Способ определения параметров электронно-ионных колец Советский патент 1982 года по МПК G01T1/29 

Описание патента на изобретение SU943623A1

1

Изобретение относится к ускори- тельной технике и предназначено для диагностики процесса накопления ионов в электронном кольце.

В коллективном ускорителе ионов с электронными кольцами накопление ионов происходит за счет ионизации электронным ударом нейтралов, попавших в объем кольца из импульсной газовой струи, или при напуске газа в камеру натеканием. Образовавшиеся ионы удерживаются внутри кольца электрическим полем электронного кольца и ускоряются вместе с ним.

Для настройки ускорителя и обработки результатов физических экспериментов необходимо оперативное измерение числа ионов и их среднего заряда, желательно в каждом цикле ускорителя.

Известны способы измерения числа ионов по выходу вторичных продуктов ядерных реакций 1,р.,по вторичноэлектронной эмиссии СЗ.

Однако они имеют общий недостаток - ионный сгусток гибнет на изме рительном устройстве и не может быть использован для физического эксперимента.

Известен способ измерения числа ионов без разрушения электронно-ионного кольца на основе регистрации тормозного излучения Однако с его помощью невозможно определить заряд ионов, так как сечение излучения слабо зависит от экранировки кулоновского поля иона электронными оболочками.

15 Наиболее близким к предлагаемому является способ определения па; аметров электронно-ионных колец без их разрушения, включающий измерение интенсивности излучения электронно20 ионного кольца и энергетического спектра. Определение полного числа ионов и их среднего заряда без разрушения электронно-ионного кольца производят по характеристическому рентгеновскому излучению. В результате ионизации электронным ударом нейтронов и ионов, находящихся в объеме электронного кольца, возника ет характеристическое рентгеновское излучение. Энергия этого излучения, например КХ-лучей, зависит от конфигурации электронных состояний и тем самым от степени ионизации, энергетические сдвиги в рентгеновских спектрах многозарядных ионов относительно КХ-лучей однократной ионизации дают возможность определе ния степени ионизации. Изменяя интё .сивность КХ-лучей, можно определить число ионов в кольцах 51. . Однако для его реализации требуется дорогостоящий сверхчистый германиевый детектор с предусилителем, импульсной оптической ббратной связью, необходима также защита детектора от фотонейтронов и строгая коллимация для предотвращения перегрузки предусилителя -вспышек при высадке электронов на стенки камеры во время инжекции и сбросе кольца на мишень, что приводит к существенному уменьшению числа реги стрируемых событий и исключает возможность оперативного определения числа ионов и их среднего заряда в каждом цикле ускорителя. Цель изобретения - повышение раз решающей способности измерений и определение среднего значения ионов Поставленная цель достигается тем, что согласно способа определения параметров электронно-ионных колец без их разрушения, включающем измерение интенсивности излучения электронно-ионного кольца и энергетического спектра, регистрируют интенсивность и спектр гамма-лучей, возникающих при обратном комптоновс ком рассеянии характеристического рентгеновского излучения ионов на электронах кольца. Сущность предлагаемого способа заключается в том, что измеряется ин тенсивность и энергетический спектр 7 -излучения, возникающего при стол новекии высокоэнергетических элект-- ронов с фотонами малой энергии КХ-лучами, и по ним определяют полное число ионов в кольцах и их сред него заряда. В результате так называемого обратного комптоновского рассетжя характеристического рентгеновского излучения ионов получаванты с энергией на три поьше энергии рассеиваемых Рассеянные фотоны обладают ной энергией в случае встречкновения электроной с раси фотонами под углом UeCVltl -Ej/Ee энергия рассеиваемых фотонов, масса и энергия электронов . учая регистрации рассеянных телесном угле с раствором нтенсивность рассеянного зависит от j - энергии фопенным образом tj)zcuv-gX j(J-0o)f«-%-cose) длина проьега электронов в направлении; совпадающем с осью детектора (видимая длина); классический радиус электрона; плотность электронов эне(Лия фотонов после рассеяния в шс энергия рассеянных фотонов, регистрируемая и максимальная соответственно;скорость света; угол между направлением движения электронов и рассеиваемых фотонов-, плотность фотонов характеристического излучения) (Ne7S) полное число электронов в кольце; плотность ионов, площадь сечения кольца, сечение ионизации К оболочки иона. вим (3) в (2) и домножим емя измерения и площадь сеьца, получим выражение сивности рассеянного излучения электронно-ионного кольца за время Т : DUp-iC UJ-ehgVujiGCjH) x:(t /2E5o)3 1-cose, где V - объем электронного кольца. Измеряя интенсивность рассеянного излучения по формуле С), легко определить ni-V - полное число ионо в электронном кольце, зная остальные параметры, входящие в формулу, в настоящее время они с помощью различных способов и систем измеряются. Измеряя энергетический спектр рассеянных фотонов и определяя его сдвиг сравнением с рассчитанным по формуле (1), можно определять средний заряд ионов. В качестве примера приведен расч интенсивности рассеянных фотонов и величины сдвига их спектра для известного коллективного ускорителя тяжелых ионов. Например, возьмем накопление ионов ксенона в электронные кольца Для ксенонасечение ионизации К -оболочки имеет значение 6 5- Ю с Параметры колец ускорителя сле.дующие МеЧ-ю, и xo,5--fO Ее -О f N LcNv (E) --1 Мдв С Ек.Х --ЬОКэв) Возьмем для примера время измере ния Т 200 МКС, L 0,1 см и, учитывая изотропность характеристического излучения, по формулой (Ц) получим I(E) si 5- 10 . Интенсивность уменьшается геомет рией измерений и коллимацией в соответствии с мертвым временем ана лизирующей аппаратуры. Для ионов ксенона с зарядом I 30 величина сдвига спектра КХ-лучей равна 200 эв, соответственно для рассеянных j-квантов по формуле получим зн чение сдвига Е 120 кэВ. Эту велич 3 ну можно регистрировать с помощью фотоэлектронного умножителя (ФЭУ). Для работы с приведенными интенсивностями желательно в качестве анали зирующей аппаратуры.использовать АЦП с малым мертвым временем на линии с мини-ЗВМ, что позволяет производить измерение параметров в каждом цикле ускорителя. Аналогичные расчеты для других тяжелых и средних элементов, ускоряемых на коллективном ускорителе тяжелых ионов, показывают пригодность данного способа. Способ диагностики электронноионных колец по обратному комптоновскому рассеянию отличается от способа, основанного на регистрации характеристического рентгеновского из лучения. Формула изобретения Способ определения параметров электронно-ионных колец без их разрушения , включающий измерение интенсивности излучения электронно-ионного кольца и энергетического спектра, отличающийся тем, что, .с целью повышения разрешающей способ-. ности измерений и определения среднего заряда ионов, регистрируют интенсивность и спектр гамма-лучей, возникающих при обратном комптоновском рассеянии Характеристического рентгеновского излучения ионов на электронах кольца. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Векслер В.И. и др. ОИЯИ, Р9-35 0-2, Дубна, 1968. 2.Долбилов Г.В. и др. ОИЯИ, РЭ - 11191, Дубна, 1978. 3.Энгель А. Ионизованные газы, М., 1959, с. 98. k. Инкин В.Ж. и др. ОИЯИ, Р9 129АО, Дубна, 1980. 5. Зиберт Х.У. и др. ОИЯИ, РЭ 9366, Дубна, 1975 (прототип,

Похожие патенты SU943623A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ КОМПТОН-ФЛЮОРЕСЦЕНТНОГО ЭЛЕМЕНТНОГО АНАЛИЗА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2004
  • Радько Валерий Евгеньевич
RU2284028C2
Способ испытаний изделий электронной техники к воздействию тяжелых заряженных частиц космического пространства на основе источника сфокусированного импульсного жесткого фотонного излучения на эффекте обратного комптоновского рассеяния 2020
  • Емельянов Владимир Владимирович
  • Озеров Александр Иванович
  • Ватуев Александр Сергеевич
  • Усеинов Рустэм Галеевич
  • Алексеев Иван Александрович
RU2751455C1
РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО 2001
  • Кульбеда В.Е.
RU2191369C1
СПОСОБ УЛУЧШЕНИЯ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОГО РАЗРЕШЕНИЯ СЦИНТИЛЛЯЦИОННОГО ГАММА-СПЕКТРОМЕТРА 2015
  • Игнатьев Олег Валентинович
  • Белоусов Максим Павлович
  • Морозов Сергей Геннадьевич
  • Горбунов Максим Александрович
RU2593617C1
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ ЛАЗЕРА ГАММА-ИЗЛУЧЕНИЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ, СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ МОЩНОГО КОГЕРЕНТНОГО ЭЛЕКТРОННОГО ПУЧКА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 1997
  • Хидецугу Икегами
RU2143773C1
Способ формирования электронных колец в коллективных ускорителях 1978
  • Барабаш Леонид Сергеевич
  • Белошицкий Павел Федорович
  • Казаринов Николай Юрьевич
  • Перельштейн Элкуно Аврумович
  • Саранцев Владислав Павлович
  • Чалышев Вячеслав Владимирович
SU708545A1
СПОСОБ ГАММА СПЕКТРОМЕТРИИ 2012
  • Портной Александр Юрьевич
  • Павлинский Гелий Вениаминович
  • Горбунов Михаил Сергеевич
  • Сидорова Юлия Ивановна
RU2523081C2
Способ определения глубины диффузионного проникновения радиоактивных атомов в вещество 1989
  • Алпатов Владилен Григорьевич
  • Бизина Галина Евгеньевна
  • Давыдов Андрей Владимирович
  • Карташов Гавриил Романович
  • Садовский Андрей Александрович
SU1589227A1
Способ измерения толщины 1987
  • Недавний Олег Иванович
  • Сидуленко Олег Анатольевич
SU1474461A1
СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СПЕКТРАЛЬНОЙ ДЕКОНВОЛЮЦИИ 2014
  • Шазаль Дамьен
  • Фьоре Массимильяно
RU2665330C2

Реферат патента 1982 года Способ определения параметров электронно-ионных колец

Формула изобретения SU 943 623 A1

SU 943 623 A1

Авторы

Инкин Виктор Дмитриевич

Мозелев Александр Алексеевич

Саранцев Владислав Павлович

Даты

1982-07-15Публикация

1980-12-05Подача