Способ определения межэлементной неравномерности яркости свечения экрана электронно-лучевой трубки высокого разрешения Советский патент 1993 года по МПК H01J9/00 

Описание патента на изобретение SU1790010A1

Изобретение относится к электронной технике, в частности, к измерениям светотехнических параметров электронно-лучевых трубок высокого разрешения.

Межэлементная неравномерность яркости определяется неоднородностью структуры люминофорного покрытия экрана, соизмеримой с размерами электронного пятна.

Известными способами межэлементная неравномерность яркости измеряется при однострочной развертке сфокусированного на экран электронного пятна, причем светящееся изображение строки преобразуется с помощью фоточувствительного элемента в электрический сигнал, который анализируется с помощью осциллографа. Известные способы позволяют осуществлять проверку электронно-лучевых трубок с люминофорами только короткого послесвечения.

Целью изобретения является расширение области применения за счет получения возможности измерений параметров трубок с люминофорами длительного послесвечения.

Поставленная цель достигается тем, что однострочную развертку электронного пятна осуществляют при подаче на модулятор трубки асинхронных с разверткой строки импульсов подсвета, длительность которых равна времени прохождения пятном одного элемента строки, а при воспроизведении

vj Ю О О

электрического сигнала от исследуемой строки на осциллографе выделяют (высвечивают) только те участки осциллограммы, которые соответствуют максимальной яркости свечения возбужденного пятном элемента строки, для чего подают на осциллограф дополнительные импульсы подсвета, сдвинутые относительно импульсов подсвета трубки на время возгорания люминофора.

На фиг. 1 .показана полная осциллограмма свечения одиночной точки люминофора длительного послесвечения, выделенной из строки импульсом подсвета, где: ti -12 - время возгорания люминофора; t2 - ta - время максимального свечения люминофора, которое должно быть высвечено; ta -14 - время послесвечения люминофора.

На фиг. 2 показана осциллограмма измерения межэлементной неравномерности яркости люминофора длительного послесвечения при реализации способа, где: Умэ размах сигнала помехи, обусловленной межэлементной неравномерностью яркости; Ucp среднее значение размаха полезного сигнала. Пунктиром показан отсеченный на осциллограмме участок

0

5

0

5

электрического сигнала от послесвечения одной точки строки.

На фиг. 3 дана блок-схема установки для реализации способа, где: 1 - блок испытываемой трубки; 2 - генератор развертки строки; 3 - блок фоточувствительного элемента; 4 - осциллограф; 5 - генератор импульсов подсвета с линией задержки.

Испытываемая трубка устанавливается в блок 1, юстируется в отклоняющей системе и фокусируется для достижения заданного размера электронного пятна, после чего включается генератор развертки 2 и устанавливается требуемая длина строки. После этого включаются блок фоточувствительного элемента 3 и осциллограф 4. Затем включается генератор импульсов подсвета 5, который настраивается на длительность импульса в один элемент разложения строки, равный диаметру электронного пятна. Линия задержки генератора 5 настраивается для подачи дополнительных импульсов подсвета на осциллограф сдвинутых на время возгорания примененного в трубке люминофора. Преобразование в электрический сигнал изображение элементов строки воспроизводится на экране осциллографа в виде характеристики, приведенной на фиг. 2.

Похожие патенты SU1790010A1

название год авторы номер документа
Способ измерения светотехнических параметров электронно-лучевых трубок высокого разрешения с люминофорами короткого, до 10 @ с, послесвечения 1990
  • Дужий Теодозий Михайлович
  • Пигрух Владимир Владимирович
  • Резник Модель Иосифович
SU1780123A1
Устройство для измерения частотно-контрастных характеристик электронно-лучевых трубок с длительным послесвечением 1989
  • Вийтович Богдан Иванович
  • Дужий Теодозий Михайлович
  • Парадовский Богдан Петрович
  • Самолюк Олег Алексеевич
  • Стецко Игорь Евгеньевич
SU1817157A1
Устройство для измерения размера пятна электронно-лучевой трубки 1986
  • Грицкив Зенон Дмитриевич
SU1417078A1
ПРОЕКЦИОННАЯ ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВАЯ ТРУБКА 1971
  • И. А. Алексеев, И. Я. Бутлицкий, Т. А. Лковска И. Л. Валик, В. С. Кутузов, Н. Н. Нордстрем, А. М. Тюканов А. Яковлев
SU316133A1
Способ измерения распределения яркости в световом пятне на экране электронно-лучевой трубки 1984
  • Антонец Александр Николаевич
  • Глушенко Василий Николаевич
  • Дереновский Марат Владимирович
  • Дмитрук Виктор Афанасьевич
  • Прус Виктор Андреевич
  • Савченко Сергей Николаевич
SU1275225A1
Способ определения диаметра электронного пятна в электролучевых трубках с высокой разрешающей способностью 1980
  • Резник Модель Иосифович
  • Горелик Самуил Лейбович
  • Вовчик Игорь Иванович
  • Дужий Теодозий Михайлович
SU942185A1
Спектрофотометр с электронной разверткой спектра 1977
  • Афанасьев Евгений Андреевич
  • Могилевский Александр Наумович
  • Славный Виктор Алексеевич
SU735936A1
Устройство защиты от прожога экрана электронно-лучевых трубок 1977
  • Задубовский Игорь Иванович
SU743225A1
Устройство для измерения времени послесвечения люминесцирующих материалов 1940
  • Упатов В.Я.
SU59844A1
Устройство для стабилизации экспозиции светового пятна на экране электронно-лучевой трубки 1981
  • Ушаков Алексей Николаевич
  • Шаршеналиев Жаныбек
  • Бусаргин Владимир Александрович
SU1083408A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 790 010 A1

Реферат патента 1993 года Способ определения межэлементной неравномерности яркости свечения экрана электронно-лучевой трубки высокого разрешения

Назначение: испытание электронно-лучевых трубок. Сущность изобретения: осуществляют однострочную развертку электронного пятна на экране трубки при подаче на модулятор асинхронных с разверткой строки импульсов подсвета с длительностью, равной времени прохождения пятном одного элемента строки. При воспроизведении электрического сигнала на осциллографе подсвечивают участки осциллограммы, соответствующие максимальной яркости свечения возбужденного элемента строки. 3 ил. СО с

Формула изобретения SU 1 790 010 A1

Формула изобретения Способ определения межэлементной неравномерности яркости свечения экрана электронно-лучевой трубки высокого разрешения, включающий однострочную развертку сфокусированного электронного пятна на экране трубки, преобразование светового сигнала от элемента строки в электрический сигнал, воспроизведение и измерение электрического сигнала на экране осциллографа и оценку межэлементной неравномерности яркости, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения за счет трубок с люминофорами длительного

послесвечения, развертку электронного пятна осуществляют при подаче на модулятор трубки асинхронных с разверткой строки импульсов подсвета, длительность которых выбирают равной времени прохождения пятном одного элемента строки, а при воспроизведении электрического сигнала на осциллографе выделяют участки осциллограммы, соответствующие максимальной яркости свечения возбужденного элемента строки подачей на осциллограф дополнительных импульсов подсвета, сдвинутых относительно импульсов подсвета трубки на время возгорания люминофора.

V

Ut

мэ

Фи г. 1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1993 года SU1790010A1

Вишневский В.Н
и др
Измерение межэлементной неравноиерности яркости мелкоструктурных като до люминесцентных экранов, - Электронная техника, Серия 4
Электронно-лучевые и фотоэлектрические приборы
Устройство станционной централизации и блокировочной сигнализации 1915
  • Романовский Я.К.
SU1971A1
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Прибор, автоматически записывающий пройденный путь 1920
  • Зверков Е.В.
SU110A1
Метод измерения межэлементной неравномерности яркости экрана

SU 1 790 010 A1

Авторы

Вийтович Богдан Иванович

Дужий Теодозий Михайлович

Назарчук Юрий Виниаминович

Даты

1993-01-23Публикация

1990-10-08Подача