(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОТБРАКОВКИ МОЩНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ
| название | год | авторы | номер документа |
|---|---|---|---|
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ ЛОКАЛИЗАЦИИ ТОКА В МОЩНЫХ ВЧ И СВЧ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРАХ | 2013 |
|
RU2537519C1 |
| Устройство для измерения теплового сопротивления транзисторов | 1981 |
|
SU1020789A1 |
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ ЛОКАЛИЗАЦИИ ТОКА В МОЩНЫХ ВЧ И СВЧ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРАХ | 2015 |
|
RU2616871C1 |
| Устройство для измерения неравномерности коэффициента передачи тока транзисторов | 1980 |
|
SU949555A1 |
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ТРАНЗИСТОРОВ | 2000 |
|
RU2185634C1 |
| Устройство для разбраковки транзисторов по статическому коэффициенту передачи тока | 1983 |
|
SU1138767A1 |
| Устройство для измерения коэффициента усиления по току транзисторов | 1980 |
|
SU943612A1 |
| Устройство для отбраковки мощных транзисторов | 1985 |
|
SU1247796A1 |
| ВПТБ | 1973 |
|
SU389475A1 |
| Измеритель модуля коэффициента передачи тока транзисторов в импульсном режиме | 1975 |
|
SU558231A1 |
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля качества изготовления мощных транзисторов и отбраковки потенциальноненадежных приборов.
Известно устройство для выявления транзисторов с горячими пятнами, содержащее источник коллекторного напряжения, стабилизатор эмнттерного тока и инфракрасный г-икрорадиометр Cl.
Недостатками указанного устройст-: за являются его низкая производительность, большая-стоимость и сложность настройки И;К микроскопа и неприменимость для полностью готовых приборов.
Наиболее близким техническим решением к изобретению является: устройство для контроля качества и отбраковки мощных транзисторов с . горячими пятнами,, содержащее стабилизатор эмиттерного тока, источник линейно нарастающего коллекторного напряжения и осциллограф-Г2.
Недостатком устройства является его низкая эффективность из-за низкой точности определения напряжения на коллекторе, при котором происхо. дит образование горячего пятна
Целью изобретения яэляется повышение точности измерения и быстродействия устройства.
Поставленная цель достигается тем, что в устройство для отбраковки мощных транзисторов, содержащее клем1.у для подключения коллектора испытуемого транзистора, соединенную с выходом генератора линейно
10 нарастающего напряжения, клемму для подключения эмиттера испытуемого транзистора, соединенную с выходом стабилизатора тока, и клемму для подключения базы испытуемого тран15зистора, соединенную с общей шиной, введены дифференцирующая цепь, блок формирования импульсов и вольтметр, которые последовательно соединены, вход дифференцирующей цепи подключен
20 к выходу стабилизатора тока, а измерительный вход вольтметра соединен с клеммой для подключения коллектора испытуемого т ранзистора.
На чертеже представлена структур25ная схема предлагаемого устройства.,
Устройство содержит генератор 1 линейно нарастаиощего напряжения, стабилизатор 2 тока, дифференцирующую цепь 3, блок 4 формирования им30пульсов, вольтметр 5, работающий в
