Устройство для определения осей у и Z в кристаллических элементах Советский патент 1982 года по МПК H03H3/02 

1

Изобретение относится к пьезотехнике, может быть использовано для определення кристаллографических осей У и Z в кристаллических элементах, совершающих колебания сдвига по толщине.

Известно устройство для определения и регистра оптических и кристаллографических характеристик, состоящее из универсального поворотного стола и поляри- Jp зашюнного микроскопа с регул1фующим устройством, обеспечивающим автоматизацию процесса регистрации

Недостатком, известного устройства jj является невозможность его использования для определения осей У и 2 .

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемому результату является устройство для охцю- 20 деления осей У, к 2. в кристаллических элементах, содсфжащее основание и электроды, взаимно перемещающиеся в вертикальной и горизонтальной плоскостях L2L

Недостатком известного устройства является низкая точность определения осей У и Z.

Цель изобретения -. повышение точности отфеделения осей У и Z.

Данная цель достигается тем, что в устройстве для отфедвления осей У и z в кристаллических элементах, содержащем основание и электроды, взаимно перемещающиеся в вертикальной и горизонтальной плоскостях, электрод выполнен в виде вращающейся вокруг центра элемента полоски с Щ)Ореаью для размет ки.

На чертеже показано 1федлагаемое устройство для О1феделения осей У и z в кристаллических элементах.

Устройство для ощзеделения осей У и Z. в кристаллических элементах содвржвт основание 1 с установленным на нем нйж шм электродом 2, который соединен с одним из выводов 3, верхний электрод 4 с гфорезью 5 для разметки элемента 6, имеющий возможность вращения вокруг