Интерферометр Советский патент 1982 года по МПК G01J3/26 

1( 54 ИНТЕРФЕРОМЕТР

Изобретение относится к спектраль ному приборостроению и касается многолучевых интерференционных спектральных приборов.

Известны многолучевые сканирующие интерферометры Фабри - Перо, представляющие собой параллелограммные.направляющие, состоящие из двух связанных плоскими пружинами плит, несущих пару полупрозрачных зеркал, одно из которых может перемещаться относительно другого 1.

Недостатком интерферометров является ограниченность свободной от переналожения соседних порядков дисперсной области и необходимость высокой дополнительной монохроматизации анализируемого излучения.

Наиболее близким техническим решением к изобретению является интерферометр, содержащий систему по крайней мере их трех пластин с полупрозрачными покрытиями, расположенных последовательно по ходу светового пучка 12.

Недостатком известного устройства являются ограниченные функциональные возможности.

Целью изобретения является расширение функциональных возможностей интерферометра за счет осуществ ления сканирования.

Поставленная цель достигается

с тем, что в интерферометре, содержащем систему по крайней мере из трех пластин с полупрозрачными покрытиями, расположенных последовательно по ходу светового пучка,

п Средние пластины выполнены в виде клиньев с нанесенными с обеих сторон полупрозрачными покрытиями и установлены на подвижной плите с воз.можностью поперечного по отношению к световому пучку перемещения

5 относительно неподвижных боковых пластин, установленных на неподвижной плите.

На чертеже представлена схема интерферометра.

20

Интерферометр состоит из подвижной 1 и неподвижной 2 плит, связанных плоскими пружинаг-т 3, усиленными в средней части накладками, и расположенного вдоль линии, проходящей через центры плоских пружин, перемещающего узла 4, выполненного, например, в виде прецизионной пары винт-гайка. На плитах в юстируемых оправах установлены неподяижныо боковые пластины 5 и 7 и ,я п.плс:тина 6, обращенные друг к другу поверхности которых имеют полупрозрач ные покрытия. Средняя пластина б изготовлена в виде клина и установлена на подвижной плите 1. Устройство может содержать и более трех пластин с Полупрозрачными покрытия ми, причем возможна установка и пар ных пластин. Толщины рабочих промежутков между отражающими поверхностями устанавливаются кратными и таними, чтобы ширина спектрального ин тервала, пропускаемого предыдущими пластинами, не превышала свободной дисперсионной области последующих. Устройство работает следующим об разом. Под действием перемещающего узла 4 происходит передвижение подвиж ной плиты 1 и средней пластины 6. При этом из-за ее клиновидности изм няются толщины рабочих промежутков между неподвижными боковыми пластинами 5 и 7 и средней пластиной 6 и осуществляется сканирование спектра Согласованность изменений толщин обоих рабочих промежутков достигается благодаря тому, что тангенсы углов наклона отражающих поверхностей пластин к направлению перемещения пропорциональны порядкам спектра в промежутках. Действующая клиновидность средней пластины 6 может изменяться ориентацией ребра клина относительно направления пере мещения путем вращения средней плас тины б относительно оси светового пучка. Высокая светосила и неплохое раз решение интерферометра обуславливаю его большую ценность для исследований в инфракрасной области спектра, где используются источники малой яркости и тепловые приемники невысокой чувствительности. Большим достоинством интерферометра является компактность, уменьшение количества пластин на два промежутка и потерь света. Благодаря осуществлению сканирования спектра предложенный интерферометр решает задачу создания универсальных светосильных интерференционных спектрометров. Формула изобретения Интерферометр, содерясащий систему по крайней мере из трех пластин с полупрозрачными покрытиями, расположенных последовательно по ходу светового пучка, отличающийс я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, эа счет осуществления сканирования средние пластины выполнены в виде клиньев с нанесенными с обеих сторон полупрозрачными покрытиями и установлены на подвижной плите с возможностью поперечного по отношению к световому пучку перемещения относительно неподвижных боковых пластин, установленных на неподвижной плите. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР 554472, кл. G 01 J 3/26, 1975. 2.Королев Ф.А. Спектроскопия высокой разрешающей силы. М., ГИТЛ, 1953, с. 122.