Устройство для измерения перемещений Советский патент 1983 года по МПК G01B9/02 

Описание патента на изобретение SU1017915A1

Ё1Э-66

«I

М

Похожие патенты SU1017915A1

название год авторы номер документа
Способ создания интерференционных полей с фазовым сдвигом от 0 до 180 @ 1990
  • Кирьянов Валерий Павлович
  • Коронкевич Вольдемар Петрович
  • Ленкова Галина Александровна
  • Лохматов Анатолий Иванович
  • Тарасов Георгий Гаврилович
SU1768957A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ 1991
  • Миронов Александр Владимирович
  • Привалов Вадим Евгеньевич
  • Синица Светлана Александровна
RU2087858C1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ 1991
  • Лешенюк Николай Степанович[By]
  • Ядройцев Игорь Анатольевич[By]
  • Комиссаров Сергей Григорьевич[By]
  • Ядройцева Инна Анатольевна[By]
RU2025655C1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ ОБЪЕКТОВ 2020
  • Сигитов Евгений Александрович
  • Бессонова Анна Ивановна
  • Арав Константин Валерьевич
RU2745341C1
Лазерный интерферометр для измерения линейных перемещений объекта 1991
  • Михальченко Евгений Петрович
  • Рюмин Алексей Владимирович
  • Яковлев Николай Александрович
SU1793204A1
Интерферометр для измерения линейных перемещений объектов 1989
  • Смоляков Александр Николаевич
  • Сигитов Евгений Александрович
  • Лазовский Феликс Львович
SU1800259A1
Лазерный интерферометр 1991
  • Прилепских Владимир Дмитриевич
  • Ханов Владимир Андреевич
SU1825968A1
Двухволновый лазерный измеритель перемещений 2020
  • Лавров Евгений Александрович
  • Мазур Михаил Михайлович
  • Шорин Владимир Николаевич
  • Судденок Юрий Александрович
RU2742694C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОПЕРЕЧНЫХ СМЕЩЕНИЙ 1991
  • Апонин Г.И.
  • Бесшапошников А.А.
  • Гурашвили В.А.
  • Кулаков Д.М.
  • Малышев А.Ю.
  • Михайлин Ю.С.
RU2069839C1
Интерференционный способ измерения линейных и угловых перемещений зеркальных элементов 1978
  • Шуренков Александр Андреевич
  • Кольцов Игорь Михайлович
  • Михеев Валерий Павлович
  • Розов Борис Сергеевич
SU721667A1

Реферат патента 1983 года Устройство для измерения перемещений

УСТРОЙСТВО ДЛЯ тРВМЕПЩНЙЙ, содерж1иаее двухчастотный источник излучения, йнтер41ерЬмвтр типа Майкельсона, отражатели опсфио го и измерительного плеч которохч) выполнены в виде угопквкцх. отражателей, и айаяиаатор и приемник язлу-. чения, последовательно установлениы на выходу интерферометра, от ли « ч а п це ее я ; тем что, с. целью повкшеяия TOVHociTH, оно снабжёвр пбпуволновой пластиной, установленной в ; опорном плече интерферометра на пути иалучфяи от светодвлнтвЛ к отражатещо и четв тьволнов М пластиной,1размеценной между сьетодес литвлеми анализатором.. А.

Формула изобретения SU 1 017 915 A1

сл Изобретение относится к контроль .но-измерительной технике и может быть использовано для измерения перемещений, в частности при исследовании ударов и вибраций. Известны устройства для измерения перемещений, содержащие одночас тотный лазер и интерферометр типа Майкельсона 1. Недостатком известных устройств являются невысокая точность и стабил ность.вследствие даейфа нуля и пропорциональной зависимости между час тотой сигнала и скоростью контролируемого объекта. Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому результату является устройств для измерения перемещений, содержащее двухчастотный источник излучени интерферометр типа Майкельсона, отражатели опорного и измерительного плеч которого выполнены в виде уголковых отражателей, анализатор и приемник излучения, последовательно установленные на выходе интерферометра С2:. Однако устройство отличается недостаточно высокой точностью из-за сложности юстировки оптической схемы. Цель изобретения - повышение точ1.НОСТИ . Для достижения поставленной цели устройство для измерения перемещений снабжено полуволновой пластиной, ус .тановленной в опорном плече интерферометра на пути излучения от светоде лителя к отражателю, и четвертьволновой пластиной, размещенной между светоделителем и анализатором. На чертеже изображена схема устройства для измерения перемещении. Устройство содержит двухчастотный источник 1 излучения, интерферометр типа Майкельсона, содержащий светоделитель .2 и установленные в измерительном и Опорном плечах интерферометра уголковые отражатели 3 и 4, размещенные последовательно по ходу излучения четвертьволновую пластину 5, анализатор б и приемник 7 излучения. В опорном плече интерферометра размещена полуволновая пластина 8, установленная на пути излучения от светоделителя 2 к отражателю 4. Разночастотные компоненты двухчастотного источника 1 излучения с правой (для частоты u)) и левой (для частоты u/j) круговыми поляризациями поступают в интерферометр Майкельсона, где с помощью светоделителя 2 из лучение направляют на уголковый отра жатель 3, скрепляемый с контролируемым объектом., и через полуволновую пластину 8.- на отражатель 4. Полу.волновая пластина 8 служит для измеМнения направления круговых поляризаций составляющих компоненто1в излучений, направляе1 1х на отражатель 4. Отраженные от отражателей 3 и 4 излучения проходят через четвертьволновую пластину 5, преобразующую излучения, поляризованные по кругу, в излучения линейно-поляризованные . bosw.t cos ( J Е sin bOjt+si n - Vjj Jj s(t),- 4- D. и)- Допплеровские изменения фазы, излучений частот ш и ш,. , определяемые законом перемещения объекта S (t) ; Е - амплитуда электрической световой волны; с - скорость света. С помомью анализатора б на выходе интерферометра соответствующие компоненты отраженных излучений приводят к одной плоскости поляризации. Положение анализатора б относительно четвертьволновой пластины 5 определяет усредненную интенсивность интерференционного поля, воспринимаемую приемником излучения 7. Так, если ось анализатора 6 составляет угол р 0° по отношению к осям 1етвертьволновой пластины 5, усредненная интенсивность интерференционного поля на выходе анализатора б имеет вид :V-2E l-03p., .а при о .90° l.cos(«t-4 J где Q - Wg- w. Если угол р составляет 45, то при отключенном спорном плече интерферометра выражение (2) для усредненной интенсивности примет вид 3 + 4 J,. (5) 0&J4HO в интерференционных схемах еделы измерения определяют, исходя из 3научения несущей частоты 52 . В предлагаемой схеме за счет того, что допплеровский эффект можно опреелять значениями частот излучения й и (2) либо значением несущей астоты 51 (6), пределы измерения мо310179154

гут быть изменены без изменения эна-пластин, установленных указанным спочения несущей частош. собом, позволяет упростить юстировТаким образом, ввддение в устрой- ку оптической схемл, что приводит к

ство четвертьволновой и полуволнозвойпов&воению точности измерения. . .

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1983 года SU1017915A1

i
Вагнер Б
Т., Митрофанов А
А
.Барков В
И
Лазерные и оптичес кие методы контроля в сшмолетосгро- енни
М., Машиностроение
с
Приспособление для записи звуковых явлений на светочувствительной поверхности 1919
  • Ежов И.Ф.
SU101A1
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Н
и яр
Измекжхель угловых и линейных первмшценйй на основе двухчаетотноголаз«ЧЕ а
Авточ-
метрия, 1975, с
Приспособление для автоматической односторонней разгрузки железнодорожных платформ 1921
  • Новкунский И.И.
SU48A1

SU 1 017 915 A1

Авторы

Бараш Владимир Яковлевич

Федотова Галина Васильевна

Даты

1983-05-15Публикация

1981-05-19Подача