Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов Советский патент 1982 года по МПК G01R31/26 

Описание патента на изобретение SU980025A1

( УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОТБРАКОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ

ПРИБОРОВ

Похожие патенты SU980025A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения параметров полупроводниковых приборов 1980
  • Пецюх Евгений Андреевич
SU991336A1
Устройство для классификации полупроводниковых приборов по величине и стабильности обратных токов 1973
  • Тарвид Петр Петрович
  • Шаронов Анатолий Петрович
SU446851A1
Устройство для контроля электрических параметров полупроводниковых диодов 1983
  • Муртазин Аухат Муртазинович
  • Габов Владимир Иванович
  • Карасев Валерий Павлович
SU1138768A1
Устройство для измерения тепловых потерь в вентильных полупроводниковых приборах 1989
  • Новосельцев Александр Викторович
  • Верлань Андрей Анатольевич
  • Заболотный Анатолий Петрович
SU1775677A1
ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ПАРАЗИТНЫХ ИМПУЛЬСНЫХ ВОЗМУЩЕНИЙ В СЕТЯХ ЭЛЕКТРОПИТАНИЯ С ПЕРЕМЕННЫМ НАПРЯЖЕНИЕМ 2002
  • Хорольский В.Я.
  • Ершов А.Б.
  • Сапронов С.В.
  • Шемякин В.Н.
  • Липовой С.А.
  • Тимофеенко А.М.
  • Галилов Р.П.
RU2239201C2
Устройство для измерения коэффициента электротермической нелинейности 1980
  • Еникеев Наиль Рашитович
  • Омелин Владимир Клавдиевич
  • Родин Юрий Павлович
  • Рудь Виктор Васильевич
  • Федоровский Владимир Федорович
SU868514A1
Устройство для контроля полупроводниковых приборов 1980
  • Хомич Виктор Иванович
  • Пыж Михаил Васильевич
  • Староверов Николай Викторович
  • Колобутин Ромуальд Иванович
SU892362A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОСТРОЕНИЯ РИТМОГРАММЫ СЕРДЦА 1991
  • Жемайтите Дангуоле Иономария[Lt]
  • Миронов Владимир Александрович[Ru]
  • Варонецкас Гедрюс Адольфо[Lt]
  • Закарявичус Линас[Lt]
  • Кепеженас Альгис[Lt]
  • Миронова Татьяна Феофановна[Ru]
RU2069531C1
УСТАНОВКА ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КЛАССА СИЛОВЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ 2022
  • Веревкин Владимир Викторович
  • Костусяк Виктор Семенович
  • Ставцев Александр Валерьевич
RU2787974C1
Устройство для контроля параметров полупроводниковых приборов 1991
  • Малецкий Владимир Иванович
SU1810848A1

Иллюстрации к изобретению SU 980 025 A1

Реферат патента 1982 года Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов

Формула изобретения SU 980 025 A1

1

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при контроле качества полупроводниковых приборов.

Известно устройство для разбраковки полупроводниковых приборов по нестабильности обратных токов, содержащее датчик-преобразователь, схемы .сравнения, реле времени, схему коммутации и индикации,1 .

Недостатком устройства является невозможность отбраковывания потенциально ненадежных полупроводниковых приборов.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является устройство для отбраковки полупр.оводниковых приборов, содержащее блок преобразования обратного тока, реле времени, соединенное с первым входом ключа, выход которого соединен с неинвертирующим входом операционного усилителя, выход которого через

фильтр низких частот соединен с первой схемой сравнения, блок опорных напряжений, выходы которого соединены с входами первой и второй схем сравнения, выходы которых соединены с первым и вторым входами блока индикации, третий вход которого соединен с реле времени, схему управления, выход которой соединен с входом

,Q реле времени, и элемент памяти . 2J.

Устройство не позволяет за период наблюдений отбраковывать приборы, обладающие длительным монотонным дрейфом обратного тока, который мо,5 жет привести к отказу прибора при эксплуатации его на интервале времени, превышающем период наблюдения. Кроме того, в схеме не предусмотрено устройство защиты при превышении тока до окончания периода наблюдения .заданного уровня, что может привести к повреждению испытуемого прибора из-за явления теплового саморазогрй ва.

Цель изобретения - достоверность контроля.

Поставленная цель достигается тем, что в устройство, содержащее блок преобразования обратного тока, реле времени, соединенное с первым входом ключа, выход которого соединен с неинвертирующим входом операционного усилителя, выход которого через фильтр низких частот соединен с первой схемой сравнения, блок опорных напряжений, выходы которого соединены с входами первой и второй схем сравнения, выходы которых соединены с первым и вторым входами блока индикации, третий вход которого соединен с реле времени, схему управления, выход которой соединен с входом реле времени, и элемент памяти, введен решающий блок, выход которого соединен с четвертым входом блока индикации, первый вход - с выходом фильтра низких частот, второ вход соединен с выходом элемента памяти и инвертирующим входом операционного усилителя, причем вход элемента памяти соединен с входом второ схемы сравнения и выходом ключа,второй вход которого соединен с выходом блока преобразования обратного тока, при этом первый вход схемы управления соединен с выходом реле времени, второй - с выходом второй схемы сравнения, а выход схемы управления соединен с входом блока преобразования обратного тока.

На уертеже изображена блок-схема устройства.

Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов содержит блок преобразования обратного тока, в .который входят источник 1 питания, подключенный к клеммам испытуемого прибора 2, преобразователь 3 обратного тока испытуемого прибора в напряжение, операционный усилитель , citeMy 5 управления, реле 6 времени, ключ 7, элемент 8 памяти, фильтр 9 низких частот, первую и вторую схемы 10 и 11 сравнения, блок 12 опорных напряжений, блок 13 индикации, решающий блок 1,

Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов работает следующим образом.

По сигналу Пуск, поступающему на схему 5 управления происходит включение источника 1 питания, находящегося в блоке преобразования

обратного тока. На испытуемый прибор подается испытательное напряжение. На выходе преобразователя 3 формируется напряжение, пропорциональное току через испытуемый прибор 2. С некоторой задержкой на время окончания переходных процессов сигнал со схемы 5 управления через реле 6 времени открывает ключ 7. На неинвертирующий вход операционного усилителя А поступает сигнал, пропорциональный текущему значению тока через испытуемый прибор, а на инвертирующий постоянное напряжение, пропорциональное начальному значению тока через испытуемый прибор, запомненное элементом В памяти. Вторая схема 11 сравнения осуществляет сравнение текущего значения тока, а первая

-(10)- его приращения с величинами допустимых уровней, формируемых блоком 12 опорных напряжений. Низкочастотный фильтр 9 служит для исключения флуктуационной составляющей. Если за время наблюдения,определяемое реле 6 времени, текущее значение тока превысит установленную норму, то сигнал с выхода схемы 11 сравнения через схему 5 управления отключает напряжение с испытуемого прибора, а блок 13 индикации выдает сигнал Брак. Сигнал Брак выдается также по сигналу окончания интервала наблюдения с реле 6

5 времени, если на интервале наблюдения срабатывает схема 10 сравнения. Одновременно информация о начальном значении и приращении обратного тока анализируется решающим блоком и в зависимости от выходного решения

испытуемый прибор бракуется или признается годным, о чем сигнализирует блок 13 индикации. Правило,позволяющее классифицировать приборы по ресурсным показателям на годные и потенциально надежные, находится на основании предварительных испытаний статистически представительной партии приборов с последующей обработкой результатов методами теории распознавания образов. I

В результате того, что вход второй схемы сравнения подключен не непосредственно к выходу датчика тока, а к выходу ключа, управляемого через реле времени, исключена составляющая погрешности, обусловленная переходными процессами в момент подачи

напряжения на испытуемый прибор, а также ложные срабатывания второй схемы сравнения,и следовательно, необоснованное бракование испытуемого прибора. Подключение выхода второй схемы сравнения к входу схемы управления позволяет исключить разрушение испытуемого прибора во время контроля. Наличие решающего блока позволяет осуществлять отбраковку потенциально ненадежных образцов по результатам наблюдений временно1 1 нестабильности обратного тока за сравнительно небольшой интервал времени.

Формула изобретения

Устройство для отбраковки полупроводниковых приборов, содержащее блок преобразования обратного тока, реле времени, соединенное с первым входом ключа, выход которого соединен с неинвертирующим входом операционного усилителя, выход которого через фильтр низких частот соединен с первой схемой сравнения, блок опорных напряжений, выходы которого соединены с входами первой и второй схем сравнения, выходы которых соединены с первым и вторым входами блока индикации, третий вход которого соединен с реле времени, схему управления, выход которой соединен с входом реле времени, и элемент памяти, отличающееся тем, что,с целью повышения достоверности контроля, в него введен решающий блок, выход которого соединен с четвертым входом блока индикации, первы вход - с выходом фильтра низких частот, второй вход - с выходом элемент памяти и инвертирующим входом операционного усилителя, причем вход элемента памяти соединен с входом второй схемы сравнения и выходом ключа, второй вход которого соединен

. с выходом блока преобразования обратного тока, при этом первый вход схемы управления соединен с выходом реле времени, второй - с выходом второй схемы сравнения, а выход схемы управления соединен с входом блока преобразования обратного тока.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Авторское свидетельство СССР

№ 397859, кл. G 01 R 31/26, 25.01.72.

2.Авторское свидетельство СССР

№ 4 16851, кл. G 01 R 31/26, 01.08.73 (прототип).

SU 980 025 A1

Авторы

Бардин Вадим Михайлович

Бартанов Александр Борисович

Барнашов Владимир Александрович

Даты

1982-12-07Публикация

1981-06-19Подача