Устройство для измерения ширины линии ферромагнитного резонанса ферритовых пленок Советский патент 1982 года по МПК G01R33/05 

(54) УСТРОЙСТВО ДНЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШИРИНЫ ЛИНИИ ФЕРЮМАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА ФЕРРИТОВЫХ ПЛЕНОК

1

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерению параметров ферритов, и предназначено идя измерения ширины линии ферромагнитного резонанса ( АН) ферритовых пленок.

Известны устройства для измерения ДН, в которых в качестве измерительного устройства используются полые электродинамические системы, а также микрополосковые и полосковые стрелки линии передачи 1 .

Однако для того, чтобы измерит;, пирину линии ферромагнитного резонанса, нужны ферритовые образцы малых размеров (т.е. необходимо разрушить крупные образцы), аля установки образцов в измерительное устройство необходимо изготовление прецизионных устройств, низкая чувствительность устройства не позволяет про изводить измерения тонких ферромагнитных пленок (3-5 мкм), невозможно проведение локальных измерений в различных, областях по площади измеряемой ферритовой пленки,

Пленочные образцьг произвольных размеров позволяет исследовать установка с измерительным устройством в виде двух короткозамкнутых отрезков микрополосковых линий, нанб сенных на диэлектрические подложки.

Устройство состоит из двух закороченных микрополосковых , нанесенных на две диэлектрические подложки с металлизированными торцами; диэлектрические пластины установлены на немаптитном металлическом основании вплотную металлизированными торцами таким образом, чтобы закороченные микрополосковые отрезки находились встьж друг к другу. Связь измерительного устройства со схемой установки осуществляется посредст вом коаксиально-полосковых переходов. Образец в виде ферритовой пленки с помощью прижимного приспособления устанавливается на стыка двух закороченных микрополосковых линий. Подмагничивающее поле с помощью специальной магнитной системы прикладывается перпендикулярно плоскости пленочного образца 2 „Однако сильная зависимость результатов измерений от величины угла приложения поч)5 ,„,„ ,.,-,-., - : :Г;;:;/-::г я.. ночно о oRn.... 0.0....-...- ..--..-.. ..-. ::;,: :;Г::.,,:.,;:;„; ..е отклоиг.пе магшг. 7-Г: :Л-,:,.,„.,Р. ........ог.-. .....,,,.1.о :.пос.... п,. . IV,--.;;,,, „ ..,лг,ч«-пи,, оппбк;j -,pJ.rAn : fnn,n-ono;; л-еч-си на 10-:, , , ,, ,.U. , ,I п 1 , ,(г1Ь п ч- 1 If f г It I 1 п . 1 , vf I j ЧTF 40 J1 Т1 iU 1 I1 т„й нIIi 1 1 ,, г- , S1 ,,, , , , J I тк. ,(, я ,, ,, , Т1 нх ,,.;. магнич :.ваю,1.его 1юля с помощью игунтов 7 ..о.ш.ся и измеряется мшшмаль„мй коэф. - , сигнала на выходе измерительного устройства на резо пэипюк частоте. По измеренной величине вы..исляюг уровень затухания, на котором необуо-тимо тфоизводать измере1тя. Путем изменеиия частоты производится установка вьь чксжшюго уровня затлхашя на двух часто-ах fr и f,. По результатам определения част;п fi и fj вычисляется ДН 1 сследуемого образца по формуле , „ . V 1 1 дц 3 fSpc.n-sovKeuiioe устройство дает возможность повысить точность измepe iий Л1 за счет , пенрзвидыгай установки образца от1;осмтелы 0 )гнс1днего подмагничиваюцего по1,4. не требует j-ромозддих магнитных систем и характеризуется цростотой установки измерясмых образцов. Ф О П м V л а и 3 о б р е т с н и я . Усиойство ;шя измерения цмрины линии (Ье)ромагнитного резонанса ферритовых нлекок, содержащее два короткозамкн тых отрезка .: кро 1олосковой линии, нанесенных на лзе дшлектрические погпожки, установлеьшые вплотную одна к другой своими металлизиро ва1иыми торцами, отличающеес я геч, что, с целью повышения точнос;.м i-JMeiieHtm, в него донолиительно введеi;i,i MocTOMiiHbix магнита, а измерительное у-июнстзо вьлюлнено в виде двух стальных , к каждой из которых прикренлены ..)п:о1:мс11Н лми попгосами два постоягашх магпчт;;, а короткозамкнутые отрезки микропо-. лс. линий размеи1ены между двумя iifjCTOSii iib MH магнитами на одной из стальИЫл tKlLCTHti. Источники ин4|0рмации, ,,(.1ь;. внимание ири эксцертизе U Лкоклев Ю. М и др. Микрокристалльт 01,;:}ри1ов в падио.;лсктронике. М., Советск-ое радио / 1975, с. 269-272. 2, 1)акаленко Ю. И, и др. Измерение ши})ииь лмиик феррсмагнитгюго резонанса феррнтоньгх цленок Fionpoci, специальной радиоэлектроники. Сер ТПО; вьтгь 1, 1978.

V