Предметом изобретения является фотоэлектрическое устройство для ко1про;1я качества поверхности деталей, например, заготовок пле)ючиых электричгеких сопротивлений, иутем сравнения контролируемой Детали с эталоном.
Предлагаемое устройство позволяет устранить влияние изменений средней отражательной способности детали (например, вследствие изменений ее окраски) на результаты измерений путем использования исследуемой детали одновременно и в качестве эталона. Для этого в устройстве применены две фотоэлектрические головки, включенные по диффе|)е)1ииа.1ьной схеме и контролируюП1ИС раз.;п1чные части поверхности детали, освеп.аемые разными световыми лучами одинаковой интепсивности, но разных -поперечных сечений, а именно; одна - лучом, который распреде.1яется по всей поверхности детали is пределах ее полного телесного угла, а другая - лучом, площадь поперечного сечепия которого соизмерима с величиной наименьшего дефекта.
С целью исключения влияния нсстаГш.11ЬНости световых лучсй на действие дифференциальной измерцтельной схем1 г в устройстве Применен один oGnuni источпик света для обеих фотоэлектрических головок.
Па чертеже представлена при1П1Итшальная схема устройства.
Заготовка 1 зажимается между двумя роликами 2 и ведуп1пм барабаном 3. При повороте последнего на угол я заготовка делает один оборот вокруг своей оси. Во время вращения заготовки на нее падают два Направленных луча / II //. Луч / имеет площадь поперечного сечения, соизмеримую с плоиипдью всей заготовки, и отражеиная его часть (луч /) практически не будет изменяться при наличии дефектов. меньи1их его по плои1ади. При наличии же дефектов, соизмеримых с поверхностью заготовки, иитеисивиость луча / будет изменяться сравнительно медленно.
,1уч // имеет плоп1адь поперечного сечения того же порядка, что и наименыиий обнаруживаемый дефект поверхиостп. Мри Bpaniennn заготовки луч // непрерывно двигается вдоль ее образуюпюй, прочерчивая по поверхности заготовки соприкасающиеся полосы при перемещении диафрагмы 4, установленноГс на пути
.lyiji //. Отрлжениля члеть луча // (луч //) будет |)() 11:)М(М1ятГ)(;я и ,;пи1оимск:тп от гпгтояиия iioiiLiixiH)crn затот и,ки. С.лсдоиатслыю, площадь луча // опрсдсляот paapoiiiauv щук) способиость системы.
,Пуч / .задает средний у 1овень от)а/кателыюГ способности, а луч If как бы ocMaTjiHRacT поксрхиость заготокки. Отраженные лучи / и //поступают на соответстиующис фотоэлементы 5 W. 6, включенные по дифференциальной схеме.
Световой поток, исходяитнй л одтюго источника 7, разделяется оптической спстемой 8 на две прнблизите.чьно равные части (лучн / п //). Это исключает возможные погрегнностн из-за нестабильности работы источника ciuna, так как и.П1ене1Тие интеисивн(1ети излучения оГ)Н1его источника света НС даст нзмснения напряжения па выходе фото-элементов.
Период пост}нленпя импульсов определяется скоростью движения диафрагмы 4. Одна часть этото периода соответствует времени нахожде 1ия . // на заготовке, друтая- времени от схода до новото поступления луча // на заготовку. Среднее значение напряжения имиульсов равно половине напряжения питания фотоэлементов (при равенстве разделения световых потоков источника между лучами / и //). Отдельные выбросы на импульсах соответствуют неоднородностям поверхности заготовок. Упрапляющнй прибор автомата должен отправлять заготовку в брак, если длительность выброса и его амплитуда (независимо от полярностп) превосходят заданные значения.
Заготовки из дози)ую1цего бункера 9 через центробежный питатель 10 и электромагнитный укладыватель // подаются на барабан 3 через раздвижные ролики 2. При повороте барабана 5 на угол а происходит Контро.ть ), а ирн дальнеГпием lipairieHiiH ПарлПаиа она попадает и ))1езд|) /J, II котором и транспортируется да.-|ыпе. luvni заготовка бракованная, 1) ко lipeMCHH ее подхода к люку 13 носледний открывается управляющим прибором, и заготовка отводится в тару для брака. При отсутствии дефектов люк 13 остается закрытым, заготс)вка транспортируется до открытого люка /4 п по рукаву 15 огводтттся в тару для годных изделий.
П р е д м е т и з о б р е т е и н я
1.Фотоэлектрическое устройство для коит)оля качества поверхности деталей, например, заготовок пленочных, электрических соиротивлеiniii, ио методу сравнения контролируемой дета.чи с эталоном, отл-н ч аю ш е е с я тем, что, с целью устранения влияния изменений средней отражательной способности детали (например, вследствие изменений ее окраски) на результаты измерений иутем использования исследуемой детали одновременно и в качестве эталона, применены две фотоэлектрические головки, включенные по дифференциальной схеме и контролирующие различные части поверхности детали, освещаемые разными световыми лучами одинаковой интенсивности, но разных понеречнь1х сечений, а именно: одна лучом, который распределяется по всей поверхности детали в пределах ее полного телесного угла, а другая лучом, площадь которого соизмерима с величиной нанменьшего дефекта.
2.В устройстве по тт. 1 применение одного общего для обеих фотоэлектрических головок источника света с целью исключения влияния нестабильности световых лучей На действие дифференциальной измерительной схемы.
