Способ неразрушающего контроля микротвердости проводящих покрытий Советский патент 1983 года по МПК G01N27/80 

Изобретение относится к способам неразрушающего контроля микротвердости проводящих металлических покрытий, в частности хромовых покрытий, и может быть применено в различных областях мащиностроения. Известен способ измерения микротвердости покрытий неразрушающим методом, заключающийся в том, что в испытуемую хорошо обработанную поверхность (металлическую) под действием нагрузки вдавливают индентор в форме пирамиды и по величине, отпечатка определяют микротвердость Ci3 Однако указанный способ исключает проведение контроля микротвердости покрытий непосредственно на деталятс, так как для ее измерения необходимо изготовить шлиф, т.е. разрушит деталь. Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ не разрушающего контроля микротвердости проводящих покрытий, заключающийся в том, что измеряют электропроводность во следуемого образца и по полученной ранее на ряде образцов с различной микротвер достью эталонной зависимости электропррводности определяют микротвердость исследуемого образца С2 }. Однако способ не обеспещюает необходимую точность измерения микротвердооти покрытий из-за влияния на измеряемую электропроводность электромагнитных свойств основания, на которое нанесено покрытие. Цель изобретения - повышение точиооти контроля. Указанная цель достигается за счет того, что согласно способу измеряют электропроводность для образцов также а с различной толщиной их покрытий, с учетом которой определяют микрогвердость покрытия. Известно, что между микротвердостью и электропроводностью, например хромового покрытия, . существует однозначная линейная зависимость. Из этого следует, что измерив впектропровод кость покрьл. тия, например хрома, можно судить о мнкротвердостЕ покрытия. Это правомерно только в тех случаях когда глубина вихревых токов меньше толщины покрытия. При контроле тонких покрытий (толлда ва вгжрытий меньше глубины проникновения вихревых токов), на величину сигнала вихретокового преобразователя оказывают влияние электромагнитные свойства основания. Повышение частоты, на которой провз водится измерение электропроводности, для уменьшения глубины проникновения вихревых токов снижает Чувствительност способа. Для образцов с различной микротвердостью и толщиной покрытия строятся эталонные зависимости электропроводности от микротвердости для различных толшин. Поскольку покрытие исследуемого образца нанесено на основание из того же материала, «лго и образцы, на которых снималась эталонная зависимость 1вмеряя электропроводность вихретоковым методом и толщину .псжрытия одним из известных способов по эталонным зависимостям, учитывающим влияние толщины покрытия и электромагнитные свойства основания на измеряемую электропроводность, определяют микротвердость покрытия исследуемого образца. Пример. Проводится измерение микротвердости хромового покрытия на де талях из высокопрочной стали ЗОХГСН2А Толшина хрсмового покрытия, измеренная магнитным толшкномаром, составляет 20,35,50 и 75 мкм. Для определения микротвердости хромового покрэ1тия на деталях сначала строят эталонные зависимости электропроводности от микротвердости для обр 1зцов с различной толщиной покрытия. Затем измеряют электропроводность хромового и по полученным эталонным зависимостям электропроводности от микротвердости при различной толщине покрытия определяют микротвердость хромового покрытия детали. Использование изрбретения позволит обеспечить объективный 100%-ный контроль качества, в 4acTHocfH, хромовых покрытий, повысить надежность и ресурс восстановленных при ремонте авиационных деталей, а также снизить трудоемкость по определению микротвердости покрытий при проведении научно-исследовательских работ. Формула изобретения Способ неразрушающего контроля мвкротвердости проводящих покрытий, заключающийся в том, что измеряют электропроводность исследуемого образца и по полученной ранее на рядп образцов с различной мшсротвердостью эталонной зависимости электропроводности определяют микротвердость исследуемого образов., ртличающийся тем, что, с целью повышения точности контро ля, измеряют электропроводность для образцов также и с различной толщиной их покрытий, с учетом которой определяют микротвердость покрытия. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Харитонов Л. Г. Определение микротвердости. М., Металлургия, 1967, 2.НеразруШающий контроль металлов и изделий. Справочник .под ред. Г. С Самойлова. М., Машиностроение, 1976, с. 221-223 (прототип).