СПОСОБ ФОКУСИРОВКИ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ Российский патент 2009 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение RU2352923C1

Изобретение относится к области рентгенодифракционных и рентгенотопографических неразрушающих методов исследования структуры и контроля качества материалов и предназначено для фокусировки рентгеновских лучей (РЛ), в частности пучка синхротронного излучения (СИ), с помощью кристаллического монохроматора (монохроматоров) и фокусирующего зеркала полного внешнего отражения (ПВО) РЛ.

Одним из важнейших параметров рентгеновского пучка является его дисперсия D. Дисперсия отражает спектральное распределение по углу в пучке, сформированном рентгенооптической системой: D=(δθ/δλ)λ, где θ - брэгговский угол, λ - длина волны излучения.

Если система состоит из одно- или двухкристального бездисперсионного монохроматора (n, -n), дисперсия пучка определяется брэгговским углом монохроматора θм: Dм=tgθм.

Высокоточные рентгенодифракционные методы, такие как двухкристальная дифрактометрия, плосковолновая топография, метод стоячих рентгеновских волн, требуют использования бездисперсионной дифракции, при которой дисперсия падающего на исследуемый кристаллический образец равна приемной дисперсии последнего, т.е. когда D0=tgθ0 0 - угол Брэгга образца, D0 - его приемная дисперсия). Поэтому для экспериментального осуществления большинства рентгенодифракционных методов возникает необходимость «подгонки» дисперсии пучка под приемную дисперсию образца, иными словами - управления дисперсией пучка.

Недостатком прототипа является отсутствие методики управления дисперсией пучка.

Задачей изобретения является создание способа фокусировки РЛ, позволяющего управлять дисперсией сфокусированного рентгеновского пучка и, таким образом, обеспечение бездисперсионной дифракции РЛ на образце.

В качестве прототипа выбран способ фокусировки СИ, используемый на экспериментальной станции СИ «Белок», работающей в КЦСИиНТ (Арутюнян Э.Л., Хейкер Д.М., Ковальчук М.В., Шилин Ю.Н. и др.). /Поверхность. 1999. №12. С.88). Пучок СИ после последовательного отражения от двух кристаллов-монохроматоров, находящихся в бездисперсионной схеме дифракции, направляется на фокусирующее цилиндрическое зеркало. Способ позволяет сфокусировать рентгеновский пучок в нужном месте изучаемого образца, что дает возможность улучшить локальность и точность исследований, а также изучать объекты малых размеров. При этом фокусное расстояние q связано с величиной радиуса R такого зеркала и расстоянием р от источника излучения до зеркала выражением:

где α - угол между зеркалом и пучком, причем этот угол не может быть больше критического угла ПВО РЛ зеркала.

Поставленная задача решается тем, что для фокусировки пучка СИ, включающей последовательное брэгговское отражение пучка СИ от кристаллического монохроматора и полное внешнее отражение от фокусирующего зеркала с постоянными радиусом цилиндрической поверхности R и расстоянием между зеркалом и фокусом q, установку монохроматора под брэгговским углом θм к пучку, зеркала - под углом α, не превышающим критический угол ПВО зеркала, устанавливают угол наклона α зеркала к пучку и брэгговский угол монохроматора согласно формулам:

α=2q/R[1+q(р0/b+l0)-1],

tgθм=qtgθ00/b+l0)-1,

где р0 - расстояние между источником излучения и монохроматором, l0 - расстояние между монохроматором и зеркалом, b - фактор асимметрии монохроматора.

Суть изобретения поясняется рентгенооптической схемой фокусировки пучка СИ (Фиг.1), а также графиками зависимости межплоскостного расстояния, соответствующего выбранному рефлексу исследуемого образца, от длины волны монохроматизированного рентгеновского пучка на Фиг.2, построенными для рефлекса (111) кремниевого монохроматора.

При осуществлении способа СИ от источника 1 на Фиг.1 направляется на кристаллический монохроматор 2, устанавливаемый под брэгговским углом θм; дифрагированный на нем пучок РЛ направляется на фокусирующее зеркало ПВО РЛ с постоянным радиусом цилиндрической поверхности под скользящим углом α. Углы θм и α подбираются таким образом, чтобы обеспечить бездисперсионную дифракцию РЛ на образце 4.

Дисперсия Dс пучка, сформированного системой «монохроматор 2 - фокусирующее зеркало 3», дается формулой:

С помощью формул (1) и (2) получим выражение:

Поскольку «подгонка» дисперсии пучка под приемную дисперсию образца 4 возможна при выполнении условия Dc=D0=tgθ00 - брэгговский угол, соответствующий выбранному рефлексу исследуемого образца), формула (3) преобразуется:

Знак « - » в правой части (4) означает, что при фокусировке РЛ равенство приемной дисперсии образца 4 и дисперсии пучка имеет место, если монохроматор 2 и образец 4 находятся в антипараллельной схеме дифракции (n, +m).

Известно (S.Kikuta, K.Khora // J.Phys. Soc. Japan. 1970. V.29. Р.1322), что при использовании асимметричного рефлекса монохроматора эффективное расстояние р между источником излучения 1 и фокусирующим зеркалом 3 становится функцией фактора асимметрии b монохроматора 2:

Здесь b=sin(θм+φ)/sin(θм-φ), φ - угол между поверхностью монохроматора 2 и его отражающими плоскостями. В случае многокристального монохроматора его фактор асимметрии равен произведению факторов асимметрии каждого кристалла.

Теперь формулы (4) и (1) примут вид:

Из (6) и (7) следует, что при неизменных величинах R и q подбором энергии монохроматизированного пучка (т.е. подбором брэгговского угла монохроматора) и угла α можно обеспечить бездисперсионную дифракцию на исследуемом образце.

Так как для большинства современных экспериментальных синхротронных станций р=10÷100 м, для компактного расположения узлов станции должно выполняться условие q/р<<1. Графики зависимости межплоскостного расстояния d0, соответствующего выбранному рефлексу исследуемого образца, от длины волны λ монохроматизированного рентгеновского пучка на Фиг.2 построены для рефлекса (111) кремниевого монохроматора с помощью формулы (5): φ=0 (кривые 1, 2); φ=5° (кривые 3, 4); l0/q=1, р0/q=9 (кривые 1, 3) и р0/q=4 (кривые 2, 4).

Из графиков следует, что кремниевый монохроматор с симметричным (b=1) рефлексом (111) (пунктирные кривые) пригоден только для экспериментов с использованием слабых рефлексов образца, для которых, как правило, d0<1. Светосильные рефлексы здесь можно использовать только для мягкого (λ>2Å) рентгеновского излучения, что в значительной степени сужает класс исследуемых объектов. Отметим также слабую зависимость d0 от λ.

Кривые 3, 4 на графике Фиг.2 доказывают, что использование асимметричного рефлекса Si(111) дает возможность варьировать в широких пределах величину межплоскостного расстояния исследуемого образца в наиболее востребованной области длин волн РЛ (0,6÷1,5Å).

Похожие патенты RU2352923C1

название год авторы номер документа
СПОСОБ УПРАВЛЕНИЯ ПРОСТРАНСТВЕННЫМ ПОЛОЖЕНИЕМ РЕНТГЕНОВСКОГО ПУЧКА 2005
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Лидер Валентин Викторович
RU2303776C1
Способ трехкристальной рентгеновской дифрактометрии 1988
  • Лидер Валентин Викторович
SU1617344A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ФОРМИРОВАНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ПУЧКА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗГИБА КРИСТАЛЛА 2003
  • Ковальчук М.В.
  • Желудева С.И.
  • Лидер В.В.
  • Хейкер Д.М.
  • Шишков В.А.
  • Шилин Ю.Н.
  • Добрынин Г.И.
RU2260218C2
Установка для дифракционных исследований биологических объектов 1980
  • Корнеев Владимир Николаевич
  • Герасимов Владимир Сергеевич
SU883725A1
Устройство для рентгеновского дифракционного исследования объектов и способ установки зеркала полного внешнего отражения в пучке рентгеновского излучения 1980
  • Корнеев Владимир Николаевич
  • Герасимов Владимир Сергеевич
SU883726A1
Широкополосный монохроматор (варианты) 2023
  • Назьмов Владимир Петрович
RU2801285C1
РЕНТГЕНОДИФРАКЦИОННАЯ УСТАНОВКА И СПОСОБ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ 2008
  • Торая Хидео
RU2449262C2
Высоковакуумный монохроматор для синхротронного излучения в ультрамягкой рентгеновской области спектра 1986
  • Виноградов Александр Степанович
  • Акимов Владимир Николаевич
  • Вакорин Вячеслав Федорович
  • Фомичев Вадим Алексеевич
SU1402875A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВНУТРЕННИХ НАПРЯЖЕНИЙ МНОГОСЛОЙНЫХ НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫХ ПОКРЫТИЙ, ОСНОВАННЫЙ НА ИСПОЛЬЗОВАНИИ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ 2021
  • Филиппов Андрей Владимирович
  • Воронцов Андрей Владимирович
  • Шамарин Николай Николаевич
  • Денисова Юлия Александровна,
  • Москвичев Евгений Николаевич
  • Княжев Евгений Олегович
RU2772247C1
Устройство для монохроматизации синхротронного излучения 1983
  • Адамчук В.К.
  • Федосеенко С.И.
  • Александров В.М.
  • Хомченко В.Д.
  • Пейсахсон И.В.
  • Савушкин А.В.
SU1108857A1

Реферат патента 2009 года СПОСОБ ФОКУСИРОВКИ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Использование: для фокусировки синхротронного излучения. Сущность: заключается в том, что осуществляют последовательное брэгговское отражение пучка СИ от кристаллического монохроматора и полное внешнее отражение (ПВО) от фокусирующего зеркала с постоянными радиусом цилиндрической поверхности R и расстоянием между зеркалом и фокусом q при установке монохроматора под брэгговским углом θм к пучку, зеркала - под углом α, не превышающим критический угол ПВО зеркала, при этом угол наклона α зеркала к пучку и брэгговский угол монохроматора θм устанавливают согласно формулам:

α=2q/R[1+q(P0/b+10)-1],

tgθм=qtgθ0(p0/b+10)-1,

где р0 - расстояние между источником излучения и монохроматором, l0 - расстояние между монохроматором и зеркалом, b - фактор асимметрии монохроматора, θ0 - брэгговский угол, соответствующий выбранному рефлексу исследуемого образца. Технический результат: обеспечение возможности управления дисперсией сфокусированного рентгеновского пучка (синхротронного излучения) и, как следствие, обеспечение бездисперсионной дифракции рентгеновских лучей (синхротронного излучения) на образце. 2 ил.

Формула изобретения RU 2 352 923 C1

Способ фокусировки пучка синхротронного излучения (СИ), включающий последовательное брэгговское отражение пучка СИ от кристаллического монохроматора и полное внешнее отражение (ПВО) от фокусирующего зеркала с постоянными радиусом цилиндрической поверхности R и расстоянием между зеркалом и фокусом q при установке монохроматора под брэгговским углом θм к пучку, зеркала - под углом α, не превышающим критический угол ПВО зеркала, отличающийся тем, что угол наклона α зеркала к пучку и брэгговский угол монохроматора θм устанавливают согласно формулам
α=2q/R[1+q(p0/b+10)-1],
tgθм=qtgθ0(p0/b+10)-1,
где р0 - расстояние между источником излучения и монохроматором, l0 - расстояние между монохроматором и зеркалом, b - фактор асимметрии монохроматора, θ0 - брэгговский угол, соответствующий выбранному рефлексу исследуемого образца.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2009 года RU2352923C1

WO 8911683 А1, 30.11.1989
ФОКУСИРУЮЩИЙ МОНОХРОМАТОР 2004
  • Хейкер Д.М.
  • Шишков В.А.
  • Шилин Ю.Н.
RU2248559C1
Устройство для получения рентгеновс-КОгО изОбРАжЕНия B пЕРЕМЕННОМ MAC-шТАбЕ 1979
  • Коган Михаил Тевелевич
SU842521A1
СПОСОБ ФОКУСИРОВКИ ВОЛНОВОГО ПОЛЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2003
  • Щетников А.А.
  • Ашкиназий Я.М.
  • Чеглаков А.В.
RU2238576C1
Способ рентгеновского спектрального анализа 1978
  • Киселева Кира Вячеславовна
  • Турьянский Александр Георгиевич
SU741122A1
JP 6347599 A, 22.12.1994
US 5914997 A, 22.06.1999.

RU 2 352 923 C1

Авторы

Лидер Валентин Викторович

Даты

2009-04-20Публикация

2007-10-22Подача