Анализатор функций плотности распределения Советский патент 1983 года по МПК G06G7/52 

Описание патента на изобретение SU987638A1

(54) АНАЛИЗАТОР ФУНКЦИЙ ПЛОТНОСТИ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ Изобретение относится к вычислительной технике и предназначено для определения функ ций распределения и плотности распределения вероятностей ординат случайных процессов и может быть использовано для статистического анализа- случайных процессов в радиотехнике, в системах автоматического управления, в вычислительной технике, п{ж распознаванни сигналов. Известен анализатор функций плотности распределения, содержащий масштабное устройство, подключенное к горизонтально отклоняющим пластинам электроннолучевой трубки (ЭЛТ типа Попитрон, блок управления характеристикой, соединенный с функциональными пластинами -ЭЛТ, и интегратор, подключенный к анодам ЭЛТ Щ. Недостаток j устройства заключается в том, что точность анализа функций плотности распределения зависит от. частоты сигнала, так как наведенный ток при одной и.той же форме сиг нала изменяется в зависимости от его частоты. Наиболее близким к предлагаемому является анализатор функций плотности распределения содержащий ЭЛТ типа Политрон, функщюнапьные пластины которой соединены с выходами интеграторов, входы которых подключены к. выходам первой и второй групп дискримиватород, а входы дискриминаторов подкпю чены к выходам пе{яюго л второго блоков выпрямления. К горизонтально отклоняюишм; -пластинам ЭЛТ/ подключен генератор пилообразного ншряжения, а с анодами ЭЛТ соединены входы блока нагрузки 2. Известное устройство имеет погрешность анализа функщш шютности распределения, . (порядка 30%) из-за преобразования нсслеруе- , мого сигнала на блоках; выпрямления и дискриминаторах. Цель изобретения - повышение точностн работы. Поставленная цель достигается тем, что анализатор функций плотности распределения, содержащий первую электроннолучевую трубку, гвризонтально отклоняющие пластины которой . соединены с выходом генератора пилообразного напряжения, а функциональные пластины - с выходами соответствующих интеграторов, со398держит вторую электроннолучевую трубку, ком мутатрры, блок синхронизации и дифференциааьные усилители, при этом горизонтально отклоняюише готастины второй электроннолучевой трубки являются входом анализатора, а ее функциональные пластины соединены соответч ственно с выходами первого коммутатора, управляющий вход которого соединен с первым выходом блока синхронизации, второй выход которого соединен с первым управляющим входом второго коммутатора, выходы которого подключены соответственно к входам интеграторов, а второй управляющий вход - к выход первого дафференциального усилителя, входы которого соединены с коллекторами второй электроннолучевой трубки, а коллекторы первой ачектрошюлучевой трубки соединены с входами второго дифференциального усилителя, выход которого является выходом анализатора На чертеже изображена структурная схема предлагаемого анализатора, Анализатор функций плотности распределения состоит из первой 1 электрюннолучевой трубки типа Политрон, горизонтально отклоняющие пластины которой подключены к выходу генератора 2 пилообразного напряжения, кол лекторы - к входам дифференциального усилителя 3, выход которого является выходом анализатора, а функциональные пластины соединены с выходами интеграторов 4, входы которых подключены к выходам коммутатора 5„ Число интеграторов соответствует числу пар функийюнальных пластин первого политрона, Входом анализатора являются горизонтально отклоняющие пластины второй 6 электроннолучевой трубки типа Политрон, функциональные пластины которой подключены к выходам коммутатора 7, вход которого соединен с первым выходом блока 8 синхронизации, второй выход которого соединен с первым входом коммутатора 5, второй вход котгорого подключен к выходу дифференциального усилителя 9, входы которого соединены с коллекторами ЭЛТ 6. Блок 8 синхронизации состоит из генератора 10 импульсов, соединенного с входом коммута тора 7 и .через линию И задержки - с первым входом коммутатора 5, Устройство работает следующим образом. Исследуемый сигнал X (t) подается на горизонтально Отклоняющие пластины ЭЛТ 6, при этом электронный луч отклоняется в горизонтальной плоскости пропорционально мгновенному значению сигнала X (t), В каждый момент времени электронный луч находится в области одной из пар функциональных пластин иолитрона. Если с помощью коммутатора 7 задавать .в каждом такте коммутации потенциальный рельеф на функциональных пластинах ЭЛТ (политрона) 6 таким образом, чтобы на одной из них напряжение U,- (где i 1,2,..,,10номер пары функциональной пластины) было противоположно по знаку напряжени на всех остальных парах U,, Uj , . , , , Ujt ,,,,Uio; то с выхода усилителя 9 за период анализа Т сигнала X (t) будет сниматься последователь,-, ность импульсов, пропорциональных времени пребьтания сигнала X(t) в области функциональных пластин с напряжением U,-, Эта последовательность импульсов в соответствующих тактах коммутатора 5 интегрируется одним из интеграторов 4, номер которого совпадает с номером пары функциональных пластин политрона 6, на которой задано напряжение U,-, Переключение коммутаторов 5 и 7 осуществляется по командам, поступающим с блока 8 следующим образом. Первый TakTOBbm импульс с выхода генератора 10 тактовых импульсов поступает на вход коммутатора 7 и осуществляет подключение к первой паре функциональных пластин ЭЛТ политрона 6 напряжение U, равное по величине, но противоположное по знаку напряжениям на остальных парах функциональных пластин. Этот же импульс через линию 11 задержки поступает на первыйвход коммутатора 5 и под1слючает первую пару функциональных пластин ЭЛТ политрона 1 к соответствующему интегратору 4, Задержка импульса осуществляется на время, необходимое для поступления сигнала с выхода усилителя 9, на второй вход коммутатора 5, Аналогичным образом, второй импульс генератора 10 тактовых импульсов подключает вторые пары функциональных пластин ЭЛТ - политронов 6 и 1. Таким образом, за период анализа Т на выходах интеграторов 4, т, е, на соответствующих им функциональных пластинах ЭЛТ политрона 1,накапг ливаются напряжения, отображающие ординаты гистограммы функции распределения. Сигнал для считывания результата,. д 1ительность которого выбирается равной периоду анализа Т, поступает с генератора 2 пилообразного напряжения на горизонтально отклоняющие пластины ЭЛТ-политрона 1, при этом, на выходе усилителя 3 формируется огибающая функции плотности распределения исследуемого сиграла X(t), Таким образом, предлагаемое устройство имеет пргреашость анализа функции плотности распределения равной 3%, т, е, меньще, чем известное, благодаря замене даскриминаторов и блоков выпрямления одним элементом - злектрдннолучевой трубкой Политрон, которая выполняет функцию управляемого дискриминатора. Кроме того, такая замена позволяет существенно упростить настройку всего устройства в целом и не требует перестройки с одного вида сигнала на другой. Формула лзобретения Анализатор функций плотности распределения, содержащий первую алрктроннолучевую трубку, горизонтально отклоняющие пластины которой соединены с выходом генератора пило- 5 образного напряжения, а функциональные пластины - с выходами соответствующих интеграторов, отличающийся тем, чю, с цельк) повыщения точности, он содержит вторую электроннолучевую трубку, коммутаторы, блок (жнхронизащш и дифференциальные усили- тели, при этом горизонтально отклоняющие пластины второй электроннолучевой трубки являются входом анализатора, а ее функциональные пластины соединены соответственно 15 с выходами первого коммутатора, управляющий вход которого соединен с первым выходом nn 9876

6 блока сйнхрош зац|ш,второй выход которого соединен с первым управляющим входом второго коммутатора, выхоли которого подключены соответственно к входам шггеграторов, а второй управляющий вход - к выходу : первого дифференциалыюго усилителя, входы которого соединены с коллекторами второй электроннолучевой труйси а коллекторы первой зпектрониолучевой тру&си соединены с входами второго щсфференциального усилителя, выход которого является выходом анализатора. Источники информащш, принятые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР Vf 367427, кл. G 06 G 7/52, 1970. 2.Авторское свидетельство СССР № 499568, кл. G 06 G 7/52, 1973 (прототип). nim ЛЛАЛ

Похожие патенты SU987638A1

название год авторы номер документа
Устройство для классификации случайных процессов 1980
  • Любич Виктор Александрович
  • Гуткин Владимир Ильич
  • Кибальченко Анатолий Григорьевич
SU963001A1
Анализатор функций плотности распределения 1978
  • Боброва Людмила Владимировна
  • Зеликман Марк Аронович
  • Киселев Николай Васильевич
SU752354A2
Устройство для классификации случайных процессов 1984
  • Гуткин Владимир Ильич
  • Кибальченко Анатолий Григорьевич
SU1251121A1
Анализатор функций плотности распределения 1989
  • Гладков Евгений Юрьевич
SU1693603A1
Анализатор функций плотности распределения 1981
  • Кибальченко Анатолий Григорьевич
  • Любич Виктор Александрович
  • Гуткин Владимир Ильич
SU982026A1
Анализатор функций плотностиРАСпРЕдЕлЕНия 1979
  • Буланов Юрий Васильевич
  • Герчикова Галина Викторовна
  • Карш Игорь Николаевич
  • Киселев Николай Васильевич
  • Шестаков Михаил Васильевич
  • Щипцов Валерий Васильевич
SU813470A1
Устройство для распознавания сигналов 1983
  • Буланов Юрий Васильевич
  • Киселев Николай Васильевич
  • Шестаков Михаил Васильевич
  • Щипцов Валерий Васильевич
SU1101853A1
Устройство для определения плотности распределения вероятностей случайных процессов 1981
  • Блохин Анатолий Васильевич
SU963002A1
Управляемый вероятностный преобразователь 1979
  • Кроль Марина Арнольдовна
  • Боброва Людмила Владимировна
  • Киселев Николай Васильевич
  • Юргенсон Дмитрий Романович
SU868771A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАСПОЗНАВАНИЯ ИНФОРМАЦИИ 1991
  • Алиев Р.М.
  • Гаджи-Заде Д.Ю.-И.
  • Мамедов Р.К.
RU2031444C1

Иллюстрации к изобретению SU 987 638 A1

Реферат патента 1983 года Анализатор функций плотности распределения

Формула изобретения SU 987 638 A1

SU 987 638 A1

Авторы

Кибальченко Анатолий Григорьевич

Любич Виктор Александрович

Гуткин Владимир Ильич

Даты

1983-01-07Публикация

1981-05-11Подача