СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНЫХ КОЭФФИЦИЕНТОВ НАПРАВЛЕННОГО ОТРАЖЕНИЯ СВЕТОРАССЕИВАЮЩИХ Советский патент 1973 года по МПК G01J3/12 

1

Изобретение относится IK способам оптических измерений и может найти применение При определении спектрального полусферического коэффициента отражения материалов в широком диапазоне спектра.

Согласно известному способу определения спектральных коэффициентов направленного отражения на спектрометре с приставкой для измерения направленного отражения, необходимо измерить интенсивность излучения источника без образца или отрал ения эталонного зеркала и интенсивность отраженного от образца излучения на данной длине волны по данному направлению.

При .малой величине отрал ;ения измерения, выполненные известным способом, содержат значительные ошибки.

Согласно предложенному способу, при измерении интенсивности источника без образца раскрывают щель монохроматора до получения на выходном приборе максимального отсчета, затем, В.ВОДЯТ в контрольный канал (т. е. между фотоприемником и местом установки образца) ослабитель, снимают показание прибора при введенном ослабителе, вновь расширяют щель монохроматора до получения максимального отсчета, снимают показания прибора и вводят новый ослабитель.

Эту процедуру повторяют до достижения ширины щели монохроматора, при которой отсчет на выходном приборе приближается к максимальному значению при измерении отражения от образца, затем снимают показание прибора при отражении от образца и с учетом

ослабления излучения в контрольном канале за счет введения всех ослабителей рассчитывают коэффициент отражения для выбранных условий.

Применение данного способа в ряде случаев

позволяет увеличить точность измерений в десятки раз.

Предмет изобретения

15

Способ определения спектральных коэффициентов направленного отражения светорассеивающих материалов путем последовательного измерения интенсивности надающего на

образец и отраженного от пего излучения на спектрометре с приставкой для измерения направленного отражения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, При измерении интенсивности падающего на

образец излучения раскрывают щель монохроматора до получения на выходном приборе максимального отсчета, вводят в контрольный канал ослабитель, отмечают показание прибора, многократно повторяют эту процедуру

до достижения ширины щели монохроматора. 34

при которой отраженное от образца излучениещего ослаблетия излучения в контрольном кадает на приборе отсчет, близкий к максималь-нале за счет введения ослабителей рассчитыному, нроизБодят замер интепсивпости отра-вают коэффициент направленного отражения

женного от образца излучения и с учетом об-на выбранной длине волны.

3611395