Для из1 ерения толщины паено-к лакокрасочных покрытий существует много приоиров - от обыкновенного мнкрохстра до электромагнитных приборов. Обиош недостатком многих из этих приборов является то. что измеряющие инструменты нронзиодят при измерении иекоторое давление на пленку. дефор5шру1ощее ее, что всегда сопря/кено с некоторой иеточноетыо иимереняя. особенно если пленка мягкая, а площадь Давления незначительна. Магнитоэлектрические приборы оироде.дишт толщИ11у пленки не в определенной точке, а на нгкотороп илощадп. что дает среднвпи толпдину иленки данной . Метод иеиетрации связан с трудностями ir всон гки101 1,нмп неточностями определения ,нта ((Н)нкосновепия иглы с новерхнп;:ть о ;п;.нк;1 и моментом ко1пта njjoхождения r.ceit т.глнщ пленки. Сноспоы, оскованньп- на электрических свойствах нленки, зависящих от состояния пленки и среды, могут дать оншбки. оиусл вленнтле указанной зависимостью.
Пред.лагаемый сяособ лишен этих недостатков, так как измерение аю этому CH:I;Mау не «вызывае.т ннкаких деформаций пленки и не зависит от состояния иленки, и оиределение может быть проведено в любой ТОЧКИ поверхности иленки.
Способ заключается в том. что. используя д ойной микроскоп системы академика Линника МИС-11, устанавливают два его тубуса в вертикальной плоскости под углом i)0 друг к другу и под углом в 45°
к горнзонтальнон поверхности иленки. При номон1,и одного тубуса иа место изме11ения (на этом месте нленку полностью прорезают царапиной) наводят луч, а при ПОМ01ЦН другого тубуса измеряют расстояiuie мея;ду лучом, отраулсиным от верхней поверхности нледЕкн, и лучом, отраженным со дна т арапины. Полученное число умно;i;aioT на .аранее онределенный коэффициент. с1;язываюн,ий неносредственно замо1И ему1о величину с толниной пленки, и 1 -1луч :1 1Г толщину пленки в микронах или других единицах длины. Способ занимает мало В11емен:и и дает точность до O.Fi микрона.
51 р е д м е т )г з о б р е т е н н я
ГЛ11,.||б оптического определения толгдиHBI иле)1;ч-: лакокрасочных иокрытий с помощью двойного Mi KpocKOaa, (1 т л н ч а ю 5; il с я тем, что. с целью новьпиеиия точности и ускорения определения, на меt:To измерения нангсят п.,арапину. доходяHivio до но.ьдо.ккп 1;л1пк, и нрн по:.;, п-п одного нз тубусов микроскона наводят на нее луч света под углом 45°, а при помощп вт/.рого тубуса измеряют расстояние между 1:траженнымн .лучамн - одним, птраженпы г от верхней поверхности пленки, и другим - со дна цараннны, и для оноеделения толщины иленкн умножают по.ученную величину на заранее онределенпый кнэпнющнент, -связываюнцй эту нснос11(дственп-:1 замеренную величину е толп( иленки.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ контроля качества диэлектри-чЕСКиХ плЕНОК | 1979 |
|
SU828057A1 |
Интерференционный способ определения показателя преломления | 1980 |
|
SU868498A1 |
СПОСОБ РАЗМНОЖЕНИЯ ХУДОЖЕСТВЕННЫХ ПРОИЗВЕДЕНИЙЖИВОПИСИ | 1969 |
|
SU240576A1 |
Термический способ изготовления трафаретной печатной формы | 1973 |
|
SU627739A3 |
Функциональный преобразователь | 1978 |
|
SU794639A1 |
ПОЛЕВОЙ ТРАНЗИСТОР С МОП-СТРУКТУРОЙ | 1970 |
|
SU287629A1 |
ПОЛЯРИЗОВАННОЕ РЕЛЕ | 1969 |
|
SU236645A1 |
Устройство для измерения температуры | 1979 |
|
SU827986A1 |
ДАТЧИК ПЛОТНОСТИ ПЛЕНКИ | 1972 |
|
SU357463A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ СЛОИСТОГО БУМАЖНОГО ПЛАСТИКА | 1968 |
|
SU220480A1 |
Авторы
Даты
1955-01-01—Публикация
1952-02-02—Подача