ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДАВЛЕНИЯ Российский патент 2014 года по МПК G01L9/04 

Описание патента на изобретение RU2526788C1

Предлагаемое техническое решение относится к области измерительной техники, в частности к преобразователям малых давлений высокотемпературных сред, и может быть использовано в разработке и изготовлении малогабаритных полупроводниковых преобразователей давления, работоспособных при повышенных температурах.

Известен преобразователь давления и способ его изготовления, характеризующиеся тем, что мембрана со слоем диэлектрика, на которой сформированы тензорезисторы, легирована бором до того же уровня концентрации, что и тензорезисторы, при этом толщина мембраны под слоем диэлектрика равна толщине тензорезисторов [1].

Недостатками данного преобразователя является низкая чувствительность к измерению малых давлений при сохранении собственной резонансной частоты, низкая прочность мембраны, высокий уровень погрешностей измерений в интервале температур от минус 100 до 850°С.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является преобразователь давления, содержащий кремниевую мембрану с утолщенным периферийным основанием, выполненную из кремния n-типа проводимости и легированную бором до концентрации не менее 5·1019 см-3, и имеющую толщину, равную высоте тензорезисторов, сформированных на закрепленном на мембране слое двуокиси кремния и выполненных из кремния, легированного бором до того же уровня концентрации, что и мембрана, и объединенных с помощью коммутационных шин в мостовую измерительную схему, и имеющих соединенные с ними металлизированные контактные площадки. Мембрана содержит профиль с концентраторами механических напряжений в месте расположения тензорезисторов, который представляет собой сочетание утонченных участков и жестких центров, а поверхность тензорезисторов покрыта слоем двуокиси кремния [2].

Недостатками прототипа являются невозможность измерений высокотемпературных сред, обусловленная низкой упругостью и высокой подвижностью дефектов в кристаллической решетке кремния при температурах свыше 500°C, а также высокая дополнительная температурная погрешность измерения, вызванная различием физико-химических свойств кремния, из которого выполнены тензорезисторы, и слоя двуокиси кремния, изолирующего тензорезисторы от мембраны. В конструкции прототипа тензорезисторы выполнены из кремния и размещены на поверхности слоя, выполненного из двуокиси кремния. Температурный коэффициент линейного расширения (ТКЛР) кремния равен 2,33·10-6/К, ТКЛР двуокиси кремния равен 0,55·10-6/К [3]. Температурный коэффицент сопротивления (ТКС) кремния определяется степенью легирования, его типичное значение составляет 2·10-3/К [4]. Кроме того, в прототипе вследствие различной структуры слоя тензорезисторов, выполненного из кремния, и слоя, закрепленного на мембране (двуокиси кремния), на границе раздела будут возникать дополнительные механические напряжения из-за дефектов и дислокаций, вызванных несовпадением кристаллической решетки кремния и аморфной структуры двуокиси кремния [5, 6]. Данные механические напряжения, вызванные различием ТКЛР кремния и двуокиси кремния, а также дефектами и дислокациями на границе раздела слоев, приведут к возникновению дополнительной температурной погрешности преобразователя.

Невозможность измерений высокотемпературных сред (более 500°C) объясняется тем, что кремний, из которого выполнена мембрана, не демонстрирует ни пластической деформации, ни ползучести при температурах до 500°C, но при более высоких температурах в данном материале наблюдается значительное снижение упругости и увеличение подвижности дефектов в кристаллической решетке, что в конечном итоге приводит к разрушению структур, выполненных из кремния [4].

Изобретение направлено на расширение температурного диапазона измерений и снижение дополнительной температурной погрешности преобразователя.

Поставленная цель достигается тем, что в полупроводниковом преобразователе давления, содержащем мембрану с утолщенным периферийным основанием, имеющую толщину, равную высоте тензорезисторов, сформированных на закрепленном на мембране слое, объединенных с помощью коммутационных шин в мостовую измерительную схему, имеющих соединенные с ними металлизированные контактные площадки, причем мембрана содержит профиль с концентраторами механических напряжений в местах расположения тензорезисторов, который представляет собой сочетание утонченных участков и жестких центров, согласно изобретению мембрана и тензорезисторы выполнены из поликристаллического алмаза одного типа проводимости, а закрепленный на мембране слой выполнен из поликристаллического алмаза другого типа проводимости.

Введение предложенной конструкции, содержащей

поликристаллический алмаз, позволяет расширить температурный диапазон измерений в части повышения верхнего предела измерений до 600°C за счет того, что поликристаллический алмаз, являющийся полупроводниковым широкозонным материалом, обладает рядом уникальных свойств, в том числе стойкостью к воздействию повышенной температуры.

Из всех широкозонных полупроводников у алмаза наилучшее сочетание основных электрофизических параметров. У алмаза высокая среди всех известных материалов теплопроводность, которая составляет 20-24 Вт/см·К при комнатной температуре. Это связано с его высокой температурой Дебая (1860 К), благодаря чему комнатная температура является «низкой» в отношении динамики решетки алмаза, в результате чего он может служить теплоотводящей диэлектрической подложкой, что способствует лучшему теплоотводу при эксплуатации изделий в диапазоне высоких температур. В очищенном от изотопов алмазе (природные кристаллы содержат 1,1% изотопа 13С) теплопроводность может достигать 33 Вт/см·К [7]. При легировании алмаза его удельное сопротивление может изменяться в широком интервале, что превращает его в широкозонный полупроводник с шириной запрещенной зоны 5,4 эВ, что существенно выше, чем у кремния. Большая, по сравнению с кремнием, ширина запрещенной зоны, означает больший диапазон рабочих температур (вплоть до температуры 600°C, свыше которой на воздухе начинается графитизация алмаза) [8, 9].

А введение предложенной конструкции, содержащей мембрану и тензорезисторы, выполненные из поликристаллического алмаза одного типа проводимости, и закрепленный на мембране слой, выполненный из поликристаллического алмаза другого типа проводимости, позволяет снизить дополнительную температурную погрешность преобразователя.

Изменение сопротивления мостовой схемы, вызванное влиянием температуры, определяется выражением [3]:

Δ R R = [ α R + K ( λ s λ j ) ] Δ T , ( 1 )

где αR - ТКС материала тензорезисторов, λs - температурный ТКЛР материала тензорезисторов, λj - ТКЛР материала слоя, закрепленного на мембране. В предложенной конструкции тензорезисторы и закрепленный на мембране слой выполнены из поликристаллического алмаза так, что в выражении (1) λsj, и изменение сопротивления мостовой схемы, вызванное влиянием температуры, определяется выражением:

Δ R R = α R Δ T . ( 2 )

Например, при значении ТКС поликристаллического алмаза αR=-4,4·10-4/К (что достигается подбором соответствующей концентрации легирующей примеси) изменение сопротивления мостовой схемы, вызванное влиянием температуры, определенное для прототипа по формуле (1), будет равно 0,2002%/°C-1, а изменение сопротивления мостовой схемы, вызванное влиянием температуры для предложенной конструкции, определенное по формуле (2), будет равно - 4,4·10-2%/°C-1. Таким образом, введение предложенной конструкции позволяет снизить изменение сопротивления, вызванное влиянием температуры, а значит - уменьшить дополнительную температурную погрешность.

Кроме того, в предложенной конструкции дополнительные механические напряжения будут отсутствовать, так как тензорезисторы и закрепленный на мембране слой выполнены из одного и того же материала (поликристаллического алмаза), у которого совпадают параметры кристаллической решетки [5, 6].

Предлагаемое устройство поясняется на фиг.1.

На фиг.1 изображен полупроводниковый преобразователь давления, содержащий мембрану (1) с утолщенным периферийным основанием (2). Мембрана имеет толщину, равную толщине тензорезисторов (3), сформированных на закрепленном на мембране слое (4). Тензорезисторы объединены с помощью коммутационных шин (5), имеющих соединенные с ними металлизированные контактные площадки (6), в мостовую измерительную схему. Мембрана содержит профиль с концентраторами механических напряжений (7) в местах расположения тензорезисторов, который представляет собой сочетание утонченных участков и жестких центров. Мембрана и тензорезисторы выполнены из поликристаллического алмаза одного типа проводимости, а закрепленный на мембране слой выполнен из поликристаллического алмаза другого типа проводимости.

Принцип работы преобразователя заключается в следующем.

Измеряемое давление, воздействуя на мембрану с жестким центром, деформирует тензорезисторы и увеличивает разбаланс мостовой схемы, в которую замкнуты тензорезисторы. Выбор в качестве материала мембраны и тензорезисторов поликристаллического алмаза позволяет расширить температурный диапазон измерений в части повышения верхнего предела измерений до 600°C за счет использования полупроводникового широкозонного материала поликристаллического алмаза, обладающего рядом уникальных свойств, в том числе стойкостью к воздействию повышенной температуры. А использование конструкции, в которой мембрана и тензорезисторы выполнены из поликристаллического алмаза одного типа проводимости, а закрепленный на мембране слой выполнен из поликристаллического алмаза другого типа проводимости, позволяет снизить дополнительную температурную погрешность преобразователя, вызванную различием физико-химических свойств материалов мембраны, тензорезисторов и закрепленного на мембране слоя.

Технико-экономическими преимуществами предлагаемого преобразователя по сравнению с известными являются:

- расширение температурного диапазона измерений;

- снижение дополнительной температурной погрешности преобразователя.

Источники информации

1. Патент RU 1732199.

2. Патент RU 2271523.

3. Аш. Ж. и соавторы Датчики измерительных систем: В 2-х книгах. Кн.1. Пер. с франц. - М.: Мир, 1992. - 480 с, ил.

4. Гридчин, В.А. Физика микросистем: учеб. пособие; в 2 ч. Ч.1 / В.А.Гридчин В.П.Драгунов. - Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2004. - 416 с.

5. Nakladan A., Sager К., Gerlach G. Influences of humidity and moisture on the long-term stability of piesoresistive pressure sensors // Measurement. 1995. V.16. No.1. P.21-29.

6. Gerlach G., Sager K., Zwiebber R. Der EinfluP halbleiter technologist realisierbarer Passivierung - Konzepte auf die electrische Stabilitet piesoresistiver Drucksensoren // VD - Ber. 1992. Bd. 960. N 1. S.281-294.

7. Ральченко В. CVD-алмазы. Применение в электронике / В.Ральченко, В.Конов // Электроника: Наука, Технология, Бизнес. - 2007. - №4. - С.58-67.

8. http://www.intactive.rU/ru/info/articles/article/4/

9. Плесков Ю.В. Электрохимия алмаза. / Ю.В.Плесков - Эдиториал УРСС; 2003 г.; 104 стр.

Похожие патенты RU2526788C1

название год авторы номер документа
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДАВЛЕНИЯ 2004
  • Баринов Илья Николаевич
  • Козин Сергей Алексеевич
RU2271523C2
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДАВЛЕНИЯ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ 2005
  • Баринов Илья Николаевич
  • Козин Сергей Алексеевич
RU2284613C1
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДАВЛЕНИЯ 2006
  • Баринов Илья Николаевич
  • Козин Сергей Алексеевич
  • Цибизов Павел Николаевич
RU2310176C1
ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДАВЛЕНИЯ 2012
  • Волков Вадим Сергеевич
  • Баринов Илья Николаевич
RU2507491C1
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДАВЛЕНИЯ 2011
  • Баринов Илья Николаевич
RU2464539C1
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДАВЛЕНИЯ 2014
  • Баринов Илья Николаевич
  • Волков Вадим Сергеевич
  • Гурин Сергей Александрович
  • Тареева Юлия Александровна
  • Евдокимов Сергей Павлович
RU2555190C1
ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ ЭЛЕМЕНТ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ ДАВЛЕНИЯ И ТЕМПЕРАТУРЫ 2015
  • Харин Денис Александрович
  • Разинов Дмитрий Вячеславович
RU2606550C1
ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДАВЛЕНИЯ НА ОСНОВЕ СТРУКТУРЫ "ПОЛИКРЕМНИЙ-ДИЭЛЕКТРИК" 2012
  • Волков Вадим Сергеевич
  • Зубова Ирина Васильевна
RU2531549C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН (ВАРИАНТЫ) И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ 2007
  • Володин Николай Михайлович
RU2346250C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МЕМБРАННО-РЫЧАЖНОГО ДАТЧИКА СИЛЫ 2022
  • Цывин Александр Александрович
RU2797134C1

Реферат патента 2014 года ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДАВЛЕНИЯ

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к преобразователям малых давлений высокотемпературных сред, и может быть использовано в разработке и изготовлении малогабаритных полупроводниковых преобразователей давления, работоспособных при повышенных температурах. Полупроводниковый преобразователь давления содержит мембрану с утолщенным периферийным основанием. Мембрана имеет толщину, равную толщине тензорезисторов, сформированных на закрепленном на мембране слое. Тензорезисторы объединены с помощью коммутационных шин, имеющих соединенные с ними металлизированные контактные площадки, в мостовую измерительную схему. Мембрана содержит профиль с концентраторами механических напряжений в местах расположения тензорезисторов, который представляет собой сочетание утонченных участков и жестких центров. Мембрана и тензорезисторы выполнены из поликристаллического алмаза одного типа проводимости, а закрепленный на мембране слой выполнен из поликристаллического алмаза другого типа проводимости. Техническим результатом изобретения является расширение температурного диапазона измерений и уменьшение температурной погрешности. 1 ил.

Формула изобретения RU 2 526 788 C1

Полупроводниковый преобразователь давления, содержащий мембрану с утолщенным периферийным основанием, имеющую толщину, равную высоте тензорезисторов, сформированных на закрепленном на мембране слое, объединенных с помощью коммутационных шин в мостовую измерительную схему, имеющих соединенные с ними металлизированные контактные площадки, причем мембрана содержит профиль с концентраторами механических напряжений в местах расположения тензорезисторов, который представляет собой сочетание утонченных участков и жестких центров, отличающийся тем, что в нем мембрана и тензорезисторы выполнены из поликристаллического алмаза одного типа проводимости, а закрепленный на мембране слой выполнен из поликристаллического алмаза другого типа проводимости.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2014 года RU2526788C1

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДАВЛЕНИЯ 2004
  • Баринов Илья Николаевич
  • Козин Сергей Алексеевич
RU2271523C2
Преобразователь давления и способ его изготовления 1990
  • Козин Сергей Алексеевич
SU1732199A1
ТЕНЗОРЕЗИСТОРНЫЙ ДАТЧИК ДАВЛЕНИЯ НА ОСНОВЕ НАНО- И МИКРОЭЛЕКТРОМЕХАНИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ 2009
  • Белозубов Евгений Михайлович
  • Белозубова Нина Евгеньевна
  • Васильев Валерий Анатольевич
  • Васильева Светлана Александровна
RU2397461C1
US 7379629 В1, 27.05.2008

RU 2 526 788 C1

Авторы

Волков Вадим Сергеевич

Баринов Илья Николаевич

Даты

2014-08-27Публикация

2013-04-23Подача