Способ определения диаметра электронного пятна в электролучевых трубках с высокой разрешающей способностью Советский патент 1982 года по МПК H01J9/42 

(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИАМЕТРА ЭЛЕКТРОННОГО

ПЯТНА В ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВЫХ ТРУБКАХ С ВЫСОКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТЬЮ

1

; Изобретение относится к измерени511я параметров эдектроннопучевых трубок (ЭЛТ) с эысокой разрешающей епособ« ностью и ивдикаторньк устройств на их основе.

Известны различные способы анализа апектронного пятна в ЭЛТ| основанные на визуальном Ha6nKAeHHiit например, с помощью оптических инструментов t4

Такие способы обладают низкой тон- ю ностью и дают субьектив1Чгю оценку.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности.является способ опре делення диаметра пятна в ЗЛТ, вкпю чакяпий.фокусировку пятна, сканирование, (5 импульсную модуляцию, преобразование светового изображения в -длё трическиб сигнал, региструемый на осциллографе. По атому способУ анализ пятна производят по увеличенному с помощью обьектн- 20 ва изображению пятна, спроецированного на диафрагму с отверстием, диаметр которого много меньше изображения пятна

t21.

Такой способ хотя и позволяет ой«ективно оценивать диаметр пятна, но для своей реализации требует специальных преобразовательных устройств, которые в свою очередь, вносят дополнительные искажения и снижают точность измерений.

Цепь изобретения - повышение точности измерений.

Указанная цель достигается тем, что в способе определения диаметра пятна в ЭЛТ с высокой разрешающей способностью, включающем фокусировку пятна на экране, покрытом люминофором, сканирование, импульсную модуляцию, преобразование светового изображения в электрический сигнал и измерение времени переходного процесса t , указанное измерение времени переходного процесса tn осуществляют от момента начала возгорания люминофора до момента установления стационарного уровня сигнала, а диаметр пятна сЗ определяют по формуле:

|Где V - скорость сканирования. Способ основан на явлении насьпцения центров свечения люминофора или обратимом утомлении, имеющим место в ЭЛТ с высокой разрешающей способностью и высокой плотностью электронов в пучке. На фиг. 1 показана зависимость напря жения на выходе преобразователя светового изображения (ФЭУ) от времени (импульсная характеристика); на фиг. 2 семейство кривьвс распределения яркости на входе в ФЭУ. В предлагаемом способе осуществляют импульсную модуляцию сканируемого пятна путем подачи прямоугольного импульса катодом и модулятором исследуемой ЭЛТ, что вызывает появление нестационарного процесса насыщения центров свечения (утомления) люминофора. Далее измеряют временньШ интервал tp (фиг. 1) сигнала, просматриваемого с помощью осциллографа, на выходе ФЭУ от момента начала возгорания люминофора до момента установления стационарного уровня сигнала. Скорость сканирования пятна выбирают, как и в случае анализа диафрагмы небольщой. Последнее необходимо для исключения влияния поспе свечения на измеряемый интервал времени tf, . Кроме того, явление насьщ1ения центров св ечениЙ проявляется в большей степени на низкочастотных развертках (1ОО Гц и ниже). Полученное значение tfj , которое представляет время,-; в течение которого пятно проходит расстояние, равное половине диаметра пятна (для 6ош щинства законов распределения в луче), позволяет по известной скорости сканирования определить диаметр пятна по приведенной выще формуле. о В основе появления на импульсной характеристике участка с вре(С1енем t лежат следующие факторы. Каждому моменту времени подсвечивающего импульса (кривая ) соответствует свое положение пятна, что иллюстри руется кривыми 2,3,4,5,6 (фиг. 2). Точки на оси абсцисс X есть неподвиж ные точки люминофора, сканируемые про странственным распределением электронов в пуне. При этом каждая ордината осциллограммы в течении tf, и далее представляет собой для каждого момента времени интеграл распределения яркости в пятне с соответствующими пределами интегрирования (кривые 2,3,4,5, 6 на фиг. 2) Время tf, появляется в результате того, что электронный дуч коммутирует неподвижные точки люминофора все время различными точками своего сечения. При этом только на участке f, происходит изменение интеграла распределения яркости в пятне при его передвижении-(если это передвижение происходит достаточно медленно). Точка перегиба на импульсной характеристике (кривая 1) свидетельствует о появлении точек люминофора, находящихся в одинаковых условиях с точкой лк минофора наиболее утомленной и лежащей на участке нестационарного процесса, а области перегиба от неустановивщегося процесса к установившемуся соответствует время прохождения пятном своего полудиаметра. Для сканирования пятна может быть применена и круговая развёрстка, при этом в расчётной формуле добавляется лишь нормировочный множитель. В целом предлагаемый способ более прост в реализации по сравнению с известным, обладает повышенной точностью, а также может быть использован для измерений в ЭЛТ с волоконно-оптическими экранами. Ф о р м у л а и 3 о б р е т е н и я Способ определения диаметра электронного пятна в электроннолучевых трубках с высокой разрешающей способностью, включающий фокусировку пятна на экране, покрытом люминофором, сканирование, импульсную модуляцию, преобразование светового изображения в электриучёокий/сигнал и измерение времени переходного процесса Ър,о т ли ч аю щ и и с я тем, что, с целью повышения точности, измерение времени переходного процесса tn осуществлякл- от момента возгорания люминофора до момента установления стационарного уровня сигнала, а диаметр пятна д определяют по формуле: где V - скорость сканирования. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Гдалин В.С. Изменение параметров телевизионньк передающих и приемных трубок, М.,Советское радио , 1978, с. 188. 2.Sdndor Л. Effective Spot Size n Beam -ScdnrHnq tubes OSMPTE. I960, 69, № 10 (прототип).

f tz fj ifv i. i i, i, t,i

i

Ю