Анализатор функций плотности распределения Советский патент 1982 года по МПК G06G7/52 

(54) АНАЛИЗАТОР ФУНКЦИЙ ПЛОТНСЮТИ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ

1

Изобретение относится к вычислительной технике, предназначено для опредепетния функций распределения и плотности распределения вероятностей случайных процессов и может быть использовано для статистического анализа случайных процессов в радиотехнике, в системах автоматического управления, в вычислительной технике, при распознавании сигналов.

Известен анализатор функций плотноети распределения, содержащий масштабное устройство, подключенное к горизонтальноотклоняющим пластинам электронно- лучевой трубки (ЭЛТ) типа Политрон, блок управления характеристикой, соединетшый с функциональными пластинами ЭЛТ, и интегратор, подключенный к анодам ЭЛТ

W

Однако это устройство имеет невысокое быстродействие, так как для опреде- 20 ления функции плотности распределения необходимо исследуемый сигнал многократно пропустить через Попитрон, переключая при этом разность потенциалов с одной пары функциональных пластин на другую.

Наиболее близким к предлагаемому является анализатор функций плотности распределения, содерокащий ЭЛТ TlQjnrrрон, функциональные пластины которой соединены с выходами интеграторов, входы которых подкпючень к выходам первой и второй групп дискриминаторов, а входы дискриминаторов подключены к выходам первого и второго блоков выпрямления, к горизонтально-отклоняющим пластинам ЭЛТ подключен генератор пилообразного напряжения, а с анодами ЭЛТ соединены входь блока нагрузки 2 .

Это устройство также имеет невысокое быстродействие иэ-за многократного преобразования исследуемого сигнала на блоках вьтрямления и дискриминаторах.

Целью изобретения является повышение быстродействия устройства.

Поставленная цель достигается тем, что в анализатор функций плотности рас398предвпения, содеркащий первую электронно-лучевую трубку, горизонтально-отклоняющие пластины которой соединены с выходом Генератора пилообразного напряжения, а функциональные пластины - с выходами интеграторов, дополнительно введены группа электронно- тсучевых трубок, блок управления и пифференцируюнгай блок, причем горизонтально-отклоняющие пластинь электронн(тучевых тргубок груп - „ пы соединены между собой и являются входом анализатора, а функциональные пластины соединены с выходами блока управления соответственно, коллекторы электронно- лучев х трубок подключены к

входам интеграторов соответственно, а коллекторы первой электронно-лучевой трубки подключены к входам дифференци-t рукидего блока, выход KOTOjporo является выходом анализатора.

Кроме того, блок управления содержит группу потенциометров, одни выводы которых подключены к шине нулевого по тенхшала, а другие соединены с шиной , регулируемого напряжения, а подвижные спаренные, контакты потенциометров являются выходами блока. На чертеже изображена блок-схема предлагаемого устройства. Устройство состоит из первой электрон но-лучевой трубки nonrHTpoH. 1, горизонтально-отклоняющие пластины которой подключены к выходу генератора пилообразного напряжения 2, коллекторы к входам дифференцирующего блока 3, выход которого является выходом анализатора, а функциональные пластины соединены с выходами интеграторов 4 ..., 4,. входы которых подключены к коллекторам дополнительной грутшь электронно-лучевы трубок 5 , .... ТГолитрон. Число интеграторов и дополнительных политронов соответствует числу пар функциональных пластин первого политрона. Гсризонтально отклоняющие пластины дополнительных политронов объединены обшей шиной и подключены к входу анализатора, а функциональные пластины соединены с выходами блока 6 управления.. Блок 6 состоит из спаренных потенцио метров 7, один вывод которых подключен к щине нулевого потенциала, а другой соединен с шиной регулируемого нёпряжекия. Подвижные контакты спаренных потенциометров устанавливаются в симметричное относительно уровня |2.(где напряжение на функциональных плас шнах), что позволяет форялировать на

политрона.

Если с помощью потенциометров блока управления 6 сформи ювать потенциальный рельеф на функциональных пластинах погштронов 5 ,....,5 таким образом, чтобы напряжение (J на первой паре функциональных пластин политрона 5 было противоположно по знаку напряжениям на всех остальных парах этого политрона, напряже64функциональных пластинах попитронов 5,5 потенциальный рельеф, определяющий признак - функцию кпассифшшруемого сигнала. Устройство работает следующим образом. Исследуемый сигнал К (-fc ) подается на горизонтально-отклоняющие пластины полктронов 5 ,....,, при этом электронный луч каждого из политронов отклоняет. горизонтальной плоскости пропорционально мгновенному значению сигнала Х( fc ). В каждый момент времени электронный луч находится в области одной из пар функциональных пластин каждого ние U на второй паре функциональных пластин попитрона 5 противоположно по знаку напряжениям на всех остальньк парах политрона 5 и т.д., до десятой ;пары тпщиональных пластин попитрона наКоторой напряжение 0,j также противоположно по знаку напряжениям на всех остальных парах функциональных пластин попитрона 5 , причем напряжения DV , tL. U,fj равны по вепичине и одного знака, то с коллекторов политронов 5,...., за перЕЕОд анализа Т сигт нала )t{ Ь ), снимается последовательность импульсов, пропорциональных времени пребывания сигнала у ( -t ) в области функциональных пластин с напряжением и и Ujfy последовательность импульсов интегрируется на блоках 4,... и за период анализа Т на выходах блоков 4 накапливаются напряжения, отображающие ординаты гистограммы функции распределения. Сигнал для счтывания результата, длительность которого выбирается равной периоду анализа Т , поступает с генератора пилообразного напряжвяия 2 на горизонтапьно-отклоняклцие пластины пояитрона 1, пря этом на выходеблока 3 формируется огибающая функции плотности распределения исследуемого сигнала )С (i). Таким образом, предлагаемое устройство имеет более высокое .быстродействие, чем

известные, решающие аналогичную задачу, так как для определения функшйг плотности распределения исследуемый сигнал обрабатывается одновременно на всех попитронах 5. ,....,5, и не требуется его многократного пропускания через полвггрон.

Формула изобр

е т е н и я

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

2.Авторское свидетельство СССР NO 499568, кл. СгОбО 7/52, 1974 (прототип).