Изобретение относится к рентгеноструктному анализу кристаллов и може быть использовано для неразрушающего контроля реальной структуры кристалл ческих пластин {съёмка на прохождение ) при производртве полупроводниковых приборов и материалов, а также массивных кристаллов (съемка на отражение ). . Для прямого наблюдения дефектов в монокристаллах разработаны и широко применяются различные устройства для рентгеновской топографии, основанные на регистрации дифракчионного изображения ГО Обычно дифракционное изображение регистрируется на ядерную фотопластинку, разрешение порядка 10-50 мкм, с последующей ее обработкой стандарт ными химическими реактивами и увеличением изображения (20-50 раз )на фотобумагу. При этом существенными ограничениями сдерживающими применение рентгеновских топографических устройств для целей промышленного не разрушающего контроля кристалличес.ких структур, являются отсутствие экспрессности контроля,, низкая точность количественной обработки результатов с помощью, ЭВМ и невозможность применения методов рентгенбвской топографии для пооперационного нераэрушающего контроля кристаллических структур в процессе их технологического изготовления, особенно для контроля кристаллических пластин диаметром 0-60 мм. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является уст ройство для рентгеновской топографии содержащее микрофокусный источник рентгеновского излучения со средствами линейного перемещения фокусного .пятна, гониометр с механизмом перемещения образца и детектор 2 . Однако при использовании в качест ве детектора рентгеновского счетчика нужен специальный коллиматор с пространственным разрешением порядка 10 50 мкм и площадью - 100x100 мм изготовление которого представляет определенные трудности, непреодолимые в настоящее время. Пространствен ное разрешение таких систем в силу принципиальных технических Трудносте не превышает 70-150 мкм. Снижение контрастной чувствительности и пространственного разрешения в известных устройствах происходит в дпределеннои мере из-за того, что электронные системы детектирован +я наряду с полезной информацией воспринимают значительную часть рассеянного и флюоресцентного рентгеновского иапучения. Таким образом, практическое использование известных устройств для целей неразрушающего пооперационного контроля качества больших кристаллических пластин в условиях массового производства не представляется возможным или сопряжено со значительными техническими трудностями. Цель изобретения - повышение пространственного разрешения топографического изображения и контрастной чуйЬтиительности устройства. Поставленная цель Достигается тем, что в устройстве для рентгеновской, топографии, содержащем микрофокусный источник рентгеновского излучения со средствами линейного перемещения фокусного пятна, гониометр с механиз эм линейного перемещения образца и детектор, перед детектором введен кристалл-анализатор, размещенный так, что отражающие его плоскости перпендикулярны направлению перемещения фокусного пятна. Введение кристалл-анализатора перед детектором позволяет практически исключить рассеянное и флюоресцентное излучение на детекторе, что повышает контраст изображения дефектов. Кроме того,-- кристалл-анализатор формирует дифрагированный пучок приводя его размеры в горизонтальном направлении к размерам фокусного пятна источника излучения (10-20 мкм X На фиг.1 и 2 представлены варианты предлагаемого устройства (съемка на прохождение и otpaжeниel соответственно ). В основу метода измерения положен принцип растрового формирования изображения на топограммах. С этой целью использован микрофокусный источник 1 рентгеновского излучения со средства ми линейного сканирования 3 фокусного пятна 2. Диаметр Г1ятна микрофокусного источника составляет 20 мкм, а линии сканирования мм. За источником рентгеновского излучения расположена щель коллиматора , параллельная линии сканирования источника излучения. Коллиматор ограничивает только вертикальную расходимость рентгеновских лучей. При этом параллельная расхо
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для рентгеновской топографии монокристаллов | 1983 |
|
SU1132205A1 |
МЕТОД И СИСТЕМА КОМБИНИРОВАННОГО РАДИАЦИОННОГО НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ | 2012 |
|
RU2598396C2 |
СПОСОБ СОЗДАНИЯ СИГНАТУРЫ ДЛЯ ДРАГОЦЕННОГО КАМНЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ РЕНТГЕНОВСКОЙ ВИЗУАЛИЗАЦИИ | 2015 |
|
RU2690707C2 |
УСТАНОВКА ДЛЯ ТОПО-ТОМОГРАФИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ ОБРАЗЦОВ | 2017 |
|
RU2674584C1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ МАЛОУГЛОВОЙ ТОПОГРАФИИ (ВАРИАНТЫ) | 1997 |
|
RU2119659C1 |
Способ получения рентгеновских дифракционных топограмм монокристаллов на отражение | 1983 |
|
SU1138717A1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПРОСТРАНСТВЕННЫХ РАСПРЕДЕЛЕНИЙ ХИМИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ ПО ПОВЕРХНОСТИ ОБРАЗЦА | 2009 |
|
RU2394229C1 |
Устройство для высокоскоростного рентгеноструктурного анализа | 1978 |
|
SU763750A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВИЗУАЛИЗАЦИИ МОЛОЧНОЙ ЖЕЛЕЗЫ ПАЦИЕНТА РЕНТГЕНОВСКИМ ИЗЛУЧЕНИЕМ В РЕЖИМЕ ТОМОСИНТЕЗА ИЛИ МАММОГРАФИИ | 2014 |
|
RU2553505C1 |
Рентгеновский дифрактометр | 1989 |
|
SU1749796A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОЙ ТОПОГРАФИИ, содержащее микрофокусный источник рентгеновского излучения со средствами линейного перемещения фокусного пятна, гониометр с механизмом линейного перемещения образца и детектор, отличающееся тем, что, с целью повышения пространственного разрешения топографического изображения и контрастной чувствительности устройства, перед детектором введен кристалл-анализатор, размещенный так, что отражающие его плоскости перпендикулярны направлению перемещения фокусного пятна. (Л с: /оо 00 00 2. /
Авторы
Даты
1983-09-07—Публикация
1982-05-28—Подача