Плиестные сиосииы ощюдсления свстоijijx xapaKTLpiscTiiic (1 итомлоктр01П1ЫХ при001)01;, v,(HM;iciui i;oT.(ipi,n i-ucTOBoii поток, поданаомый на ilioTUKUTo.T ис лодуемого ириоор;, р улируется с иомощьи градуиpon;uiiioro серого i;aniiiL иимрияется любым иным путем (iianpiiMOi), нсгрндуиpunainibiM клипом, диафрагмой и. т. П.))
а (i|)31CTC5 ПТИЛОНИНМ (МГГ()М,
ныиют ряд педостаткон и HR всегда дают достаточную степень топюсти измерений.
С целью повышения точности и упрощения нроцееса измерения, предлагается иснользовать для из epeннf не эталонный фотоэлемент, а сам исследуемый фотоэлектронный прибор. Измерение свотоных нронзноднтсн нри ятом измс|)оии(м; иыходноп) тока фотоэлектрич ruoro iL|)ii6o)a, :..Ч1им1, 1;пторого от ocu(MH(Miii(ii;.TU UMfCT ир.н соотиетственпо ослабленном световом нотоко линейный ИЛ1 иочти .чинейный характер.
lIijH таком методе нет необходимости R градуированном клине, световой ноток изменят, )ым нутем, а измерения MO:I:HO нронзг.однть стрелочными приoop.iMii TiiKoio 1;ласса точности, 1;а1;ой треГ|у(;тг,.я по условиям и; мерс1И1 1.
1а фиг. 1-I показаны 1;п11ианты схем устаишяи; для н:.;( сг,етовых характерисип; линейных или имеющих 1езначит(льн1)е отклонение от линейности.
Световой НОТ01С от псточ тз1ка U Гфиг. 1) чс)е; вогомогателмилй фильтр Ф и ceiiLiii ьлин li нонада(т на нсследуемый фотозлектрон |.1Й нрибор ФЭП, ток. в ц(11и котг)))ого измеряется нрибором Т. величина, светового нотока измс11ЯСТС11 в необходимых нроделах перемещением серого клина СК. нолол;ений клина г, усЛ11|;.1Нва1 Пи неоГ|.1(,11:мым количеством точен для построепия исследуемой характернстики. При 1;а:;;дом по.южении cepoio ьмииа ии iipnuiiiiy I делается дна отсчета - один при световп л потоке, ослаблен} ом введением вспомогательного фильтра Ф, другой - при поToice без пиедения фильтра. Уволичеиио светового iiOTOica при отсутствии испомогательпого фильтра сопровождают соответственным уменьн1енпем чувствительности И1)ийора I, для чего ключом К включают . 1нунт Ш.
(оглисяо второму BapiuiHTy, схема измеренпй останется прежней, однако, кратные световые потоки получают включением сопротивления R в цепь нсточни1:а света.
На фиг. 3 показана схема измерений в случае, когда, световая характеристика фотоэлектрического прибора имеет в начальной части загиб. В атом случае, с целью сме1цения используемого участка в лпнейпую или почти линейную часть характеристики, применяют дополнительны ifCT04 n K света Ui н одповремеиио с включением его в измерительный прибор I вводят Toi;, компенсирующий фототок, вызываемый донолнительным гкетовым потоком.
Предмет -изобретения
1. Способ измерения световых характеристик фотоэлектронных приборов, при котором световой поток, Попадающий на фотокатод нсследуемого нрнбора, регули1)уется с помощью градуированного нейтрального серого клина, о т л и ч а ющ и и с я тем, что, с целью повышеиия точности н унрощення процесса измбренпя, градуиропку ук.имппюго клина ироизиулят при wjr:i6.4C)imiix зпачоииях светового потока и I KJiincTue прибора с эталонной свстопон характсрпстшюй, нопол..зуют сам псслпдусм),гГ фотоалсктроиHbiii нрнбор, у которого павпспмость выходного токи от о(иим1 синостп ирп ятих значониях cncTonoro потока пмоо.т липсннын ИЛИ почти линейный характер.
2. Прием осуществления способа но п. 1, отличающийся тем, что, с
целью смещения используемого для градупропки клина, участка световой характеристики исследуемого Фотоэлектрического ириборЛ, 51ме1ощей загиб )а споем иача: г,ном участке, в линейную или почти линейную область, примсияют дополнительный источник света, одновременно « В ;люче11ием которого в измерительный прибор вводят ток, компенсирующий фототок, вызываемый дополнительцым световыи потоком.
П
I I
LJ
РЗП
ш
