Изобретение относится к области микроэлектронных и микромеханических устройств и может быть использовано для изготовления датчиков перемещения движущихся сред, газовых анализаторов, термометров и т.д. методами микроэлектронной технологии.
Каталитические металлы (Pt, Pd) считаются лучшими материалами для изготовления сенсоров по микроэлектронной технологии, где приходится осаждать металлы на диэлектрические слои полупроводниковых пластин, при этом возникают большие трудности с адгезией каталитических металлов, которые не удается преодолеть способами, используемыми для традиционных металлов золота и алюминия.
Известен способ осаждения каталитических металлов с использованием подслоя титана. Адгезионные свойства комбинации титан-платина действительно выше, чем у чистой платины, но существенным недостатком данного способа является то, что дальнейшие технологические операции, связанные с применением травителей, не реагирующих с платиной, приводит к «взрыву» платины вследствие подтравливания титана. Кроме того, в МДП-структурах с каталитическими затворами возникают проблемы с зарядовыми состояниями подзатворных областей, т.е. нестабильностью C-V характеристик МДП-структур, что недопустимо в сенсорах [1].
Наиболее близким техническим решением является способ осаждения каталитических металлов методом взрывной фотолитографии, в котором используется двойная маска, состоящая из фоторезиста и дополнительного слоя, в качестве которого используется Cu, As2S3, Si3N4, Mo, SiO2, поликремний, MgO, AlN, С [2]. В ближайшем прототипе в качестве дополнительного слоя использован поликремний [3], а основным слоем служит фоторезист. Основным недостатком данного способа является наличие фоторезиста в процессе изготовления сенсоров, не позволяющего вести процесс осаждения каталитических металлов при высоких температурах подложек (400-600°С). Высокая температура подложек служит основным фактором удаления с их поверхности радикалов типа ОН и СООН, ответственных за деградацию слоев каталитических металлов с образованием т.н. «блистеров» [4]. Кроме того, фоторезист не позволяет почистить поверхность подложек методом сухого травления непосредственно перед нанесением металла из-за сильного задубливания фоторезиста.
Технический результат изобретения состоит в том, что предложенный способ формирования элементов из каталитических металлов на поверхности сенсоров позволяет получить хорошую адгезию металлов к поверхности и стабильные C-V-характеристики МДП-структур, что обеспечивает повышение надежности и долговечности сенсоров.
В предложенном изобретении задача решается благодаря тому, что в способе формирования рисунка методом взрывной фотолитографии с использованием двойной маски из фоторезиста и дополнительного слоя из поликремния исключается фоторезистивный слой, а толщина дополнительного слоя увеличивается до величины суммы толщин дополнительного и вспомогательного слоев, а осаждение металла осуществляется при температуре подложки 400-600°С с предварительной очистки поверхности подложки методом сухого травления. Кроме того, в качестве дополнительного слоя вместо известных вышеуказанных элементов и соединений предлагается использовать ленгмюровские пленки поверхностно-активного термостойкого (до 700°С) кремнийорганического полимерного соединения. Ленгмюровские слои чувствительны к глубокому ультрафиолету, что позволяет исключить из технологического процесса трудноудаляемый из-за задубливания фоторезист.
Способ формирования рисунка металла на поверхности подложки прототипа изобретения представлен на фиг.1. На подложку (1) с диэлектрическим слоем (2) нанесен слой дополнительного материала, например поликремния (3) и фоторезиста (4), фиг.1,a. Суммарная толщина фоторезиста и поликремния h больше толщины наносимого металла, по крайней мере, в два раза. Стандартными методами формируется рисунок (5), фиг.1,б, под нанесение каталитического металла. При этом методами сухого травления удалить следы фоторезиста, групп ОН и СООН (6), фиг.1,б, с поверхности (2) в области формирования рисунка (5) не удается из-за задубливания фоторезиста и невозможности его удаления в процессе взрыва. Далее наносится слой каталитического металла (7), фиг.1,в, при температуре не более 100°С. Температура ограничена условиями задубливания фоторезиста. В последующем процессе взрыва удаляются слои поликремния (3) и фоторезиста (4), фиг.1,в, и металла (7), лежащего на этих слоях, и остается на поверхности сенсора часть слоя (7), фиг.1,г, образующего рисунок. При дальнейшей операции отжига металла при температуре 650-800°С возникает вспучивание металла (8), фиг.1,д из-за наличия на поверхности (2) следов фоторезиста, групп ОН и СООН.
В предлагаемом способе формирования рисунка (фиг.2) на поверхности подложки (1), фиг.1,a, с диэлектрическим слоем (2) осаждается слой (3) из поликремния или ленгмюровской пленки толщиной h, превышающей толщину наносимого металла, по крайней мере, в два раза. Далее наносится слой фоторезиста (4), фиг.2,б, и стандартными методами формируется рисунок (5) в слоях (4) и (3). В случае использования ленгмюровской пленки в слое (3) фоторезист можно не использовать для формирования рисунка, а вести экспозицию по пленке глубоким ультрафиолетом (250 нм). Методом сухого травления очищается поверхность в области формирования рисунка (5), фиг.2,в, и наносится каталитический металл (7), фиг.2,г, например, методом магнетронного напыления. Нанесение металла осуществляется при температуре подложки 400-600°С. Далее осуществляется взрыв с удалением поликремниевого или ленгмюровского слоев (3) и металла (7) на слоях. На поверхности подложки сенсора остается металлический рисунок (7), фиг.2,г. Далее следует отжиг при температуре 650-800°С с образованием стабильной структуры металлической пленки с хорошей адгезией к поверхности.
Предложенный способ нанесения каталитических металлов на поверхности подложек сенсоров позволяет избавиться от дополнительных операций нанесения подслоев и слоев и получить надежную адгезию каталитических металлов к подложкам с качественной границей раздела металл-диэлектрик, что особенно важно для сенсоров с активными элементами на МДП-структурах с каталитическими затворами. При этом надежность и долговечность сенсоров, а также стабильность параметров в процессе эксплуатации существенно возрастают.
Литература
1. I.Lundstrom, С.Svensson. Gas-Sensitive Metal Gate Semiconductor Devices. Solid State ChemikatSensors. Academic Press INC. New York, 1985.
2. У.Моро. Микролитография, М.: Мир, 1990, ч.1 и 2.
3. U.S. Patent 4,315,984 (1982), Hitachi.
4. S.Y.Choig, et al. No Blister Formation Pt/Pt Double Metal GateNlSFET Hydrogen Sensors, IEEE Electron. Dev. Let., EDL-5, МОЛ, 1984.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ГАЗОВОГО СЕНСОРА | 2006 |
|
RU2336548C2 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КАТАЛИЗАТОРА ИЗ НАНОПРОВОЛОКИ | 2015 |
|
RU2609788C1 |
СПОСОБ ФОТОЛИТОГРАФИИ | 1996 |
|
RU2096935C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЧУВСТВИТЕЛЬНОГО ЭЛЕМЕНТА ПОЛУПРОВОДНИКОГО ГАЗОВОГО СЕНСОРА | 2006 |
|
RU2319953C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ СВЧ LDMOS-ТРАНЗИСТОРНЫХ КРИСТАЛЛОВ С МНОГОСЛОЙНОЙ ДРЕЙФОВОЙ ОБЛАСТЬЮ СТОКА | 2024 |
|
RU2819581C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ УПРАВЛЕНИЯ МАТРИЧНОГО ЖК-ЭКРАНА (ЕГО ВАРИАНТЫ) | 1991 |
|
RU2019864C1 |
Способ изготовления МДП-микросхем методом пошагового репродуцирования | 1984 |
|
SU1199155A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ВЕРТИКАЛЬНО-ИЗЛУЧАЮЩЕГО ЛАЗЕРА С ВНУТРИРЕЗОНАТОРНЫМИ КОНТАКТАМИ И ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИМ ЗЕРКАЛОМ | 2016 |
|
RU2703938C1 |
Способ формирования плат микроструктурных устройств со сквозными металлизированными отверстиями на монокристаллических кремниевых подложках | 2018 |
|
RU2676240C1 |
КОНСТРУКЦИЯ ДИСКРЕТНОГО СВЧ LDMOS-ТРАНЗИСТОРНОГО КРИСТАЛЛА С УСОВЕРШЕНСТВОВАННОЙ ЭКРАНИРУЮЩЕЙ ШИНОЙ ИСТОКА | 2024 |
|
RU2819579C1 |
Изобретение относится к области технологии изготовления микроэлектронных и микромеханических устройств и может быть использовано при изготовлении датчиков перемещения движущихся сред, газовых анализаторов термометров сопротивления и т.д. Технический результат изобретения состоит в том, что способ формирования элементов из каталитических металлов на поверхностях сенсоров позволяет получить хорошую адгезию металлов к поверхности и стабильные C-V характеристики МДП-структур, что обеспечивает повышение надежности и долговечности сенсоров. Сущность изобретения: способ формирования элементов из каталитических металлов на поверхности сенсора включает осаждение на поверхности подложки сенсора слоя поликремния или лэнгмюровского слоя поверхностно-активного термостойкого полимерного соединения, формирование маски из осажденного слоя, очищение свободной поверхности подложки методом сухого травления, нанесение каталитического металла при температуре подложки 400-600°C при отношении толщины осажденного слоя к толщине металла не менее двух и формирование элементов из каталитических металлов методом взрывной фотолитографии. Нанесение каталитического металла можно осуществлять методом магнетронного напыления. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.
US 4315984 А, 16.02.1982 | |||
US 4001061 А, 04.01.1977 | |||
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ СУБМИКРОННЫХ И НАНОМЕТРОВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ ПРИБОРОВ | 1994 |
|
RU2094902C1 |
ТОНКОПЛЕНОЧНАЯ СТРУКТУРА | 1980 |
|
RU2076475C1 |
Авторы
Даты
2006-08-20—Публикация
2004-10-20—Подача