Способ измерения геометрических искажений растра электронно-лучевой трубки Советский патент 1982 года по МПК H01J9/42 

Описание патента на изобретение SU960999A1

и вертикально отклоняющих напряжений, определении максимального и минимального значения величин, характеризукмчих геометрические размеры линий развертки с помощью масшта ной сетки 2, Недостатками известного способа являются также относительно низкая точность и экспрессность. Целью изобретения является повышение точности и уменьшение времени измерения. Указанная цель.достигается тем, что согласно способу .измерения геомет|эических искажений растра ЭЛТ-, заключающемуся в развертке электрон ного луча по рабочей части экрана под действием горизонтально и вертикально отклоняющих напряжений, определении максимального и минимального значения величин; характеризующих геометрические размеры линий развертки с помощью шаблона, геометрические размеры линий развертки определяют путем измерения максимальных и минимальных значений разности одноименных электрических координат фотооптических микродатчиков, установленных по периметру шаблона симметрично по горизонталям и вертикалям. На фиг. 1 показан искаженный рас на экране ЭЛТ; на фиг. 2 - экран ЭЛ с наложенной на его рабочую поверхность прямоугольной маской с фотооп тическими . микродатчиками (показаны точками), расположенными симметрично по сторонам прямоугольной маски , на фиг. 3 осциллограммы напряжени поясняющие сущность способа. Способ осуществляется следующим образом. На рабочую поверхность экрана ЭЛ накладывается прямоугольная маска с миниатюрными фотооптическими микродатчиками (фиг. 2), расположенными симметрично по сторонам пр ямоугольника маски. Центр указанной маски совпадает с ueHtpoM экрана, а ее го ризонтальная и вертикальная оси сим метрии располагаются параллельно со ответствующим осям плоскости экрана трубки. Число микродатчиков на каждой стороне прямоугольной маски определяется размерами рабочей поверх ности экрана и конкретными требованиями к данному типу ЭЛТ. Затем , например, из левого нижнего угла плоскости экрана (фиг. 2) 4 разворачивают снизу вверх и слева направо электронный луч а прямоугольный растр благодаря подаче на вертикально и горизонтально отклоняющие пластины трубки изменяющихся по линейному закону ступенчатых напряжений соответственно строчной U (фиг. За) и кадровой и2(фиг. 36) разверток. При этом каждое последующее приращение ступенчатого напряжения строчной IJ и кадровой и. развертоквыбирают так, что между двумя соседними микродатчиками, расположенными на одной стороне маски, обеспечивается заданная разрешающая способность (точность измерения). Так, например, если на расстоянии между микродатчиками 10 мм укладывается 100 или 200 ступеней отклоняющего напряжения, то разрешающая способность составляет соответственно . 0,1 и 0,05 мм. Ввиду геометрических искажений в ЭЛТ прямоугольный растр на экране трубки наблюдается искаженным. Амплитуды отклоняющих напряжений строчной Uyf (фиг. За) и кадровой и2(фиг. Зб) разверток ЭЛТ выбираются так, что растр на экране трубки полностью перекрывает площадь прямоугольной маски. в момент времени t. пересечения электронным лучом микродатчика, например (фиг. 2 ), последний формирует импульс отметки U (фиг. Зв), который обеспечивает разрешение на запоминание электрических координат (кодов) кв кродаТчика и и.(фиг.3г) и (фиг. Зд). 4 Коды электрических координат и Dog по осям X и У представляют собой числа ступеней (число линий растра соответственно кадровой U и (фиг. За) (фиг. Зб) и строчной разверток, отсчитанное соответственно относительно .начала кадровой развертки U« и начала соотт ветствующей строчной развертки Ц. За время одного кадра цифровой развертки Т формируются и запоминаются коды X и У всех микродатчиков. Затем вычисляем разности одноименных электрических координат микродатчиков ajj, а, а,...,а (.фиг. 2), расположенных по вертикалям , ,.. .ap-2g и микродатчиков б, ... а -1 и микродатчиков а ...ЕО и ,,.,Wg (фиг. 2), расположенных по горизонталям , ,.. . После чего определяем максимальное п и минимальное п. значения разности электрических координат (цисла ступеней) между указанными микродатчиками и производим вычисления геометрических искажений по формуле r-d. Учитывая то, что величина напряжения отклонения электронного луча Ц«сясс и,ц прямо пропорциональна через масштабный коэффициент К числ ступеней, т.е. коду электрических координат, а величина отклоняющего напряжения (U. и U) по вертикали и горизонтали прямо пропорциональна через коэффициент S (Sy- чувствительность по оси У, S х по оси X) величине преемещения а и b электрон ного луча, можно сделать вывод, что выражения (1) и (2) тождественно равны ...,. КЧг-Кин - U vaкc-Uлли - ,, - „ a/e-b|5 g-to Ofb . Характерным отличием предлагаемого cTioco6a является фиксирование точных размеров развертки электронного луча (размеров растра) в преде лах рабочей части экрана с помощью прямоугольной маски с миниатюрными фотооптическими- микродатчиками, установленными имметрично по обеим сторонам прямоугольной маски, и последующим измерением амплитуд отклоняющих напряжений, обеспечивающих заданный размер растра. Предлагаемый способ позволяет ав томатизировать процесс измерения ге метрических искажений ЭЛТ, что спо. 9 собствует повышению быстродействия, i увеличению точности измерения, улучшению условий труда оператора. Способ измерения геометрических искажений растров ЭЛТ может найти широкое применение при измерениях и контроле указанного параметра отклонения ЭЛТ на заводах - изготовителях ЭЛТ, а также при разработке высокоточной измерительной аппаратуры на основе ЭЛТ. Формула изобретения Способ измерения Геометрических искажений растра электроннолучевой трубки, заключающийся в развертке электронного луча по рабочей части экрана под действием горизонтально и вертикально отклоняющих напряжений , определении максимального и минимального значения величин, характеризующих геометрические размеры линий развертки с помощью шаблона отличающийся тем, что, с целью повышения точности и уменьшения времени измерения, геометрические размеры линий развертки определяют путем измерения максимальных и минимальных значений разности одноименных электрических-координат фотооптических микродатчиков, установленных по периметру шаблона симметрично по горизонталям и вертикалям. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Миллер В.А. и др. Приемные электроннолучевые трубки. М., Энергия, 1971 с. 258. 2.Гдалин B.C. Измерение параметров телевизионных передающих и приемных трубок. М., Советское радио, 1978, с. 237-2 (прототип).

Похожие патенты SU960999A1

название год авторы номер документа
Способ измерения геометрических искажений растра электронно-лучевой трубки 1986
  • Гозман Ефим Аврамович
SU1490725A1
Способ измерения чувствительности к отклонению электронно-лучевой трубки 1980
  • Чайковский Александр Семенович
  • Третяк Виктор Иванович
SU960998A1
Способ измерения нелинейности отклонения электронного луча электронно-лучевой трубки 1980
  • Чайковский Александр Семенович
  • Третяк Виктор Иванович
SU960997A1
Способ измерения нелинейности отклонения электронного луча электронно-лучевой трубки 1987
  • Бородюк Олег Александрович
  • Иосевич Роман Григорьевич
  • Татарин Василий Ярославович
  • Шкляр Виктор Львович
SU1624559A1
Устройство для измерения параметров электронно-лучевых трубок 1980
  • Малышев Владимир Леонидович
  • Матюхин Валентин Александрович
  • Третяк Виктор Иванович
  • Чайковский Александр Семенович
SU945920A1
Способ измерения разрешающей способности электронно-лучевой трубки 1983
  • Третяк Виктор Иванович
SU1589331A1
Устройство для отображения информации на экране электронно-лучевой трубки 1982
  • Жилин Владимир Александрович
  • Карелин Владимир Александрович
  • Клюкин Андрей Анатольевич
  • Колодный Иосиф Давыдович
  • Шарыбин Игорь Дмитриевич
SU1023388A1
Способ измерения геометрических искажений телевизионного растра 1987
  • Татарин Василий Ярославович
SU1753620A1
Устройство для отображения информации на экране электронно-лучевой трубки (элт) 1975
  • Надеенский Леонид Алексеевич
  • Прибылов Валерий Ефимович
SU596983A1
Однотрубочная стереотелевизионная камера 1983
  • Некрасов Владимир Владимирович
SU1107344A1

Иллюстрации к изобретению SU 960 999 A1

Реферат патента 1982 года Способ измерения геометрических искажений растра электронно-лучевой трубки

Формула изобретения SU 960 999 A1

о

фаг.г

/1

/

8

(J,

Un

0s

фие.д

SU 960 999 A1

Авторы

Чайковский Александр Семенович

Третяк Виктор Иванович

Даты

1982-09-23Публикация

1980-05-28Подача