Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий Советский патент 1983 года по МПК G01N27/90 

Описание патента на изобретение SU1000893A1

1

Изобретение относится к неразрушающему электромагнитному контролю и может найти применение дащ дефектоскопии, измерения толщины покрытий движущихся коротких металлических изделий, например металлических трубок или стеркней.

Известен электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий, содержащий последовательно соединенные гъизмерительных преобразователей,М блоков формирования сигналов каждого измерительного преобразователя, у блоков вычисления разности среднего значения и сигнала от кажпого измерительного преобразователя, блоков выцелениямопулей, сумматори механизм сортировки,а также блок вычисления среднего значения, входы которого подключены к выходам соответствукядих измерительных преофазователей, а выход подключен к вторым входам блоков вычисления разности среднего значения и сигнала от каждого измерительного преобразователя Г 11

Известный дефектоскоп имеет низкую надежность контроля, что связано с влиянияем неидентичности измерительных преобразователей на результаты контроля.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий, содержащий блок преобразователей , включающий установленные вдоль общей оси два вспомагеггельных и

10 измерительный преобразователи, форми. рователь, входы которого подключены к выходам вспомогательных преофазов&телей, схему установки нуля, входы которой подключены к выходам формирова15теля, опорный генератор, два блока задержки, триггер, соединенные последовательно измерительный прюофазователь, блок обработки сигнала, блок запрета, опорный вход которого подкяючен к вы20ходу триггера, и блок сортировки. Каждый блок задержки выполнен в виде двух схем совпадения, первые входы которых подключены к формирователю, а вторые, входы Соединены с опорным генератором, делителя, соединенного входом с выходом второй схемы совпадения, счетчика, соединенного суммирующим и вычитающим входами с выходами первой схемы совпадения и делителя, а шиной сброса - со схемой установки нуля, дешифратора, чей вход соединен с выходом счетчика, опор ный вход подключен к второму выходу формирователя, а выход дешифратора к входу триггера ,2 . Однако и этот дефектоскоп не обладает требуемой надежностью контроля, так как при его использовании невозмож на отстройка от вариации электрофизичесюос свойств контролируемых изделий по их длине. Цель изобретения - повышение надежности контроля. Поставленная иель достигается тем, что электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий, содержащий блок преобразователей, включающий уста новленные вдоль общей оси измерительны и два вспомогательньос преобразователя, формирователь, две схемы совпадения, счетчик и блок сортировки, снабжен вторым блоком преобразователей, идентичны первому и установленным вдоль обдей с ним оси, вторым формирователем, последовательно coeдинeнны « и включенными между выходом первого формирова теля и блоком сортировки сумматором, блоком вычисления среднего значения, подключенным вторым сигнальным входом к выходу счетчика и управляющим входом - к первому выходу первой схем совпадения, и блоком сравнения, подключенным вторым сигнальным и опорным входами к соответствующим выходам вт рого формирователя, измерительные прео разователи первого и второго блока преоб разователей подключены к сигнальным вх дам первого и второго формирователей со ответственно, а вспомогательные преобра зователи этих блоков - к входам соответствующей схемы совпадения, вторые выходы последних соединены с управляю щими Входами соотвествуюших формирователей, первый выход второй схемы совпадения подключен к шине сброса сче чика и сумматора, второй выход первого формирователя подключен к сигнальному входу счетчика, а измерительный преобразователь каждого из блоков преобразователей размешен между вспомогательныкш. 10 34 На чертеже представлена структурная схема электромагнитного дефектоскопа для контроля коротких изделий. Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий состоит из первого и второго блоков 1 и 2 измерительных преобразователей, состояппк соответственно из измерительных преоб разователей 3 и 4, размещенных между соответствутсндими вспомагательными преобразователями 5, 6 и 7,8, все преобразователи установлены вдоль общей оси формирователей 9 и 10, схем 11 и 12 совпадения, счетчика 13, последовательно соединенных сук1матора 14, подключенного Входом к первому выходу формирователя 9, блока 15 вычисления среднего значения, соединенного сигнальнымг входом с выходом счетчика 13 и jTrpaBляющим входом - с сигнальным выходом схемы 11 совпадения, блока 16 сравнения, соединенного сигнальным и управляющим входами с соответствую цим 1 выходами фop n poвaтeля 10, и блока 17 сортировки. Измерительные преобразователи 3 и 4 подключены к входам формирователей 9 и 10 соответственно, а вспомогательные преобразователи 5,6 и 7,8 - соответственно к выходам схем 11 и 12 совпадения, вторые выходы последних соединены с 5правляюшими входами формирователей 9 и 10 соответственно, первый выход схемы 12 совпадения подключен к шине сброса счетчика 13 и сумматора 14, а второй выход формирователя 9 соединен с сигнальным входом счетчика 13. Блоки 1 и 2 преобразователей должны устанавливаться на расстоянии, превышающем длину контролируемого изделия 18. Электромагнитный дефектоскоп работает следующим образом. В процессе перемещения изделия 18 через блоки 1 и 2 преобразователей измерительные преобразователи 3 и 4 вырабатывают сигналы, которые обозначим С,а2, ,С1у1 и Ь/1, ) соответственно. Изделие считается годным, если , гдеО- -- среднее значе1Иние сигналов, измеренных с помощью первого измерительного преобразователя; .И - число измерений; С - число, полученное экспериментально и определяющее допустимые значения сигналов нри прохождении через преобразователи годного изделия. В исхсдном состоянии формирователи 9 и 10 заблокированы сигналами соответственно с второго вьпода схемы 11 совпадения и с второго выхода схемы 12 совпадения. Изделие 18 движется че рез первый вспомогательный преофазователь 5, где при этом формируется сиг нал и , через измерительный преобразователь 3 и второй вспомогательный преобразователь 6, где при этом формируется сигнал U2- При прохождении нача ла изделия 18 через вспомогательный преобразоватеать 6 с второго выхода схемы 11 совпадения формируется сигнал U, разрешающий работу формирователя 9. При этом на вход счетчика 13 поступают импульсы, число которых в единицу времени соответствует контролируемому параметру изделия 18. Последнее достигается известным путем обработке поступающих на Вход формирователя 9 сигналов от измерительного Преобразователя 3. Одновременно с выхода формирователя 9 сигналы в пос ледовательном коде поступают на вход сумматора 14. При прохождении конца изделия 18 через вспомогательный прео разователь 5 на управляющий вход формирователя 9 поступает сигнал запрета. На втором выходе схемы 11 совпадения в этот момент времени формируется сигнал, поступающий на управлякиций вход блока 15 вычисления среднего значе1шя. При этом в блоке 15 вычисления среднего значения происходит деление информации, находящейся в сумматоре 14, на информацию, находящуюся в счетчике 13 На выходе блока 15 вычисления среднего значения формируется сигнал в параллельном коде, соответствующий среднему значению сигнала. Далее начало изделия 18 проходит через вспомагательный преофазователь 7, где при этом формируется сигнал Uy, через измерительный преобразователь 4 и вспомогательный преобразователь 8, где при этом формируется сигнал -Ug . При прохождении первого конца изделия 18 через вспомог тельный преобразователь 8 с второго выхода схемы 12 совпадения поступает сигнал, разрешающий работу формирова теля 1О. С йыхода формирователя 10 на блок 16 сравнения поступает сигнал, соответств)тощий текущему значению контролируемого параметра. По результатам сравнения выдается соответствующая команда на блок сортировки. При прохождении второго конца изде1.0 65« ЛИЯ 18 через вспомогательный преобразователь 8 формирователь 10 блокируется и. поступает сигнал на сброс счетчика 13 и сумматора 14, т.е. дефектоскоп приводится в исходное состояние. Предлагаемый электромагнитный дефектоскоп обладает повышенной надежностью контроля благодаря получению информации с использованием всего авух измерительных преобразователей,исключению влияния торцов изпелия и скорости его перемещения. Формула изобретения Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий, содержапгий блок преофазователей, включающий установленные вдоль ойцей оси измерительный и два вспомогательных преобразователя, формирователь, две схемы совпадения, счетчик и блок сортировки, о т л и ч аю щ и и С я тем, что, с целью повышения надежности контроля, он снабжен вторым блоком преобразователей, идентичным первому и установленным вдоль обшей с ним оси, вторым формирователем, последовательно соединенным и включенными между выxoдo f первого формирователя и блоком сортировки cyN-iMaTopOM, блоком вычисления среднего значения, подключенным вторым сигнальным входом к выходу счетчика и управляющим входом - к первому выходу первой схемы совпадения, и блоком сравнения, подключенным вторым сигнальным и опорным входами к соответствующим выходам второго формирователя измерительные преобразователи первого и второго блока преобразователей подключены к сигнальным входам первого и второго формирователей; соответственно, а вспомогательные преобразователи этих блоков - к входам соответствующей схемы совпадения, вторые выходы последних соединены с управляющими входами соответствующих формирователей, первый выход второй схемы совпадения подключен к шине сброса счетчика и сумматора, второй выход первого формирователя подключен к с|1гнальному входу счетчика, а измерительный преобразователь кажаого изблоков преобразователей размещен межцу вспомогательными. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР №544905, кл. G 01 N 27/90, 1976. 2.Авторское свидетельство СССР № 836575, кл. GO1 М 27/90, 1981 (прототип).

мгч

tea

П5

::

«90 /

N. /

Похожие патенты SU1000893A1

название год авторы номер документа
Электромагнитный дефектоскоп 1981
  • Демидов Михаил Владимирович
  • Канаев Александр Сергеевич
SU1040402A1
Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий 1983
  • Шатерников Виктор Егорович
  • Алексеев Александр Петрович
  • Яблочкин Сергей Иванович
SU1132216A1
Электромагнитный дефектоскоп 1984
  • Демидов Михаил Владимирович
  • Придача Григорий Яковлевич
SU1250930A1
Вихретоковый дефектоскоп 1986
  • Алексеев А.П.
  • Сайманин А.Е.
SU1402081A1
Дефектоскоп для контроля изделий в процессе их движения 1980
  • Алексеев Александр Петрович
  • Быховский Илья Юрьевич
  • Черных Владимир Дмитриевич
SU896536A1
Дефектоскоп для контроля изделий в процессе их движения 1983
  • Быховский Илья Юрьевич
  • Федоровский Владимир Федорович
SU1132215A1
Устройство к дефектоскопу для блоки-РОВКи KPAEB издЕлия 1979
  • Алексеев Александр Петрович
  • Быховский Илья Юрьевич
  • Скворцова Августина Петровна
SU836575A1
Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий 1986
  • Алексеев Александр Петрович
  • Артемьев Юрий Георгиевич
  • Зотов Владимир Валентинович
  • Кирякин Арнольд Викторович
  • Шатерников Виктор Егорович
SU1325348A1
Электромагнитный дефектоскоп 1983
  • Демидов Михаил Владимирович
  • Канаев Александр Сергеевич
  • Вантерс Эглонс Хугович
SU1147966A1
Оконечное устройство к дефектоскопу 1977
  • Мельников Игорь Викторович
  • Савиковский Леонид Аронович
  • Соломатин Николай Алексеевич
SU658465A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 000 893 A1

Реферат патента 1983 года Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий

Формула изобретения SU 1 000 893 A1

|

SU 1 000 893 A1

Авторы

Алексеев Александр Петрович

Быховский Илья Юрьевич

Рудь Виктор Васильевич

Федоровский Владимир Федорович

Даты

1983-02-28Публикация

1981-10-16Подача