Устройство для калибровки анодного напряжения рентгеновского излучателя по слою кратного ослабления Советский патент 1984 года по МПК H05G1/26 

Описание патента на изобретение SU1103372A2

Изобретение относится к рентгенотехнике, а именно к вспомогательным устройствам рентгеновских аппаратов, например рентгенодиагностических, служащих для калибровки и проверки системы питания рентгеновского излучателя высоким напряжением. По основному авт. св. № 980298 известно устройство для калибровки анодного напряжения рентгеновского излучателя по слою кратного ослабления, содержащее образцовый клин из материала, по которому определяют эквивалентную фильтрацию рентгеновского излучения, кассету с рентгеновской пленкой и непрозрачный для рентгеновского излучения экран, выполненный в виде вращающегося диска с прорезями, суммарная площадь которых кратна суммарной площади участков диска в любом проходящем через прорези кольце с центром, совпадающим с центром вращающегося диска, а образцовый клин выполнен кольцевым и установлен концентрично с вращающимся диском на кассете с рентгеновской пленкой. CD. Недостатком известного устройства является необходимость использования сменных дисков с различной степенью кратности суммарной площади прорезей и суммарной площади участков диска, что приводит к увеличению комплектации устройства. При наличии же только одного диска устройство может использоваться только для калибровки по слою заданной кратности, что снижает функциональные возможности устройства, поскольку для различных диапазонов высокого напряжения целесообразно, как это показала эксплуатация известного устройства, использовать слои ослабления различной кратности. Цель изобретения - повыщение точности калибровки. Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для калибровки анодного напряжения рентгеновского излучателя по слою кратного ослабления вращающийся диск снабжен по меньщей мере одной дополнительной системой прорезей, причем системы прорезей концентричны друг другу и кратности отнощений суммарной площади прорезей к суммарной площади соответствующих кольцевых участков диска для каждой системы выбраны различными. На фиг. 1 и 2 показаны варианты выполнения устройства для калибровки анодного напряжения рентгеновского излучателя по слою кратного ослабления. В показанном на фиг. 1 варианте устройство содержит кассету 1 с рентгеновской пленкой, на которой размещены кольцевой образцовый клин 2 и вращающийся диск 3 из непрозрачного для рентгеновского излучения материала. Диск 3 снабжен системами прорезей 4-6, которые выполнены в виде кольцевых дуг, концентричных оси вращения 7 диска 3. Ось 7 пропущена через кассету 1 и закреплена в подщипниках (не показаны). Суммарный угол системы прорезей 4 составляет 180°, системы прорезей 5-120°, системы прорезей 6-90°, что соответствует отнощению суммарных площадей прорезей к суммарной площади соответственных участков диска 3, взятых по продолжению колец дуг, равному соответственно 1:1; 1:2; 1:3. Это позволяет получать информацию о слоях половинного, трехкратного и четырехкратного поглощения. В показанном на фиг. 2 варианте указанные системы прорезей объединены в две прорези со ступенчатыми краями, причем каждая ступень соответствует отдельной системе прорезей варианта, показанного на фиг. 1. Устройство работает следующим образом. Устройство в собранном виде помещают в рабочее поле излучения рентгеновского аппарата. Вручную приводят диск 3 во вращение и включают рентгеновский аппарат. После экспонирования из кассеты 1 вынимают рентгеновскую пленку и проявляют ее. На пленке образуется несколько зон различной плотности почернения. Прежде всего это зона со ступенчато изменяющейся плотностью почернения на кольцевом участке, соответствующем положению образцового фильтра 2. Далее под каждой системой прорезей 4-6 или соответственно ступеньками (фиг. образуются зоны одинаковой плотности почернения в каждой зоне, но с различной плотностью почернения для различных зон. Затем производят сравнение плотностей почернения зон под системами прорезей и плотностей почернения зоны под образцовым клином 2, находят участки равного почернения и по найденным участкам определяют соответствующие слои кратного ослабления. Однозначное соответствие между положением участков с различным почернением в кольцевой зоне под клином 2 и толщиной кднна получают либо путем рентгеноконтрастной маркировки клина, либо формированием реперной метки и т.п. Для каждой кратности слоя ослабления толщинь фильтра должны быть проградуированы в единицах анодного напряжения (киловольтах), что позволит осуществить калибровку рентгеновского аппарата по высокому напряжению. Использование изобретения обеспечивает надежную калибровку анодного напряжения рентгеновского аппарата в любом диапазоне указанного напряжения без необходимости использования сменных дисков. Кроме того, предложенное рещение позволяет повысить точность калибровки, поскольку последняя может быть проведена не только

по одному слою кратного ослабления, а по нескольким слоям различной кратности, что обеспечивает повышение однозначности соответствия между величиной высокого напряжения и толщинами слоев кратного ослабления.

Похожие патенты SU1103372A2

название год авторы номер документа
Устройство для калибровки анодного напряжения рентгеновского аппарата по слою кратного ослабления 1983
  • Блинов Николай Николаевич
  • Лейченко Александр Ильич
  • Смехов Марк Ефимович
  • Урванцова Ирина Львовна
  • Шенгелия Нугзари Абесаломович
SU1144196A1
Устройство для калибровки анодного напряжения рентгеновского аппарата по слою кратного ослабления 1981
  • Блинов Николай Николаевич
  • Мишкинис Борис Янович
  • Смехов Марк Ефимович
  • Харитонов Игорь Михайлович
SU980298A1
Устройство для калибровки анодного напряжения рентгеновского аппарата по слою кратного ослабления 1983
  • Блинов Николай Николаевич
  • Бардина Наталья Дмитриевна
  • Кускова Наталья Михайловна
  • Лейченко Александр Ильич
  • Шенгелия Нугзари Абесаломович
SU1144197A1
Способ измерения толщины слояКРАТНОгО ОСлАблЕНия РЕНТгЕНОВСКОгОизлучЕНия 1979
  • Мишкинис Надежда Григорьевна
SU834472A1
Способ получения рентгенодиагностических снимков 1980
  • Хасидашвили Исаак Шаломович
  • Мишкинис Надежда Григорьевна
SU935864A1
Устройство для калибровки анодного напряжения рентгеновского аппарата по слою кратного ослабления 1983
  • Блинов Николай Николаевич
  • Лейченко Александр Ильич
  • Смехов Марк Ефимович
  • Шенгелия Нугзари Абесаломович
SU1144198A1
Устройство для определения качества рентгеновского излучения 1979
  • Блинов Н.Н.
  • Смехов М.Е.
SU786545A1
Способ управления работойРЕНТгЕНОВСКОгО АппАРАТА 1979
  • Мишкинис Надежда Григорьевна
SU833203A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИНЕРАЛЬНОЙ ПЛОТНОСТИ КОСТНОЙ ТКАНИ 2008
  • Лазаков Василий Николаевич
  • Бекешев Олег Степанович
  • Сизых Владимир Георгиевич
RU2400141C2
Рентгеновский аппарат 1984
  • Блинов Николай Николаевич
  • Лейченко Александр Ильич
  • Шенгелия Нугзари Абесаломович
SU1166350A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 103 372 A2

Реферат патента 1984 года Устройство для калибровки анодного напряжения рентгеновского излучателя по слою кратного ослабления

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КАЛИБРОВКИ АНОДНОГО НАПРЯЖЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧАТЕЛЯ ПО СЛОЮ КРАТНОГО ОСЛАБЛЕНИЯ по авт. св. № 980298, отличающееся тем, что, с цвелью повышения точности калибровки, вращающийся диск снабжен по меньшей мере одной дополнительной системой прорезей, причем системы прорезей концентричны друг другу и кратности отношений суммарной площади прорезей к суммарной площади соответствующих кольцевых участков диска для каждой системы выбраны различными. (Л 00 со ю

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1984 года SU1103372A2

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Устройство для калибровки анодного напряжения рентгеновского аппарата по слою кратного ослабления 1981
  • Блинов Николай Николаевич
  • Мишкинис Борис Янович
  • Смехов Марк Ефимович
  • Харитонов Игорь Михайлович
SU980298A1
Кипятильник для воды 1921
  • Богач Б.И.
SU5A1

SU 1 103 372 A2

Авторы

Блинов Николай Николаевич

Карадимов Димитр Симеонович

Кускова Наталия Михайловна

Мишкинис Борис Янович

Петухов Николай Николаевич

Смехов Марк Ефимович

Даты

1984-07-15Публикация

1982-10-06Подача