Способ выбора градуировочных образцов для спектрального анализа Советский патент 1984 года по МПК G01J3/30 G01N23/22 

; j -оОрет от кос;и iior-iy ci ria;i;:3у , конкрсг В;, iiGpft3ti,Oo хигя Ci ек (ра:п.. ннх при Пор о л

, 1:ак

jt-а у, r;j :ii(i utiajuiHa в I-.UXU;,OM о.,; и-:лю, ibBVioi г:с)ка чоТ ;;/:и рн:брг а-;с;П Г- HaJiH3Hpvcf.;o/.-c клрзмп. тра ч-U4.K -о ::;-;, иммериний c:ia ;о:.-1-:уй CMCKJ p-i/i- и--,х jinHH -, :4TC:j /.;-iU их a -a-;r;ii - f: , лЕлснн х o.ib-tii. i,ie 1 оддон i ;;опри;.ер ; средiia-ie;;;:, .чолулей afcojiioi ;и-,х К: :;л;,н-.:х огклоне и ; , ;:.мс:г,«:рсии

PTHOfc; ИЛГт OTHOCH;-OJ:r, iOC; С:МПЧ

СПОСОБ ВЬБОРА ГРАДУИРОВОЧННХ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА из массива образцов путем измерения определяемого параметра в этих образцах, отличающийся тем, что, с целью повышения воспроизводимости результатов спектрального анализа, производят многократные измерения интенсивностей аналитических линий в спектрах всех образцов массива и выбирают в качестве градуи-. ровочных образцы с наихудшими характеристиками воспроизводимости результатов анализа. л () СП 00 05

ни;

IOBHi

Pi/./ Т

i кпиI iа

- -э||

1

1

аадукриике ра:)Ц,ов , npe jiaj; аак