Интерферометр для линейных измерений Советский патент 1982 года по МПК G01B9/02 

Описание патента на изобретение SU962762A1

( ИНТЕРФЕРОМЕТР для ЛИНЕЙНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ

Похожие патенты SU962762A1

название год авторы номер документа
Интерференционный компаратор для измерения плоско-параллельных концевых мер длины 1975
  • Ефремов Юрий Павлович
  • Свердличенко Виктор Данилович
SU767508A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ 1997
  • Долгих Г.И.
  • Корень И.А.
RU2146354C1
Фотоэлектрическая автоколлимационная насадка 1972
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Усов Вадим Сергеевич
  • Торочков Владислав Юрьевич
  • Делюнов Николай Федорович
  • Кращин Михаил Дмитриевич
  • Смин Александр Брониславович
SU451039A1
ДВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 2002
  • Лукин А.В.
RU2209389C1
ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКИЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ДАВЛЕНИЯ 1999
  • Долгих Г.И.
  • Батюшин Г.Н.
RU2159925C1
Способ определения профиля шероховатости поверхности изделия и устройство для его осуществления 1988
  • Ангельский Олег Вячеславович
  • Максимяк Петр Петрович
SU1610260A1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП С КОМПЕНСАТОРОМ ОПТИЧЕСКОЙ РАЗНИЦЫ ХОДА 2023
  • Игнатьев Павел Сергеевич
  • Правдивцев Андрей Витальевич
  • Дедкова Нина Дмитриевна
RU2813230C1
Стабилизированный интерферометр 1986
  • Воронцов Михаил Алексеевич
  • Думаревский Юрий Дмитриевич
  • Колобков Владимир Сергеевич
  • Малов Александр Николаевич
  • Наумов Александр Федорович
  • Шмальгаузен Виктор Иванович
SU1404811A1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП 2013
  • Вишняков Геннадий Николаевич
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Латушко Михаил Иванович
RU2527316C1
Устройство для определения положения изображения объекта 1974
  • Леонец Владимир Адамович
  • Петров Вячеслав Васильевич
SU515934A1

Иллюстрации к изобретению SU 962 762 A1

Реферат патента 1982 года Интерферометр для линейных измерений

Формула изобретения SU 962 762 A1

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для линейных измерений, в частности для измерений ступенчатых мер толщин покрытий.

Известен интерферометр повышенной чувствительности, поляризационный по схеме Дайсона, содержащий источник света, поляризатор, призму Волластона, объектив, установочную JQ базу, четвертьволновую фазовую пластину, компенсатор, анализатор (призма Глана-Фуко) и фоточувствительное устройство 1 .

Недостаток интерферометра состо- 15 ит в недостаточной устойчивости интерференции обыкновенного и необыкновейнрго лучей, высоких требованиях к стабильности взаимного положения объектива и призмы Волластона, необ-iао ходимости использования настроечной ,глоскости для исключения исходной разности хода лучей, применении слож(ых оптических элементов: призкы

Волластона, Глана-Фуко, сложного объектива, четвертьволновой фазовой пластины.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является ин- терферометр для линейных кзмерений, содержащий источник света, разделительную пластину, делящую световой поток на две ветви, диафрагму и установочную базу, расположенные в одной из ветвей, измерительный пьезокерамический элемент с опорным зеркалом, расположенный в другой ветви, и фоточувствительное устройство с фазовым детектором.

Изм ительный пьезокерамимеский элемент обеспечивает модуляцию опорного зеркала и отраженного светового потока гармоническими колебаниями под действием прилегаемого к нему от генератора синусоидального напряжения и измерительное компенсационное смещение от действия пocтoяннoй составляющей прилагаемого напряжения по идентификации фазовым детектором фоточувствительного устройства центра интерференционной полосы С 2. Недостатком интерферометра является высокая чувствительность к внеш ним паразитным вибрациям, в результате чего элементы интерферометра со стойкой конечной жесткости смещаются спонтанно, чем существенно снижается точность выполняемых измерений. Цель изобретения - повышение точности измерения. .. Поставленная цель достигается тем что интерферометр для линейных измерений снабжен компенсационным пьезокерамическим элементом с дополнитель ным опорным зеркалом, вторым фоточувствительным устройством с фазовым детектором и блоком обратной связи, один конец компенсационного пьезокерамического элемента закреплен на стойке, а другой жестко связан с измерительным пьезокерамическим эле- ментом, дополнительное опорное зерка ло оптически связано с установочной базой и вторым фоточувствительным устройством. На чертеже изображена принципиальная схема интерферометра для линейных измерений. Интерферометр содержит источник 1 света, разделительную пластину 2, делящую световой поток на две ветви диафрагму 3 и установочную базу k, расположенные в одной из ветвей, измерительный пьезокерамический элемент 5 с опорным зеркалом 6, установленный на 7 и компенсационный пьезокерамический элемент 8 с дополнительным опорнь1м зеркалом 9 расположенные в другой ветви, первое фоточувствительное устройство 10 с фазовым детектором t1, второе фоточувствительное устройство 12 с фазовым детектором 13 и блоком 1 обратной связи. Разделительная пластина 2 связана оптически с фоточувствительным устро ством 10 и переключаемой диафрагмой 3. Измерительный пьезокеракмческий элемент 5 связан электрически с фазо вь1м детектором 11 центра интерференционной полосы на фоточувствительном устройстве 10 и ЭВМ 15 -а механически - через соединительную. муФ ту 16 с дополнителы м, модулируемым напряжениемпитания от генератора 17, и через блок 1 обратной связи по детектированию центра интерференционной полосы на втором фоточувствительном устройстве 12 компенсационным пьезокерамическим элементом 8, на котором закреплено дополнительное опорное зеркало 9 связанное оптически через разделительную пластину 2 с указанным фоточувствительным устройством 12 и одной из поверхностей объекта 18 измерения или установочной базы . Муфта 16 может быть выполнена в виде разрезног) стакана, обеспечивающего за счет упругой деформации юстировки параллельности основного 6 и дополнительного 9 опорных зеркал. Интерферометр работает следующим образом. Работа интерферометра основана на компенсационном по внешним возмущениям модулировании напряжения на пьезокерамическом элементе 8 через блок k обратной связи с обеспечением смещения дополнительного опорного зеркала 9 автоматического наведения на второе фоточувствительное устройство 12 центра интерференционной полосы, образованной отражением световых лучей от опорного зеркала Э и одной из поверхностей объекта 18 измерения, либо установочной базы . В результате обеспечивается отстройка от внешних возмущений положения интерференционной картины на первом фоточувствительном устройстве 10, образованной световыми потоками, отраженными от опорного зеркала 6 и от точек поверхности измеряемого объекта 18, соответствующих положению переключаемой диафрагмы 3. При этом измерительное напряжение, соответствующее измеряемой ступени (измеряемому расстоянию между поверхностями объекта 18 измерения), на измерительном пьезокерамическом элементе 5 воспринимается ЭВМ 15 и рарно разности напряжений при детектировании центра интерференционной полосы первым фоточувствительнымустройством 10 и фазовым детектором 11 при положениях переключаемой диафрагмы 3 адекватных последовательному интерферометрированию поверхностей объекта 18 измерения. Вследствие разделения функций компенсации внешних возмущений и измерительного перемещения опорного зеркала 9 обеспечивается повышение на

SU 962 762 A1

Авторы

Цейтлин Яков Михайлович

Бржезинский Владислав Мечиславович

Добрего Валентин Владиславович

Шишигин Алексей Алексеевич

Даты

1982-09-30Публикация

1981-03-25Подача