М
сь pt
Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к интерференционным тонкослойным оптическим фильтрам.
Известен многослойный интерференционный отреэакхчий фильтр, содержащий интерференционную систему, образованную чередующимися элементарными слоями с показателями преломления пн 2,3, Пн 2,15, n 3,02, HI, 1,35 и расположенную между двумя подложками с показателем преломления Пд 1,52. Элементарные слои расположены в такой последовательности, что образуют 17-слойное покрытие типа S 0,5 Н 0,5 н 0,5 HLH... HL 0,5 Н 0,5 н 0,5 HS l .
Недостатком данного устройства является то, что оно обладает узкой спектральной областью прозрачности с высоким коэффициентом пропускания, Кроме того, оптические толщины некоторых элементарных слоев не равны
Л /4, что приводит к возникновению определенных технологических трудностей. .
Известен также многослойный ,интерференционный отрезающий фильтр, содежащий заключенную между двумя подложками интерференционную систему, образованную чередующимися элементар ными слоями с показателями преломления Пц, Пц, Пц, Пц оптическая толщина каждого из которых равна четверти длины волны. Элементарные слои интерференционной системы расположены в такой последовательности, что образуют покрытие типа S CL L L HHL LL ) S , содержащее, например, 64 элементарных слоя () 2)
Недостатком известного устройства является то, что оно обладает узкой спектральной областью прозрачности с высоким коэффициентом прог пускания.
Целью изобретения является расширение спектральной области прозрачности с высоким коэффициентом пропускания.
Поставленная цель достигается тем, что в устройстве, содерщем заключенную между двумя подложками интерференционную систему, образованную чередующимися элементарными слоями с показателями преломления п,, п,, п, п , оптическая толщина каждого из которых равна четверти длины волны, при этом Пн -высокий показатель преломления, n|j, низкий показатель преломления, элементарные слои интерференционной системы расположены в такой последовательности, что образуют покрытие типа SHLHL K(HL)HL HLHS где ,1.
2..., а показатели преломления удовлетворяют усилиям лп п -Пц г 1 ,
Па ° L ° -J н L L где Пд - показатель преломления подложек.
На фиг. 1 схематично представлен предложенный фильтр; на фиг. 2 график .спектральной зависимости коэффициента пропускания Т от относительного значения длины волны .
Многослойный интерференционный oтpeзaющий содержит подложки il и 2 показателем преломления п и заключенную между ними интерферен-. ционную систему 3, образованную чередующимися элементарными слоями с показателями преломления п, п, п и оптической толщиной каждого элементарного слоя, равной четверти длины волны.
Спектральная зависимость коэффициента пропускания Т известного 64сложного фильтра приведена на фиг.2, т. е. кривая 4, а кривая 5 характеризует фильтр, который описан в примере.
Пример. Многослойный интерференционный фильтр содержит подложки 1 и 2 из материала с показателем преломления Пд 1,7 и заключенную между ними интерференционную систему 3, образованную семнадцатью черегдующимися элементарными слоями с показателями преломления: Пц 2,2, Пц 1,32, RL п - If и 1,5, расположенными в такой последовательности, что образуют покрытие типа SHLHL K(HL)HL HLHS (). Спек- тргшьная характеристика фильтра, |близка к заданной, может быть получена при выполнении элементарных слоей из следующих материалов: ZnS (Пн), криолит (HL,) , РЬРд (П, ), YF() Подложки выполнены из стекла ТФ-5.
Как следует из сравнения представленных на фиг. 2 характеристик спектральная область прозрачности с высоким коэффициентом пропускания предлагаемого фильтра в два раза тире, чем у известного.
Фильтр имеет симметричную спектральную характеристику, что позволяет использовать его в качестве длинноволнового и коротковолнового отрезающего фильтров, известный фильтр может быть использован как длинноволновый.
Ожидаемый экономический эффект от использования предлагаемого устройства по сравнению с известным устр ойством составит не менее 180руб
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ изготовления полосового контрастного диэлектрического пропускающего оптического фильтра | 1974 |
|
SU553565A1 |
Оптический интерференционныйОТРЕзАющий фильТР | 1979 |
|
SU847243A1 |
Интерференционный отрезающий фильтр | 1983 |
|
SU1103179A1 |
Оптический узкополосный фильтр, модулирующий полосу поглощения вещества | 1990 |
|
SU1748113A1 |
Оптический интерференционный длинноволновый отрезающий фильтр | 1980 |
|
SU862098A1 |
Диэлектрический узкополосный интерференционный фильтр | 1989 |
|
SU1748111A1 |
Оптическое интерференционное амплитудно-изотропное зеркало | 1981 |
|
SU992429A1 |
Светоделитель для визирных систем оптических приборов | 1979 |
|
SU917156A1 |
Антиотражательный интерференционный светофильтр | 1983 |
|
SU1125589A1 |
Интерференционный отрезающий фильтр | 1982 |
|
SU1125588A1 |
МЙОГООЮЙНЫЙ ИНТЕРФЕРЕН1ШОННЫЙ ОТРЕЗАЮПШЙ ФИЛЬТР, содержащий заключенную между двумя подложками интерференционную систему, ; образованную чередующимися элементарными слоями с показателями преломления, п, Пц| Пц«, Пц , оп1ичёская толщина каждого- из KOTOI%IX равна четверти дпины волны, при этсм. Пц - высокий показатель преломления, П|, - низкий показатель преломления, о т л и ч а id ц и и с я . тем, что, с целью расширения сэтектральной области прозрачности с высоким коэффициентом пропускания, элементарные слои интерференцнЪнной системы образуют покрлгаие типа SHLHL K(HL)HL HL HS, где к s ОД,2,..., а показатели преломления удовлетворяют условиям и - дп I где Пд - показатель преломления подложек.
Авторы
Даты
1983-03-23—Публикация
1981-12-29—Подача