Предметом изобретения является фотоэлектрическт прибор для оценки качества новерхиостей, использующий отраженный или рассеяииый исследуемой иоверхиостыо световой иоток, воздепствующий на фотоэлектрическую измерительную систему.
Высокий коэффициент отражения хорошо обработанной понсрхности затрудняет улавливание весьма небольших измеиеиий количестпа света, связанных с различием качества обработки, а значительная постоянная составлягощая светового нотока ограничивает возможности исиользоваиия нриемов, иозволяющнх с необходимой чувствительностью 1юснрииимать исчезающие малые измспетгя светового иотока, создаваемые варнацнями качества новерхностнПредлагаемый нрибор устраняет этот недостаток истелючекием иостояниой составляющей светового нотока. Ото достигается прпмеггеинел вращающейся призмы пли аналогично нристюсоблсния, ненрерьплто нергмещаюи,его изобраиченне исследуемо новорхиости относительно растра, расиоложсиного перед фотоэлементом, чем создается мо,|;уляни) светового иотока, действующего на фотоэлемент.
На чертожо нзобрая ена прннциииалмтг;,; схема кродлагаемого i;pirбора.
1сглодуг.::, учагтп-; i;c;;opxnccTii I рл и:смо):1о ooiseii eri irirTOFicin;лылг сиетчтш.м потоком iipj помощи ()iTi;40c -:oii с 1стемы. iepoj лшт.зу 2 создается изображение освещенного участка нсследуелЕоп поверхности ка растре 3, иах(;дяи(емся в фокальной илоскостн линзы 2. Че|№з линзу 4 ка спеточувствителыюй новерхиостп фото:1лел1е1гта о, включенного 1:о входную цепь усилителя неременного тот;а 6, тгмеюгт его в выходной иенн нзмерите:гьиый нрибор 7, создается ивображеиие новерхиостн растра 3. РЬображспие участка исследуемой новерхностп на растре 3 приводится в ненрерывное вращательное плн колебательное движение от- носительно растра, нанример, при помощн вращающейся нризмы 8 нлц пары вращающихся клиньев, либо нри номощи неирерывного движення самого растра 3.
При отсутствии следов обработки исследуе.мой тговерхностн неремоJVb..7996G- 2 -
В случае наличия следов обработки, -поворхиостй возпикагЬщос в связи с этим неравномерное распределение яркости изображения исследуемой поверхности, перемещающегося по растру, создает модуляцию светового потока, действующего на фотоэлемент. Возникающая в этом случае иеремеииая составляющая фототока будет усилена усилителем 6 до необходимой величины, достаточной для действия измерительного прибора 7. Величина тока в выходной цепи усилителя, измеряемая прибором 7, будет мерой качества обработки поверхности.
Фотоэлемент 5 включен во входную цепь усилителя 6 иосредством разделительной емкости пли трансформатора, исключающих действие ио стояиной составляющей фототока иа усилитель.
Так как мерой качества обработки поверхности в предлагаемом приборе являются его показания, то для суждения о качестве исследуемой поверхности необходимо предварительно измерить образцовые поверхности, откалпбровав по пим шкалу прибораПредмет изобретения
Фотоэлектрический прибор для определения качества поверхностей, пспользующий отражеииый или рассеянный световой поток, действующий на фотоэлектрическую измерительную систему, отличающийся тем, что. с целью модуляции фотоэлектрического тока, неременная составляющая амнлитуды которого является мерой качества иоверхности. ои снабжен ирисиособлеиием, наиример, в виде вращающейся призмы, д:гя непрерывного перемещеиия изображеиия исследуемой иоверхпости относительно растра, расгголоженного перед фотоэлементом, воспринимнющпм. модулироваиный световой поток.
13
