Способ измерения толщины слояКРАТНОгО ОСлАблЕНия РЕНТгЕНОВСКОгОизлучЕНия Советский патент 1981 года по МПК G01N23/02 

(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛ1Щ1НЫ СЛОЯ КРАТНОГО ОСЛАБЛЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ зиции выбирают равным 1 (п-1), где п - требуемая кратность ослабления, а толщину слоя кратного ослабления определяют по одинаковой плотности почернения участков пленки под клином и открыто экспонированного в те чение одной из экспозиций участка пленки. Способ реализуется следующим образом. На рентгеновскую фо,опленку накл дывают измерительный . Оставшую ся часть пленки закрывают свинцовой пластиной. Производят экспонировани пленки в течение определенного пери ода времени. Затем свинцовую пласти убирают и производят повторное эксп нирование той же пленки в течение, другого заданного периода времени. Затем пленку проявляют и получают на ней неравномерно засвеченный участок под клином и равномерно зас веченный участок под свинцовой пластиной (если рассматривать съемк при первой экспозиции), во время второй экспозиции бвш открыт. При работе в области пропорци ональности почернения и при постоян ной интенсивности первичного пучка почернение под каким-либо выбранным участком клина будет равно .D; k 3;0(t + tj), где 3j - интенсивность прешедшего через данный участок клина пучка t и tn- времена первой и второй экспозиции, а почернение другого участка будет равн DO k 4i где Зо - интенсивность первичного рентгеновского пучка. При этом на пленке .будут участки с равным почернением, в результате чего Л; /:а t. (t + t ) для указанных участков, и, зная времена экспозиций и толщину клина на участ ке с равными почернениями, можно сразу определить кратность ослабления и толщину соответствующего слоя В частном случае, при равенстве первой и второй экспозиции, таким образом получают слой половинного поглощения. Для получения толщины слоя заданной кратности ослабления tj /t выбирают равным 1 (п-1), где п - заданная кратность ослабления. Преимущество такого метода заключается в том, что можно произвести непосредственное визуальное сравнение двух соседних участков почернения на одной пленке, не используя фотометрического оборудования. Предлагаемый способ может, использоваться при регулировании напряжения рентгеновского излучателя по величине слоя половинного поглощения,быстро и просто определять параметры фильтров для получения требуемого ослабления излучения, исследовать защитные свойства материалов от проникающего излучения. Формула изобретения СШособ измерения толщины слоя кратного ослабления рентгеновского излучения, заключающийся в том, что производят экспонирование рентгеновской пленки, частично накрытой измерительным клином, и по почернению пленки на различных участках определяют толщину слоя кратного ослабления, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что, с целью упрощения средств реализации производят дополнительное.экспонирование рентгеновской пленки, частично накрытой измерительным клином, остальная часть которой экранирована от излучения, например, с помощью свинцовой пластины, причем отношение времен первой и дополнительной экспозиции выбирают равным 1 (п-1), где п требуемая кратность ослабления, а толщину слоя кратного ослабления определяют по одинаковой плотности почернения участков пленки под клином и открыто экспонированного в течение одной из экспозиций участка пленки. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Шмелев В.К. Рентгеновские аппараты. М./ Энергия, 1973, с. 27. 2.Дмоховский В.В. Основы рентгенотехники. М., Медгиз, I960, с. 251252 (прототип).