СПОСОБ КОНТРОЛЯ ВЕЛИЧИНЫ ЧЕТВЕРТЬВОЛНОВОГО НАПРЯЖЕНИЯ В ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКИХ КРИСТАЛЛАХ Российский патент 1997 года по МПК G02F1/03 

Описание патента на изобретение RU2080639C1

Изобретение относится к измерительной физике и предназначено для контроля величины управляющего напряжения в электрооптических кристаллах (ЭОК). Такие кристаллы входят, в частности в состав анализаторов поляризации и дефлекторов света, и находят широкое применение в различных областях науки и техники, например в астрофизике, где они используются в поляриметрах и в магнитографах. Обычно использование ЭОК основано на применении продольного электрооптического эффекта Поккельса.

Известно несколько способов контроля четвертьволнового [1] и полуволнового [2, 3] напряжений, применяемых для случая постоянного [2] или знакопеременного [1, 3] напряжений. Однако этим способом присущи такие недостатки, как малая точность измерений и (или) сложность практической реализации.

Наиболее близким к изобретению по сущности используемых принципов является способ [4] контроля четвертьволнового напряжения, при котором перед ЭОК, на который подается знакопеременное напряжение, устанавливается один поляризатор (Р), а позади другой поляризатор-анализатор (А), причем направление пропускания последнего составляет с наведенными осями кристалла угол в 45o. Основным параметром является отношение K максимальных интенсивностей света, прошедшего такую систему, при окрещенных и параллельных поляризаторах Р и A. Измерения K выполняются в достаточно широком диапазоне значений напряжения U, далее по измеренным значениям строится график зависимости K от U и отыскивается точка, в которой производная δA/δU равна единице. Значение напряжения в этой точке и принимается за четвертьволновое.

Недостатком метода является необходимость значительных затрат наблюдательного времени, сложность и многоэтапность процедуры наблюдений и неоперативность обработки, что в конечном итоге делает его малоприемлимым для практического применения. Кроме того, в устройстве, используемом для реализации способа-прототипа, отсутствует возможность контроля зависимости напряжения от температуры, что чрезвычайно важно с практической точки зрения.

Целью изобретения является повышение точности контроля четвертьволнового напряжения, ускорение процесса измерений и упрощение процедуры обработки.

На фиг. 1 показано устройство, реализующее предлагаемый способ. Устройство содержит поляризатор P, входную щель спектрографа 2, термодатчик 3, электрооптический кристалл 4, на который подается знакопеременное напряжение прямоугольной формы (меандр), поляризатор-анализатор 5, автоколлимационную линзу 6, дифракционную решетку 7, плоское зеркало 8, фотоприемник 9, электронно-измерительную аппаратуру 10, аналоговый регистратор 11, компьютер 12, модуль опроса и управления напряжением 13, цифровой индикатор 14.

Для объяснения средств, с помощью которых на описанном устройстве достигается указанная цель, обратимся к формуле (1), определяющей интенсивность света после прохождения системы "поляризатор электрооптический кристалл (фазовая пластинка) анализатор":

где:
I0 интенсивность света после прохождения первого поляризатора; β угол между направлениями пропусканий поляризаторов; a угол между направлением пропускания P и одной из осей ЭОК; d величина фазовой задержки в кристалле между о- и е-лучами, которая, в свою очередь, выражается формулой:
d = (2πГU/λ), (2)
в которой Г эффективная электрооптическая постоянная, U приложенное к кристаллу напряжение; λ длина волны света, в которой производятся наблюдения.

При ориентации осей ЭОК под углом 45o к направлению пропускания анализатора А (что имеет место для устройства на фиг. 1 и для большинства других случаев) и при точно четвертьволновом напряжении, из формулы (1) вытекают два важных следствия. Первое при положении P, соосном с A, интенсивность света при включенном напряжении составляет ровно половину интенсивности, регистрируемой при выключенном напряжении (δ = 0) Второе - интенсивность света при работающем кристалле не зависит от ориентации поляризатора P. Эти свойства и были положены в основу предлагаемого способа.

Практически способ реализуется следующим образом.

В пучок света перед входной щелью спектрографа соосно с A устанавливают поляризатор P и при отключенном напряжении на самописце 11 или в цифровом виде на экране компьютера 12 регистрируют соответствующее значение интенсивности I'. Затем включает напряжение и варьируют его таким образом, чтобы регистрируемая интенсивность света I1 составляла ровно половину I'. На цифровом индикаторе 14 с помощью модуля 13 фиксируют соответствующее значение напряжения U1. Затем поляризатор P поворачивают в положение, ортогональное с A, подбором напряжения вновь устанавливают уровень интенсивности, равный I1 и снимают значение напряжения U2. Окончательно за четвертьволновое напряжение принимают значение U3=(U1+U2)/2. Отличие U1 и U2, которое в идеале должно полностью отсутствовать, обычно очень невелико и составляет 3 - 5% процедура измерений в двух положениях поляризатора P минимизирует влияние различных методических эффектов и возможных ошибок измерений. Весь процесс градуировки ЭОК занимает всего несколько минут наблюдательного времени и отличается высокой точностью.

На фиг. 2 показаны результаты исследования зависимости четвертьволнового напряжения кристалла DKDP от температуры. Уравнение линейной регрессии, проведенной по экспериментальным точкам, имеет вид:

Выполненные по нашим данным (для T 20oC) расчеты величины полного электрооптического коэффициента дают значение 23,3•10-12 м/в. Результаты измерений других авторов, которые можно найти, например в монографии [3] дают значения в диапазоне от 20•10-12 м/в до 27•10-12 м/в, что соответствует разнице четвертьволновых напряжений в 500 Вт. Отличие данных обусловлено, по-видимому, главным образом различной степенью дейтерирования используемых образцов кристаллов и применением различных методик измерений.

Воспользуемся формулами (1) и (3) для определения точности рассматриваемого метода. Расчеты показывают, что при отличии реального напряжения в кристалле от точно четвертьволнового всего на 10% (например, если для T 20oC вместо необходимых 1648 Вт установлено 1484 вольта), это приведет к изменению интенсивности света (Imax/Imin) при вращении поляризатора на 32% Точность даже визуального контроля вариаций интенсивности составляет не менее одного процента (в цифровом виде как минимум на порядок выше), что означает, что величина напряжения может быть выставлена с точностью не хуже пол-процента.

Похожие патенты RU2080639C1

название год авторы номер документа
СПОСОБ КОМПЕНСАЦИИ ТЕМПЕРАТУРНОГО СМЕЩЕНИЯ ПОЛОСЫ ФИЛЬТРА 1997
  • Домышев Г.Н.
  • Кушталь Г.И.
  • Садохин В.П.
  • Скоморовский В.И.
RU2118800C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕННОСТИ МАГНИТНОГО ПОЛЯ САМОСВЕТЯЩИХСЯ ОБЪЕКТОВ 2000
  • Кобанов Н.И.
RU2178899C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОЙ ЛУЧЕВОЙ СКОРОСТИ В СОЛНЕЧНОЙ АТМОСФЕРЕ 2000
  • Кобанов Н.И.
RU2171452C1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ 1996
  • Скоморовский В.И.
RU2107903C1
СПОСОБ КАЛИБРОВКИ ИЗМЕРЕНИЙ НАПРЯЖЕННОСТИ МАГНИТНОГО ПОЛЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1996
  • Григорьев В.М.
  • Скоморовский В.И.
RU2112936C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕННЫХ ВАРИАЦИЙ ПОТЕМНЕНИЯ К ЛИМБУ СОЛНЦА 1997
  • Кобанов Н.И.
  • Григорьев В.М.
RU2124186C1
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ МАГНИТОГРАММ СОЛНЕЧНОЙ ПОВЕРХНОСТИ 2004
  • Кобанов Николай Илларионович
  • Григорьев Виктор Михайлович
  • Колобов Дмитрий Юрьевич
RU2280880C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ НАБЛЮДЕНИЯ СОЛНЕЧНОЙ КОРОНЫ 2001
  • Бородин А.Н.
RU2226707C2
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ КОРРЕЛЯЦИОННОГО ОТКЛИКА МНОГОАНТЕННОЙ РЕШЕТКИ 1996
  • Лесовой С.В.
  • Тресков Т.А.
RU2125328C1
СПОСОБ КОМПЕНСАЦИИ ТЕМПЕРАТУРНОГО СМЕЩЕНИЯ ПОЛОСЫ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННО-ПОЛЯРИЗАЦИОННОГО ФИЛЬТРА 2013
  • Скоморовский Валерий Иосифович
  • Кушталь Галина Ивановна
  • Мамченко Михаил Степанович
  • Прошин Владимир Александрович
  • Химич Валерий Анатольевич
RU2539113C2

Иллюстрации к изобретению RU 2 080 639 C1

Реферат патента 1997 года СПОСОБ КОНТРОЛЯ ВЕЛИЧИНЫ ЧЕТВЕРТЬВОЛНОВОГО НАПРЯЖЕНИЯ В ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКИХ КРИСТАЛЛАХ

Использование: изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля величины управляющего напряжения в электрооптических кристаллах (ЭОК), входящих в состав анализаторов поляризации и дефлекторов света. Сущность изобретения: свет пропускают через два поляризатора, один из которых устанавливают впереди ЭОК по ходу пучка света, а второй, поляризатор-анализатор, позади, причем направление пропускания последнего составляет 45o с наведенными при подаче на ЭОК знакопеременного напряжения осями, спектрограф и направляют в фотоприемник, регистрируют интенсивность света, производят управление ЭОК и измеряют значения напряжения и температуры в процессе наблюдений. При этом подбирают такое значение управляющего напряжения, разного для разных температур, при котором интенсивность света, регистрируемая при соосном положении поляризатора и анализатора и включенном напряжении, составляет ровно половину от интенсивности при отключенном напряжении, и при котором вариации интенсивности света при вращении перед ЭОК поляризатора минимальны или полностью отсутствуют. 2 ил.

Формула изобретения RU 2 080 639 C1

Способ контроля величины четвертьволнового напряжения в электрооптических кристаллах, в котором свет пропускают через последовательно расположенные поляризатор, электрооптический кристалл, анализатор, спектрограф и направляют на фотоприемник, при этом на кристалл, оси которого ориентированы под углом 45o к направлению пропускания анализатора, подают знакопеременное напряжение, а сигнал интенсивности света с фотоприемника измеряют на регистрирующем устройстве, отличающийся тем, что поляризатор первоначально устанавливают соосно с анализатором, отключают питающее кристалл напряжение и регистрируют интенсивность света 1', затем включают напряжение и устанавливают его значение U1 таким, чтобы регистрируемая интенсивность 11 составляла ровно половину 1', после этого поляризатор устанавливают ортогонально анализатору и устанавливают значение напряжения U3, при котором регистрируется тот же самый уровень интенсивности 11, окончательно за четвертьволновое напряжение принимают значение U3 (U1 + U2)/2.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1997 года RU2080639C1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Григорьев В.М., Кобанов Н.И
О практическом использовании симметрии световой характеристики электрооптического затвора
Исследования по геомагнетизму, аэрономии и физике Солнца
Сплав для отливки колец для сальниковых набивок 1922
  • Баранов А.В.
SU1975A1
Пишущая машина 1922
  • Блок-Блох Г.К.
SU37A1
Топливник с глухим подом 1918
  • Брандт П.А.
SU141A1
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Сонин А.С., Василевская А.С
Электрооптические кристаллы
М.: Атомиздат, 1971, 328 с
Переносная печь для варки пищи и отопления в окопах, походных помещениях и т.п. 1921
  • Богач Б.И.
SU3A1
Способ контроля величины полуволнового напряжения электрооптического модулятора 1974
  • Кобанов Николай Илларионович
  • Григорьев Виктор Михайлович
SU542161A1
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Очаг для массовой варки пищи, выпечки хлеба и кипячения воды 1921
  • Богач Б.И.
SU4A1
Кузнецов Д.А., Куклин Г.В., Степанов В.Е
Некоторые вопросы юстировки и регулировки электрооптического модулятора
Результаты наблюдений и исследований в период МГСС
М.: Наука, 1966, вып
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Топочная решетка для многозольного топлива 1923
  • Рогинский С.А.
  • Шалабанов А.А.
SU133A1

RU 2 080 639 C1

Авторы

Демидов М.Л.

Осак Б.Ф.

Горин В.И.

Даты

1997-05-27Публикация

1994-05-10Подача