Приставка к монохроматору для измерения коэффициента отражения поверхностей в направлении "назад Советский патент 1983 года по МПК G01N21/55 

Описание патента на изобретение SU1004824A2

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для измерения оптических характеристик поверхностей объектов.

По основному авт. св. 721719.известна приставка к монохроматору для измерения коаффициента отражения поверхностей в направлении назад, содержащая полупрозрачную пластину, объектив, образец, ослабитель потока излучения, вспомогательное зеркало, составляющее ав--. токоллимационный измерительный и опорный каналш,модулятор, поочередно превыыаю 1С1й потоки излучения в каналах и фотоприемник, причем в.я1Омогательмое зеркало измерительного канала выполнено даухгранным с воэможностью разворота грани вырождения зеркала в плоское, в опорном канале установлена вогнутое контрзер капо, а модулятор выполнен коничес,ким l.. ,

Недостатком этого устройства являiгтcя невозможность измерений козффициента отражения с высокой точностью во всех спектральных диапазонах, поскольку различна погреш.ность измерений, вносимая влиянием отраженного на фотоприемник от лопбстей конического модулятора паразитного излучения.из-за неодинаковости индикатрис рассеяния лопастей модулятора в зависимости от спектра излучения. Так, например, в видимом диапазоне допустимы измерения при 90 конусности модулятора, однако в ИК-диапазоне оптимальными становится измерения при 120 конусности.

Цель изобретения - расширение спектрального диапазона измерений.

Указанная цель достигается т&л, что П1)иставка к монохроматору снабжена средством изменения угла конусности модулятора, выполненньш в виде подвижной вдоль оси вращения модулятора конусной гайки с внешней резьбой, входящей в зацепление с

20 резьбой, выполненной на внутренних сторонах лопастей модулятора, на которых дополнительно нанесено зеркальное покрытие.

На фиг.1 представлена оптическая схема приставки; на фиг.2 - пример конструктивного исполнения модулятора.

Схема включает щель 1 монохроматора, полупрозрачную пластину 2, 30 фотоприемник 3, объектив 4, вспомогательное д ухгранное зеркало 5, dS раэец 6, конический модулятор 7,сфе рическое вогнутое контрзеркало 8. ослабитель 9 потока из/.учения, подвижную конусную гайку 10 с внешней резьбой, входящей в зацеплении с резь Сой 11, вь-полненной на внутренних сторонах лопсстей модулятора ил вспомогательных пластин 12, соединенных с ними, на KOTOpfx дополнитех.ьно нанесено зеркальное покрытие .13. Приставка работае:т следующим образом. Производится балансировка каналов по переменному сигналу с фотоприемника (выравнивание потоков) отг дуированным в относительных делениях пропускания ослабителем 9, например клином; при этом зеркало 5 находится в положении двухграннос; , число делений на шкале клина - Ыа . Затем зеркало 5 переводится в положение плоское, каналы расбалансируются и для их выравнивания (всле ствие потерь излучения на поверхност образца 6) требуется в опорном, канале ВЕести клин 9 на fiiN делений, А6 солютныйкоэффициент отражения назад Е общем случае под углом с/ определяется как . уиыПри переходе от одного спектрального диапазона к другому, например от видимого к инфракрасному , изменяют угол конусности модулятора. Для этого перемещают (вворачивают или выворачивают) гайку 10 резьбовой части 11 лопастей модулятора или пластин 12, закрепленных на лопастях Благодаря упругости лопаштей модулятора ОКИ или расходятся, увеличивая угол конусности, или сходятся уменьшая угол конусности. Нгшичие зеркального покрытия 13 на втуренних сторонах лопастей модулятора формирует остронаправленную индикатрису отраженного на фотоприемник 3 паразитного излучения. Тем самым упрощается отвод мешающего излучения даже при сравнительно небольших изменениях угла конусности, чем, например, при незеркальном покрытии. Таким образом, с использованием несложных средств представляется возможность изменения угла конусности модулятора. При. этом точное значейие угла устанавливается непосредственно в устройстве по сигналу с фотоприемника, т.е. без использования сторонних средств измерений. Точность измерений при использовании модулятора с переменным углом конусности повышается на 10-15%. Формула изобретения Приставка к монохроматору для измерения коэффициента отражения поверхностей в направлении назад по авт.св. № 721719, о т л и ч а ющ а я с я тем, что, с целью расиирения спектрального диапазона измерений, она снабжена средством изменения угла конусности, модулятора, выполненным в виде подвижной вдоль оси враще.ния модулятора конусной гайки с внешней резьбой, входящей в зацепление с резьбой, выполненной на внутренних сторонах лопастеймодулятора, на которых дополнительно нанесено зеркальное покрытие. . Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР № 121719, кл. eoiN 21/55, 1980.

Похожие патенты SU1004824A2

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОГО КОЭФФИЦИЕНТА ЯРКОСТИ И АБСОЛЮТНЫХ ЗНАЧЕНИЙ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЯРКОСТИ И ОБЛУЧЕННОСТИ ПОВЕРХНОСТИ МОРЯ 2017
  • Ли Михаил Ен Гон
  • Федоров Серей Вячеславович
RU2659902C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНЫХ КОЭФФИЦИЕНТОВ НАПРАВЛЕННОГО ОТРАЖЕНИЯ СВЕТОРАССЕИВАЮЩИХ 1973
SU361395A1
Оптико-электронная приставка к коллиматору для измерения спектрального коэффициента пропускания объективов 1980
  • Авдеев Сергей Павлович
  • Сокольский Михаил Наумович
  • Щербаковский Зиновий Савельевич
  • Ялышев Фарид Хусанович
SU883689A2
Устройство для дистанционного измерения тепловых деформаций оптических элементов 1972
  • Кашпар Евгений Иванович
SU443250A1
Способ определения лучевой прочности оптического покрытия 1986
  • Путилин Эдуард Степанович
  • Старовойтов Сергей Федорович
SU1370531A1
КАЛИБРУЕМОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ И ПОРОГОВОЙ ЭНЕРГИИ ФОТОПРИЕМНЫХ УСТРОЙСТВ С ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМОЙ 2012
  • Ершов Александр Георгиевич
  • Кувалдин Эдуард Васильевич
RU2515132C2
Устройство для измерения коэффициента зеркального отражения оптической поверхности 1982
  • Дыхнилкин Юрий Васильевич
  • Конашенок Владимир Николаевич
  • Погорелый Петр Анатольевич
  • Романова Наталия Витальевна
  • Шибаров Евгений Иванович
SU1068783A1
Устройство для измерения индикатрис рассеяния нагретых образцов 1985
  • Хрипунов Петр Константинович
  • Клишин Виктор Алексеевич
SU1343313A1
Устройство для исследования поляризационных свойств анизотропных материалов 1982
  • Коротаев Валерий Викторович
  • Медведкин Геннадий Александрович
  • Панков Эрнст Дмитриевич
  • Рудь Юрий Васильевич
SU1045004A1
Спектрофотометр 1987
  • Лагутин Владимир Игоревич
  • Миндлин Наум Яковлевич
SU1516803A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 004 824 A2

Реферат патента 1983 года Приставка к монохроматору для измерения коэффициента отражения поверхностей в направлении "назад

Формула изобретения SU 1 004 824 A2

SU 1 004 824 A2

Авторы

Авдеев Сергей Павлович

Лебедько Евгений Георгиевич

Ялышев Фарид Хусаинович

Даты

1983-03-15Публикация

1981-09-29Подача