолий Михайлович
  • Батюшков Валентин Вениаминович
  • Покрышкин Владимир Иванович
  • Синаторов Михаил Петрович
  • Шандора Вадим Викентьевич
  • Мышалов Павел Ильич
RU2464601C1
УСТРОЙСТВО НЕПРЕРЫВНОГО КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ШЕСТИГРАННОГО ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКОГО СТЕРЖНЯ ВО ВРЕМЯ ВЫТЯЖКИ 1992
  • Арефьев А.А.
  • Фотиев Ю.А.
  • Борзов А.Г.
RU2020410C1
Интерференционное устройство для контроля линз 1990
  • Казаков Николай Павлович
  • Крылов Юрий Николаевич
  • Гиргель Сергей Сергеевич
  • Горелый Николай Николаевич
  • Войтенко Игорь Георгиевич
SU1758423A1
Устройство для регистрации дефектов и контроля фотошаблонов 1972
  • Жуковский Эммануил Евсеевич
  • Карасин Александр Самуилович
  • Кисельгоф Илья Львович
  • Яковлева Мария Андреевна
SU481766A1
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ КОНФОКАЛЬНЫЙ МИКРОСКОП (ВАРИАНТЫ) 2014
  • Бессмельцев Виктор Павлович
  • Терентьев Вадим Станиславович
RU2574863C1
Способ лазерной обработки материалов и устройство для его осуществления 1988
  • Вейко Вадим Павлович
  • Костюк Галина Кирилловна
  • Чуйко Владимир Анатольевич
  • Яковлев Евгений Борисович
SU1635017A1

Иллюстрации к изобретению SU 930 279 A1

Реферат патента 1982 года Установка аподизации устройств на акустических поверхностных волнах

Формула изобретения SU 930 279 A1

SU 930 279 A1

Авторы

Иконников Юрий Владимирович

Болотов Евгений Федорович

Даты

1982-05-23Публикация

1979-07-30Подача