ПРИБОР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ Российский патент 2009 года по МПК G02B27/30 

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к приборам контроля параметров телевизионных систем.

Известен широкоугольный коллиматор [1] для контроля параметров оптико-электронных систем, в частности контроля телескопических систем, включающий расположенные последовательно на одной оси объектив, установленный в его фокальной плоскости тест-объект в виде сетки с измерительными шкалами на ее первой рабочей поверхности, обращенной к объективу, и осветитель. Основным недостатком этого устройства является невозможность контроля параметров телевизионных систем с различными режимами работы.

Наиболее близким по технической сущности является устройство для контроля параметров оптико-электронных систем [2], в частности для контроля лазерного дальномера, содержащее расположенные последовательно на оптической оси объектив, держатель для размещения тест-объекта и систему подсветки, включающую оптически связанные отражающее зеркало, конденсор и источник света. При этом источник света создает постоянное значение освещенности в плоскости тест-объекта. В качестве тест-объекта используют фотопленку, на поверхности которой в результате теплового воздействия лазерного излучения образуется прозрачное отверстие в эмульсионном слое. Одним из недостатков этого устройства является невозможность контроля параметров телевизионных систем с различными режимами работы в связи с невозможностью создания широкого диапазона нормированных освещенностей в плоскости тест-объекта. Вторым недостатком этого устройства является невозможность контроля различных параметров телевизионных систем в связи со сложностью изготовления сменных тест-объектов с различными рисунками на фотопленке.

Задачей полезной модели является расширение функциональных возможностей прибора путем обеспечения возможности создания широкого диапазона нормированных значений освещенности в плоскости тест-объекта и возможности простого изготовления и замены сменных тест-объектов с различными рисунками.

Для решения поставленной задачи в приборе для контроля параметров оптико-электронных систем, включающем установленные последовательно на оптической оси объектив и держатель для размещения тест-объекта, а также систему подсветки, новым является то, что объектив установлен с возможностью перемещения вдоль его оптической оси и снабжен отсчетным устройством, система подсветки включает, по меньшей мере, два блока ламп, симметрично расположенных относительно оптической оси объектива, с возможностью поблочного включения ламп, при этом хотя бы между одной из ламп системы подсветки и держателем для размещения тест-объекта последовательно установлены рассеиватель и первый ослабитель светового излучения на оси, соединяющей центр держателя для размещения тест-объекта и центр тела свечения лампы, объектив, держатель для размещения тест-объекта и система подсветки размещены внутри светонепроницаемого корпуса, имеющего отверстие для вывода держателя для размещения тест-объекта за пределы корпуса для замены тест-объекта.

Отсчетное устройство выполнено в виде подвижной шкалы, закрепленной на корпусе объектива и неподвижного индекса, закрепленного в корпусе над подвижной шкалой.

Каждый из блоков ламп включает, по меньшей мере, три лампы накаливания.

Первый ослабитель светового излучения может быть выполнен в виде нейтрального светофильтра, установленного с возможностью ввода/вывода в оптический тракт.

Первый ослабитель светового излучения может быть выполнен в виде калиброванной диафрагмы или набора калиброванных диафрагм, установленных с возможностью поочередного ввода/вывода в оптический тракт.

Между объективом и контролируемой оптико-электронной системой может быть введен второй ослабитель светового излучения, выполненный в виде нейтрального светофильтра, установленный с возможностью ввода/вывода в оптический тракт.

Между объективом и контролируемой оптико-электронной системой может быть введена телескопическая система, установленная с возможностью ввода/вывода в оптический тракт.

Выполнение системы подсветки, включающей, по меньшей мере, два блока ламп, симметрично расположенных относительно оптической оси объектива с возможностью поблочного включения ламп, а также установка хотя бы между одной из ламп системы подсветки и держателем для размещения тест-объекта последовательно рассеивателя и первого ослабителя светового излучения на оси, соединяющей центр держателя для размещения тест-объекта и центр тела свечения лампы, позволяет расширить функциональные возможности прибора путем обеспечения возможности создания широкого диапазона нормированных значений освещенности в плоскости тест-объекта. Использование в каждом из блоков ламп, по меньшей мере, трех ламп накаливания обеспечивает равномерность освещенности в плоскости тест-объекта. Выполнение тест-объекта, например, в виде мини-плаката с рассеивающей поверхностью, обращенной в сторону объектива, на которой выполнен рисунок, и держателя тест-объекта с возможностью его вывода за пределы корпуса для замены тест-объекта, позволяет установить сменные тест-объекты с различными рисунками, позволяющими контролировать различные параметры телевизионных систем.

Сущность изобретения поясняется чертежом. На чертеже изображена принципиальная схема прибора для контроля параметров оптико-электронных систем.

Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем содержит оптически связанные объектив 1, держатель 2 для размещения тест-объекта 3 и систему подсветки 4. Объектив 1 установлен с возможностью перемещения вдоль его оптической оси и снабжен отсчетным устройством 5 для измерения величины перемещения объектива 1. Система подсветки 4 включает два блока ламп 6 по три лампы 7, 8, 9 в каждом блоке ламп 6, симметрично расположенных относительно оптической оси объектива 1. Между лампами 8 устройства подсветки 4 и держателем 2 для размещения тест-объекта 3 последовательно установлены рассеиватель 10 и первый ослабитель 11. Первый ослабитель 11 может быть выполнен в виде нейтрального светофильтра, набора нейтральных светофильтров, калиброванной диафрагмы или набора калиброванных диафрагм, установленных с возможностью ввода/вывода в оптический тракт. Объектив 1, держатель 2 для размещения тест-объекта 3 и система подсветки 4 размещены внутри светонепроницаемого корпуса 12, имеющего отверстие для размещения в нем объектива 1. Отсчетное устройство 5 может быть выполнено в виде подвижной шкалы 13, закрепленной на корпусе 14 объектива 1, и неподвижного индекса 15, закрепленного в корпусе 12 над подвижной шкалой 13. Между объективом 1 и контролируемой оптико-электронной системой 16 может быть введен второй ослабитель 17, выполненный в виде нейтрального светофильтра, установленный с возможностью ввода/вывода в оптический тракт. В прибор для контроля параметров оптико-электронных систем может быть введена телескопическая система 18, установленная с возможностью ввода/вывода в оптический тракт на выходе объектива 1. На чертеже также показан видеомонитор 19, на экране которого визуально по изображению тест-объекта контролируют параметры оптико-электронной системы 16.

Устройство работает следующим образом.

Контролируемую оптико-электронную систему 16 располагают перед прибором таким образом, чтобы ее телевизионный канал оказался напротив выходного зрачка объектива 1. Закрепляют в держателе 2 необходимый тест-объект 3. Устанавливают держатель 2 с закрепленным в нем тест-объектом 3 в корпус 12. Включают блоки ламп 6 системы подсветки 4. Наблюдая на экране видеомонитора 19 изображение тест-объекта 3, поворотами оптико-электронной системы 16 устанавливают центр изображения тест-объекта 3 в центр экрана видеомонитора 19. При необходимости подвижкой объектива 1 добиваются резкого сфокусированного изображения тест-объекта 3 на экране видеомонитора 19. Измерив величину подвижки объектива 1 с помощью отсчетного устройства 5 вычисляют величину несовпадения плоскости фотоприемного устройства оптико-электронной системы 16 с фокальной плоскостью объектива оптико-электронной системы 16. Включая лампы 7, 8, 9 блоков ламп 6 в различных комбинациях и вводя рассеиватель 10 и первый ослабитель 11 перед лампами 8 блоков ламп 6, создают различные освещенности в широком диапазоне в плоскости тест-объекта 3. Визуально по изображению тест-объекта 3 на экране видеомонитора 19 контролируют параметры оптико-электронной системы 16 при различных освещенностях в плоскости тест-объекта 3. Устанавливая в держатель 2 тест-объекты 3 с различными рисунками, контролируют различные параметры оптико-электронной системы 16. При необходимости контроля параметров оптико-электронных систем 16, имеющих различные поля зрения, для того чтобы использовать один и тот же тест-объект 3 без его замены и без дополнительных настроек, в оптический тракт на выходе из объектива 1 вводится телескопическая система 18, позволяющая изменить угловой размер тест-объекта 3 до величины, соответствующей угловому полю зрения контролируемой оптико-электронной системы 16. При необходимости дополнительного ослабления светового излучения на выходе из объектива 1 может быть установлен второй ослабитель 17 в виде нейтрального светофильтра. При проведении контроля параметров оптико-электронной системы 16 исключается фоновая засветка, так как объектив 1, держатель 2 с тест-объектом 3 и система подсветки 4 находятся в светонепроницаемом корпусе 12.

Таким образом, прибор для контроля оптико-электронных систем обеспечивает расширение функциональных возможностей путем обеспечения возможности создания широкого диапазона нормированных значений освещенности в плоскости тест-объекта и возможности простого изготовления и замены сменных тест-объектов с различными рисунками.

Иточники информации

1. Патент BY № 363 U, 2001 г.

2. Патент BY № 6407 С1, 2004 г. (прототип).

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, в частности к приборам для контроля параметров телевизионных систем. Устройство содержит установленные последовательно на оптической оси объектив (1) и держатель (2) для размещения тест-объекта (3), а также систему подсветки (4). Объектив (1) установлен с возможностью перемещения вдоль его оптической оси и снабжен отсчетным устройством (5). Система подсветки (4) включает, по меньшей мере, два блока ламп (6), симметрично расположенных относительно оптической оси объектива (1) с возможностью поблочного включения ламп. Хотя бы между одной из ламп (7, 8, 9) системы подсветки (4) и держателем (2) для размещения тест-объекта (3) последовательно установлены рассеиватель (10) и первый ослабитель (11) светового излучения на оси, соединяющей центр держателя (2) для размещения тест-объекта (3) и центр тела свечения лампы (8). Объектив (1), держатель (2) для размещения тест-объекта (3) и система подсветки (4) размещены внутри светонепроницаемого корпуса (12), имеющего отверстие для вывода держателя (2) для размещения тест-объекта (3) за пределы корпуса (12) для замены тест-объекта (3). Технический результат - расширение функциональных возможностей прибора путем обеспечения возможности создания широкого диапазона нормированных значений освещенности в плоскости тест-объекта и возможности простого изготовления и установки сменных тест-объектов с различными рисунками. 6 з.п. ф-лы, 1 ил.

1. Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем, включающий установленные последовательно на оптической оси объектив и держатель для размещения тест-объекта, а также систему подсветки, отличающийся тем, что объектив установлен с возможностью перемещения вдоль его оптической оси и снабжен отсчетным устройством, система подсветки включает, по меньшей мере, два блока ламп, симметрично расположенных относительно оптической оси объектива с возможностью поблочного включения ламп, при этом хотя бы между одной из ламп системы подсветки и держателем для размещения тест-объекта последовательно установлены рассеиватель и первый ослабитель светового излучения на оси, соединяющей центр держателя для размещения тест-объекта и центр тела свечения лампы, объектив, держатель для размещения тест-объекта и система подсветки размещены внутри светонепроницаемого корпуса, имеющего отверстие для вывода держателя для размещения тест-объекта за пределы корпуса для замены тест-объекта.

2. Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем по п.1, отличающийся тем, что отсчетное устройство выполнено в виде подвижной шкалы, закрепленной на корпусе объектива, и неподвижного индекса, закрепленного в корпусе над подвижной шкалой.

3. Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем по п.1, отличающийся тем, что каждый из блоков ламп включает, по меньшей мере, три лампы накаливания.

4. Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем по п.1, отличающийся тем, что первый ослабитель светового излучения выполнен в виде нейтрального светофильтра, установленного с возможностью ввода/вывода в оптический тракт.

5. Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем по п.1, отличающийся тем, что первый ослабитель светового излучения выполнен в виде калиброванной диафрагмы или набора калиброванных диафрагм, установленных с возможностью поочередного ввода/вывода в оптический тракт.

6. Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем по п.1, отличающийся тем, что между объективом и контролируемой оптико-электронной системой введен второй ослабитель светового излучения, выполненный в виде нейтрального светофильтра, установленный с возможностью ввода/вывода в оптический тракт.

7. Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем по п.1, отличающийся тем, что между объективом и контролируемой оптико-электронной системой введена телескопическая система, установленная с возможностью ввода/вывода в оптический тракт.