Мера толщины покрытия и способ ее аттестации и поверки Советский патент 1984 года по МПК G01B7/06 

Описание патента на изобретение SU1106981A1

2. Способ аттестации меры толщины покрытия, заключаешцздся в том, что измеряют ординаты точек на покрытии пластины и на участке, свободном от покрытия, отличающийся тем, что измеряют ординаты трех реперных точек, расположенных в углублениях пластины, и ординаты в фиксированной точке до и после покрытия, а истинную толичину покрытия меры в фиксированной точке определяют по формуле )-(V-), ср ср средние арифметические значения ординат трех реперных точек до и после нанесения покрытия на пластину; и Ф - значения ординат в фиксированной точке пластины до и после нанесения покрытия на пластину. 3. Способ иоверки меры толщины покрытия, заключающийся в том, что 106981 изм пла пок тем пер лен ров ист дел где инаты точек на покрытии а участке, свободном от тличающийся еряют ординаты трех ре, расположенных в углубины, и ординату в фиксике покрытия пластины, а щину покрытия меры опрермуле ()-(), ti - толщина покрытия в фиксированной точке пластины при ее аттестации, ср средние арифметичес кие значения ординат трех реперных точек,находящихся в углублениях пластины во время поверки и аттестации,Ф - значения ординат в фиксированной точке пластины во время поверки и аттестации.

Похожие патенты SU1106981A1

название год авторы номер документа
Контрольный образец для градуировки и поверки толщиномеров покрытий 1978
  • Лухвич Александр Александрович
  • Балаев Сергей Аристоклиевич
  • Леонов Илья Геннадиевич
  • Рудницкий Валерий Аркадьевич
SU1105751A1
Способ поверки толщиномеров неметаллических покрытий 1978
  • Лаанеотс Рейн Антсович
SU754200A1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МЕРЫ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ 1991
  • Бабаджанов Л.С.
RU2025652C1
Способ определения погрешности прибора 1989
  • Антонов Владимир Станиславович
  • Круглов Владимир Петрович
  • Прищепа Михаил Иванович
  • Стеклова Ирина Владимировна
  • Шибанов Александр Николаевич
SU1741073A1
Образец шероховатости 1989
  • Жданов Глеб Сергеевич
  • Коузова Тамара Александровна
SU1649241A1
Способ поверки толщиномеров с условными шкалами 1981
  • Лаанеотс Рейн Антсович
SU1016666A1
Метрологический полигон 2016
  • Ревель-Муроз Павел Александрович
  • Кацал Игорь Николаевич
  • Воронов Александр Геннадьевич
  • Естин Михаил Петрович
  • Идрисов Алмаз Махмутович
  • Лисин Юрий Викторович
  • Аралов Олег Васильевич
  • Воробьев Сергей Игоревич
  • Маракаев Руслан Искакович
  • Кулешов Андрей Владимирович
RU2641618C1
Устройство измерения массы с автоматической коррекцией погрешностей 1973
  • Алиев Тофик Мамедович
  • Данилевич Исаак Меерович
  • Рекунов Владимир Ильич
  • Тер-Хачатуров Аркадий Амбарцумович
  • Щербинин Юрий Викторович
  • Круль Геннадий Рудольфович
  • Крыжановский Юрий Антонович
  • Кучеренко Александр Михайлович
SU512389A1
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ЛОКАЛЬНЫХ ПОДНЯТИЙ 1966
SU185089A1
Устройство для определения теплофизических характеристик зернистых материалов 1987
  • Геращенко Олег Аркадьевич
  • Грищенко Татьяна Георгиевна
  • Декуша Леонид Васильевич
  • Сало Валерий Павлович
  • Мазуренко Александр Григорьевич
  • Коломиец Дмитрий Петрович
  • Снежкин Юрий Федорович
SU1545148A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 106 981 A1

Реферат патента 1984 года Мера толщины покрытия и способ ее аттестации и поверки

1. Мера толщины покрытия, содержащую металлическую пластину с покрытием, отличающаяся тем, что, с целью снижения трудоемкости изготовления, на пластине выполнены три цилиндрических углубления, центры которых принимаются за реперные точки и расположены на лучах, исходящих под углом 120° друг к другу из фиксированной точки, на одинаковом расстоянии от нее, покрытие нанесено на поверхность пластины со стороны углублений, а последние свободны от него.

Формула изобретения SU 1 106 981 A1

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для поверки и градуировки толщиномеров покрытий.

Известна мера толщин покрытий, содержащая металлическую пластину с покрытием, причем на двух гранях покрытие нанесено в виде зубцов трапецеидальной формы различной высоты, а на двух других гранях нанесено покрытие в виде клина 1 .

Изготовление такой меры требует бол7эшой трудоемкости и применения специального прецизионного оборудования.

Известен способ аттестации и способ поверки меры толщины покрытия, заключаняцийся в том, что измеряют ординаты точек на покрытии пластины и на участке свободном от покрытия L

Цель изобретения - снижение трудоемкости изготовления мер толщины

покрытия и способов ее аттестации и поверки.

Указанная цель достигается тем, что на пластине вьтолнены ври цилиндрических углубления, центры которых принимаются за реперные точки и расположены на лучах, исходящих под углом 120° друг к другу из фиксированной точки на одинаковом расстоянии от нее, покрытие нанесено на поверхность пластины со стороны углублений а сами углубления свободны от него.

Отличие способа аттестации такой меры толщины покрытия заключается в том, что измеряют ординаты трех реперных точек, расположенных в углублениях пластины, и ординаты в фиксированной точке до и после покрытия, а истинную толщину покрытия меры в фиксированной точке определяют по формуле

)-(Ч-М. средние арифметические значения ординат трех репарных точек до и после нанесения покрытия на пластину;- значения ординат в фиксированной точке пластины до и после нанесения покрытия на пластину . Отличие способа поверки такой меры покрытия заключается в том, что измеряют ординаты трех реперных точек, расположенных в углублениях пластины, и ординату в фиксированной точке покрытия пластины, а истинную покрытия меры определяют по формуле ,-( v;v4HV i)J. толщина покрытия вфиксированной точке пластины при ее аттестации; средние арифметические значения ординат трех реперных точек, находящихся в углублениях пластины во время поверки и аттестации;значения ординат в 35 фиксированной точке пластины во время поверки и аттестатации. На фиг.1 изображена мера толщины покрытия, общий вид-, на фиг.2 - сечение Б-Б на фиг.1. Мера содержит металлическую пластину 1, в которой выполнены цилиндрические углубления 2, расположенные на лучах, проведенных под углом к фиксированной точке А на равных расстояниях от иее. На пластине 1 со стороны углублений нанесено покрытие 3. Аттестацию толщины покрытия 3 меры в фиксированной точке А производят следукнцим образом. Устанавливают иа горизонтальную поверхиость пластину 1 до нанесения покрытия и измеряют ординаты , -у, , и Vф от трех репериых точек, находящихся в углублениях 2 и от поверхности пластины в фиксированной точке ( с вел ти пе хню ле из ф В ся лич ti о не ме ре си ти 1Щ ны пл то фо Д . После этого определяют :; и находят разность р Ф разность характеризует ичину выступания поверхности пласы в точке А над поверхностями реных точек. После нанесения покрытия 3 на верю поверхность пластины 1 (углубия 2 защищены от покрытия) также еряют ординаты 1, , j , j и определяют разность (у - v . том случае значение :/ ф отличаетот вычисленного ранее J на веину толщины покрытия. Действительную толщину покрытия пределяют по формуле 1 )-() Если нижняя поверхность пластин 1 претерпела изменений в период изений ординат до и после покрытия, р и толщина покрытия опеляется разностью ординат в фикованной точке Л до и после покры. Аналогичным o6pa3ONj KaK и аттестаможно производить поверку толщипокрытия меры, находящейся в эксатации. При этом действительная ир1на покрытия определяется по муле 1i ti-r/ -v Ircp ф) - толщина покрытия, определенная при аттестации и внесенная в паспорт на меры (у - X, ) ГСР Ч/ - разность между средним арифмети- . ческим значением ординат трех репер, ных точек в углублениях 2 и ординатой в фиксированной точке А пластины 1 с покрытием 3, . определенными во время поверки мер, (v - v ) разность между ГСР if I средним арифметическим значением ординат трех реперных точек и ординатой в фиксированной точке, определенными во время аттестации.

Указанная разность ( .р - Уф ) заносится в паспорт на меры как и деист витальная толщина покрытия Ь.

Предлагаемая конструкция меры, способ аттестации и поверки ее позтволяют отказаться от жестких требований, предъявляемых к плоскости и параллельности поверхностей пластины 1 Ипокрытия 3. Кроме того, предлагаемый способ аттестации и поверки толщины покрытия меры увеличивает срок

эксплуатации мер, поскольку изменение плоскостности и параллельности нижней поверхности пластины 1 полностью учитывается при поверке и на результаты поверки не сказывается.

Величина (ilcp) никак не зависит ни от абсолютной толщины пластины, ни от угла наклона нижней поверхности пластины к верхней, т.е. является инвариантом для пластины с заданной толщиной покрытия.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1984 года SU1106981A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Эталон для градуировки толщиномеров покрытий 1975
  • Акулов Николай Сергеевич
SU539214A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 106 981 A1

Авторы

Лухвич Александр Александрович

Балаев Сергей Аристоклиевич

Леонов Илья Геннадиевич

Рудницкий Валерий Аркадьевич

Даты

1984-08-07Публикация

1978-12-06Подача