Устройство для рентгеновской топографии Советский патент 1983 года по МПК G01N23/207 

Описание патента на изобретение SU1040388A1

Изобретение относится к рентгеноструктному анализу кристаллов и може быть использовано для неразрушающего контроля реальной структуры кристалл ческих пластин {съёмка на прохождение ) при производртве полупроводниковых приборов и материалов, а также массивных кристаллов (съемка на отражение ). . Для прямого наблюдения дефектов в монокристаллах разработаны и широко применяются различные устройства для рентгеновской топографии, основанные на регистрации дифракчионного изображения ГО Обычно дифракционное изображение регистрируется на ядерную фотопластинку, разрешение порядка 10-50 мкм, с последующей ее обработкой стандарт ными химическими реактивами и увеличением изображения (20-50 раз )на фотобумагу. При этом существенными ограничениями сдерживающими применение рентгеновских топографических устройств для целей промышленного не разрушающего контроля кристалличес.ких структур, являются отсутствие экспрессности контроля,, низкая точность количественной обработки результатов с помощью, ЭВМ и невозможность применения методов рентгенбвской топографии для пооперационного нераэрушающего контроля кристаллических структур в процессе их технологического изготовления, особенно для контроля кристаллических пластин диаметром 0-60 мм. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является уст ройство для рентгеновской топографии содержащее микрофокусный источник рентгеновского излучения со средствами линейного перемещения фокусного .пятна, гониометр с механизмом перемещения образца и детектор 2 . Однако при использовании в качест ве детектора рентгеновского счетчика нужен специальный коллиматор с пространственным разрешением порядка 10 50 мкм и площадью - 100x100 мм изготовление которого представляет определенные трудности, непреодолимые в настоящее время. Пространствен ное разрешение таких систем в силу принципиальных технических Трудносте не превышает 70-150 мкм. Снижение контрастной чувствительности и пространственного разрешения в известных устройствах происходит в дпределеннои мере из-за того, что электронные системы детектирован +я наряду с полезной информацией воспринимают значительную часть рассеянного и флюоресцентного рентгеновского иапучения. Таким образом, практическое использование известных устройств для целей неразрушающего пооперационного контроля качества больших кристаллических пластин в условиях массового производства не представляется возможным или сопряжено со значительными техническими трудностями. Цель изобретения - повышение пространственного разрешения топографического изображения и контрастной чуйЬтиительности устройства. Поставленная цель Достигается тем, что в устройстве для рентгеновской, топографии, содержащем микрофокусный источник рентгеновского излучения со средствами линейного перемещения фокусного пятна, гониометр с механиз эм линейного перемещения образца и детектор, перед детектором введен кристалл-анализатор, размещенный так, что отражающие его плоскости перпендикулярны направлению перемещения фокусного пятна. Введение кристалл-анализатора перед детектором позволяет практически исключить рассеянное и флюоресцентное излучение на детекторе, что повышает контраст изображения дефектов. Кроме того,-- кристалл-анализатор формирует дифрагированный пучок приводя его размеры в горизонтальном направлении к размерам фокусного пятна источника излучения (10-20 мкм X На фиг.1 и 2 представлены варианты предлагаемого устройства (съемка на прохождение и otpaжeниel соответственно ). В основу метода измерения положен принцип растрового формирования изображения на топограммах. С этой целью использован микрофокусный источник 1 рентгеновского излучения со средства ми линейного сканирования 3 фокусного пятна 2. Диаметр Г1ятна микрофокусного источника составляет 20 мкм, а линии сканирования мм. За источником рентгеновского излучения расположена щель коллиматора , параллельная линии сканирования источника излучения. Коллиматор ограничивает только вертикальную расходимость рентгеновских лучей. При этом параллельная расхо

Похожие патенты SU1040388A1

название год авторы номер документа
Устройство для рентгеновской топографии монокристаллов 1983
  • Петрашень Павел Васильевич
  • Чуховский Феликс Николаевич
  • Комяк Николай Иванович
  • Лютцау Всеволод Григорьевич
  • Ефанов Валерий Павлович
  • Гусев Константин Александрович
SU1132205A1
МЕТОД И СИСТЕМА КОМБИНИРОВАННОГО РАДИАЦИОННОГО НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ 2012
  • Ву Чжифан
  • Ань Цзиган
  • Лю Симин
  • Ван Лицян
  • Чжан Яньминь
  • Цун Пэн
  • Хуан Ибинь
  • Цю Вйэдун
  • Чжэн Цзянь
  • Лю Цзиньхуэй
  • Ван Чжэньтао
  • Тань Чуньмин
RU2598396C2
СПОСОБ СОЗДАНИЯ СИГНАТУРЫ ДЛЯ ДРАГОЦЕННОГО КАМНЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ РЕНТГЕНОВСКОЙ ВИЗУАЛИЗАЦИИ 2015
  • Реишчиг Петер
RU2690707C2
УСТАНОВКА ДЛЯ ТОПО-ТОМОГРАФИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ ОБРАЗЦОВ 2017
  • Асадчиков Виктор Евгеньевич
  • Бузмаков Алексей Владимирович
  • Дымшиц Юрий Меерович
  • Золотов Денис Александрович
  • Шишков Владимир Анатольевич
RU2674584C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ МАЛОУГЛОВОЙ ТОПОГРАФИИ (ВАРИАНТЫ) 1997
  • Комардин О.В.(Ru)
  • Альберт Ф. Лоуренс
  • Лазарев П.И.(Ru)
RU2119659C1
Способ получения рентгеновских дифракционных топограмм монокристаллов на отражение 1983
  • Чернов Михаил Александрович
  • Петрашень Павел Васильевич
  • Левчук Богдан Иосифович
  • Комяк Николай Иванович
  • Дорожкин Сергей Иванович
  • Гусев Константин Александрович
SU1138717A1
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПРОСТРАНСТВЕННЫХ РАСПРЕДЕЛЕНИЙ ХИМИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ ПО ПОВЕРХНОСТИ ОБРАЗЦА 2009
  • Васин Михаил Геннадьевич
  • Моровов Александр Петрович
  • Назаров Вадим Васильевич
  • Лахтиков Александр Евгеньевич
RU2394229C1
Устройство для высокоскоростного рентгеноструктурного анализа 1978
  • Бурдин Владимир Викторович
  • Свинаков Василий Максимович
  • Карпов Роман Романович
  • Скворчук Василий Пахомович
SU763750A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВИЗУАЛИЗАЦИИ МОЛОЧНОЙ ЖЕЛЕЗЫ ПАЦИЕНТА РЕНТГЕНОВСКИМ ИЗЛУЧЕНИЕМ В РЕЖИМЕ ТОМОСИНТЕЗА ИЛИ МАММОГРАФИИ 2014
  • Моргун Олег Николаевич
RU2553505C1
Рентгеновский дифрактометр 1989
  • Петрашень Павел Васильевич
SU1749796A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 040 388 A1

Реферат патента 1983 года Устройство для рентгеновской топографии

УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОЙ ТОПОГРАФИИ, содержащее микрофокусный источник рентгеновского излучения со средствами линейного перемещения фокусного пятна, гониометр с механизмом линейного перемещения образца и детектор, отличающееся тем, что, с целью повышения пространственного разрешения топографического изображения и контрастной чувствительности устройства, перед детектором введен кристалл-анализатор, размещенный так, что отражающие его плоскости перпендикулярны направлению перемещения фокусного пятна. (Л с: /оо 00 00 2. /

SU 1 040 388 A1

Авторы

Ковьев Эрнст Константинович

Ефанов Валерий Павлович

Лютцау Всеволод Григорьевич

Чуховский Феликс Николаевич

Миренский Анатолий Вениаминович

Головченко Борис Трофимович

Даты

1983-09-07Публикация

1982-05-28Подача