Датчик для измерения деформаций низкомодульных материалов Советский патент 1982 года по МПК G01B11/16 

(54) ДАТЧИК ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ НИЗКОМОДУЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ Изобретение ошосится к яам рвтельной технике н может нспопьзоваво для исследованяя нащ яженно-деф()мврованвого состояния образцов из нвэкомо пекулярных материалов элементов шин, резаавокордных оболочек, реэвновых яаделий и т.п. Известен датчик для измереявя деформаций материалов, соде ржаошй KOfssyc и чувствительный элемеш, вылспнекный в виде тензорезастора, расположенный на корпусе, который 3aiqpetDraeTc0 на дефорМЕфуемой детали l . Недостатком данного датчика является аевозможность зм&реаав деформаций низкомсщульных иэ-ва диапазона измерений тензодатчиков. Наиболее близким по технической суш иоств и досшгаемому эффекту к предлагаемому является датчик для измерения деформации нвзкомодульных материалов , содержавши корпус, выполненный из эластичнсзго материала, и фоточувствител ный элемент, расположенный на корпусе, устанавливаемом на деформируемой детали вдоль оси измерения деформации 2. Недостатком известного датчика является невозмояшость одновременного измерения деформации в трчке иг /1€|рения в нескольких направлениях, ввиду необходимости перенаклейки датчика в этих направлениях для каждого измерения. Цещ изобретения - одновременное иэM €5ffle деформации в трех направлениях. Указанная цель достигается тем, чго1 в датчике для измерения деформаций ниэкомодульных материалов, содержащем корпус, вьшслненный из эластичного маT jOecana, и фоточувствительный элемент, расположен ш 1Й на корпусе, корпус выполнен в виде круглой пластины, а датчик сиабжея д(И1олнительными фоточувствитепьнымн элементами, установленными на Kcqpnyce относительно друг друга и оси симметрии 1ЮД углом 45®. На фиг. 1 изображен датчик для измерения деформации Ш1зкомодульных

материалов, общий вид| на фиг, 2 - разрез датчика по А-А на фиг. 1| на (Jair. 3 схема измерения деформашш с ломошью датчика,

Датчшс для измерения деформаций низкомодуяьных материалов состоит из эластичного круглого корпуса 1 и фоточувстрЧтельных прямоугольных элементов 2, вьшолненных из селенида кадмия я расположенных на корпусе таким образом, что угол между осями элементов и симметрия датчика равен 45. Датчик посредством выводов 3 соединен с измерительным прибором 4. В резиновой втулке 5 закреилен световод б, другой торец которого соединен с источником

7света.

Датчик для измерения деформаций низкомодульных материалов работает спедуюпдам образом.

Для измерения деформации 1фуглый ютрпус 1 ориентируется осями X, У и Z в нужнсм направлении и приклеивается к детали 8. Вьгаоды 3 присоединяются к измеррггельному прибору 4. Деталь 8 подвергается действию механических сип. При этом деформаиая поверхности детали

8передаётся круглому корпусу 1. Дефор маиия корпуса 1 вызьгоает относительное .щекне фоточувствительных элементов 2. При п емещении последних происходйгг изменение их электрического сопротивления, иаи:еняющегчх;я при освещении их источником 7 света через световод 6. Изменение электрического сопротивления фоточувствитепьных элементов

СЬ

fUMf emfluu

2 регистрируется измерительным прибором 4.

Для измерения дефорлации сжатия датчик приклеивают на предварительно растяжную деталь 8.

Таким образом, датчик для измерения деформагсий низкомодульных материалов позволяет одновременно измерять деформации растюкения и сжатия в нескольких направлениях и проязводить деформазссий в труднодоступных местах.

Формула изобретения

Датчик для измерения деформаций низкомодульных .материалов, содержащий корпус, вьшолненный из эластичного материала, и фоточувствительный элемент, распсэтоженный на корпусе, отличающийся тем, чгго, с целью одновременного измерения деформации в трех направлениях, корпус выполнен в ввде круглой .пластины, а датчик снабжен до, полнитепьными фоточувствитеяьными элементами, установленными на корпусе относительно груг друга и оси симметрии под углом .

Источники информации, щзинятые во внимание при экспертизе

1.Тезаэометрия в маишностроенвя. Под ред, Макарова Р. Д., М., Машиностроение, 1975, с. 7.

2.Патент США Мг 351799&,

ют. НКИ 356 32, 197О (прототип).