СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СВЕТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОСИТАЛЛОВ Российский патент 1994 года по МПК G01N27/60 

Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к способам контроля параметров при изготовлении фотоситаллов, и может быть использовано для изготовления элементов интегральной и градиентной оптики.

Известен способ определения параметров стекол по электросопротивлению в процессе их ситаллизации [1] .

Однако данный способ позволяет осуществить контроль и управление только в процессе отжига стекла. В процессе облучения этот метод не дает информацию, так как во время облучения не образуется кристаллическая фаза.

Наиболее близким по технической сущности к заявляемому способу определения параметров является Метод определения светочувствительных характеристик исходных стекол для получения фотоситалла.

В данном способе образец получают, подвергают термообработке и определяют параметры по непосредственному измерению зависимости коэффициента поглощения от длины волны и экспериментальным микрофотометрированием проявляемого изображения [2] .

Данный метод невозможно применить в процессе облучения образца и последующей термообработки. Кроме того, этот метод сложен, не дает достаточной точности и невозможен для получения образцов с заранее заданными параметрами.

Целью изобретения является повышение точности и упрощение способа определения параметров.

Цель достигается тем, что в процессе облучения и термообработки измеряют электрический заряд на поверхности образца, а искомые характеристики определяют по предварительно полученным калибровочным зависимостям.

Сущность изобретения заключается в следующем.

При облучении светочувствительного стекла в ультрафиолетовом свете число образуемых центров кристаллизации определяется временем экспозиции.

Экспериментально была выявлена зависимость величины электрического заряда облученной поверхности образца от времени экспозиции. В процессе термообработки в облученном образце образуется кристаллическая фаза.

Экспериментально была выявлена зависимость величины электрического заряда облученной поверхности от температуры и времени кристаллизации.

Способ осуществляется с помощью устройств, изображенных схематично на фиг. 1 и 2, где показаны образец 1 измерительная камера 2, электропечь 3, электрометр 4, самописец 5, оптическая щелочь 6, ртутная лампа 7.

Реализация способа происходит в двухстадийной технологической обработке: облучение образца в ультрафиолетовом свете с последующим термическим отжигом.

На первой стадии на образец 1 устанавливается металлический электрод и производится непрерывное измерение заряда поверхности. При достижении расчетного значения заряда процесс облучения прерывается. На второй стадии образец 1, находящийся в экранированной металлической камере 2 с электродом на поверхности помещают в электронагревательную печь 3. В процессе непрерывного измерения заряда поверхности определяют момент начала кристаллизации и время, за которое концентрация кристаллической фазы достигает расчетного значения. После этого процесс отжига прекращается.

Назначение: изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к способам контроля параметров при изготовлении фотоситаллов. Сущность изобретения: способ включает облучение образца ультрафиолетовым излучением с последующей термообработкой. В процессе облучения и термообработки измеряют электрический заряд на поверхности образца. Искомые характеристики определяют по предварительно полученным калибровочным зависимостям. 2 ил.

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СВЕТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОСИТАЛЛОВ, включающий облучение образца ультрафиолетовым излучением с последующей термообработкой образца и определение искомых характеристик, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, в процессе облучения и термообработки измеряют электрический заряд на поверхности образца, а искомые характеристики определяют по предварительно полученным калибровочным зависимостям.