Способ измерения чувствительности к отклонению электронно-лучевой трубки Советский патент 1982 года по МПК H01J9/42 

1

Изобретение огносится к радиоизмеригельной технике, а именно к способу измерения парамегроь отклонения ЭЛТ чувстбительносги к отклонению.

Известен способ измерения чувствительности к ОТКЛОНЙ1ИЮ электроннолучевой трубки, заключающийся в измерениях отношения линейного отклонения электронного пуча и вызывающему это отклонение напряжению, подводамому к пластинам J ,о

Недостатком такого способа является относительно низкая точность измерения.

Известен также сдасоб измерения чувствительности отклст1ения ЭЛТ, заключающийся в отклонении электронного и is получении на экране ЭЛТ изображений двух линий развертки или двух яркостных точек (благодаря поочередной подаче на .сигнальнью и временные пластины трубки напряжения развертки и постоянного от- 20 клоняющего напряжения), отстоящих друг от друга на определенную величину, определяемую величиной постоянного отклоняющего напряжения. С помощью линейки или

.шаблона производится измерение расстояния между пвумя линиями или точками и вычисление отношения расстояния мехсоу линиями к значению отклоняющего о посто янного напряжения Г2}.

Недостатками известного способа являются низкая точность и значительные затраты времени на измерение чувствительности.

Целью Изобретения является повышение точности и уменьшение времени измерения,

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу измерения чувствительности к отклонению электроннолучевой трубки, заключающемуся в отклонении электронного луча, формировании на экране изображений линий развертки и определении отношения величины отклонения электронного луча к величине отклоняющего напряжения, изображение линий развертки формируют импульсакти линейной электронной; цифровой развертки, заполняющей рабочую часть экрана, величину отклонения электронного луча определяют 3.беО с помацью масштабной сетки наложенной но рабочую часть экрана, в узловых точнах которой размещены фотооптические микродатчики, а величины отклоняющего напряжения определяют как разность одног именных электрических координат узловых точек масштабной сетки на заданном размере отклонения электронного луча, умноженную на многоанодный коэффициент. На фиг. I показан экран ЭЛТ с наложенной на него масштабной сеткой, в уз-« лов ых точках Которой устансёлены миниатюрные фотооптические микродатчики, светочувствительной сторотой обращенные к экрану ЭЛТ;на фиг. 2 - осциллограммы импульсов, пояснякяцие принцип работы по предлагаемому способу. Способ осуществляется слерукяцим .образом. На рабочее поле экрана ЭЛТ накладывается масштабная сетка с миниатюрными фотооптическими микродатчиками таким об разом, что центр ее совмещается с центром экрана, а горизонтальная и вертикальная оси масштабной сетки располагаются параллельно соответствующимосям экрана Расстояние межсс узловыми точками масштабной сегки по вертикалям и горизонталям выбирается произвольным, но строго постоянным, что обеспечивает жесткую фиксацию геометрических координат центров датчиков как межоу собой, так, например, по отношению к положению микродатчика в левом нижнем углу (фиг. 1). Затем, например, из левого нижнего угла в плоскости экрана разворачивают снизу вверх и слева направо электронный луч в прямоугольный растр на экране труб ки. Такая развертка луча получается в редультате подачи на вертикально отклоняющие и горизонтально отклоняющие пластийы ЭЛТ изменякяцихся по линейному закону ступенчатых напряжений cooTBeifCTвенно строчной UH (фиг. 2а) и кадровой и/2((|иг. 26) разверток. При этом каждое последующее приращение ступенчатого напряжения строчной и кадровой разверток Выбирают так, что между двумя соседними узловыми точками масштабной сетки обеспечивается заданная разрешающая способность. Так, например, если при размере ячейки масштабной сетки lOxlO мм укладывается соответственно 100 или 200 ступеней, то разрешающая способность составляет соответственно О,1 и 0,05 мм. В момент, пересечения электронным лучом узловых точек, соответствующими фотооптическими микродатчиками, формиру- ются импульсы отметки, например б ...4 (фиг. 2в), которые дают команду на ЗР.поминание электрических Koopttwrnt микродатчиков, например UA (фиг. 2г) по оси X и 1/5(Фиг. 2 о) по оси У. Электрические координаты датчиков по осям X и У гфедставляют собой число ступеней (число линий растра) соответственно начала кадровой Ui (фиг. 26) и начала соответствующей строчной ,0 (фяг. 2а) разверток. За время одного кадра цифровой развертки запоминаются электрические координаты всех узловых точек масштабной сетки. При определении чувствительности на любом участке экрана ЭДТ вычисляется разность, одноименных электрических Координат узловых точек масштабной сетки (линий растра), расположенных на Граниие этого участка соответственно в направлении оси X или У , преобразуется в напряжение отклонения электронно луча путем умножения на известный постоянный масштабный коэффициент напряжения и вычисляется значение чувствительности отклшения как отношение ра:стояния между УЗЛОВЫМИ точками к напряжению отклшения электронного пуча. Коэффициент напряжения К развертки по X и У отгределяется выражением К - , где и и и - соответственно величина напряжения и число ступеней развертки. Предлагаемый способ измерения чувствительности к отклонению ЭЛТ позволяет повысить точность измерения чувствительности отклонения, сократить времегшые затраты, обеспечить автоматизацию процесса измерения, существенно улучшить условия работы оператора. Он может найти применение на предприятияхизготовителях ЭЛТ, а также на предприятиях, использующих ЭЛТ в системах точных измерений параметров объектов. Формула .изобретения Способ измерения чувствительности к отклонению электроннолучевой трубки, заключакзщийся в отклонении электронного пуча, формировании на экране изображений линий развертки и определении отношения величины отклонения электронного луча к величине отклоняющего напряжения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и уменьшения времени измерения, изображение линий развертки формируют импульсами тоней. ной электронной цифровой развертки, заполняющей рабочую часть экрана, величину отклотения эпектронного луча опреоеляют с помощью масштабной сетки, наложенной на рабочую часть экрана, 6 узловых точках которой размещены фотооптические микроаатчики, а величину отклоняющего напряжения опрецеляют как разность ооноименных электрических коораинаг узловых точек масштабной сетки на заоанном размере отклонения электронного луча, умноженную на масштабный коэффициент. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Коганов И. Л. Промышленная электр ник,а. М., Госэыергоиздат,-1961 с. 371-373. 2, Трубки электроннолучевые оспиллографические. Метооы измерения осйовных параметров. ГОСТ . 4-74 (прототип).