СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОЙ ПЛОТНОСТИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ ЯРКОСТИ ИК-ИЗЛУЧЕНИЯ ТЕПЛОВЫХ ИСТОЧНИКОВ Советский патент 1998 года по МПК G01J5/50 

Описание патента на изобретение SU1477053A1

Изобретение относится к технической физике в части создания способов определения спектральной плотности энергетической яркости (СПЭЯ) теплового ИК-излучения и может быть использовано для спектрорадиометрии источников теплового ИК-излучения, например, для передачи размера единиц СПЭЯ в Государственной поверочной схеме.

Целью изобретения является повышение точности.

На чертеже представлена блок-схема установки для реализации способа.

Установка для реализации способа содержит источник 1 теплового ИК-излучения, модель черного тела (МЧТ) 2, зеркало-модулятор 3 с приводом 4, проектор 5, спектрометр 6 с фотоприемником 7 на выходе и синхронный детектор 8 с усилительной системой, вход которого связан с фотоприемником 7, а синхронизирующий выход - с приводом 4 модулятора. Элементы: источник 1, зеркало-модулятор 3, проектор 5, спектрометр 6, образуют первый оптический тракт, который идентичен второму оптическому тракту, образованному МЧТ, зеркалом-модулятором 3, проектором 5, спектрометром 6. В фокусе проектора 5 расположена входная щель спектрометра 6, которая может быть перекрыта интегральным фотоприемником 9.

Источник 1 и МЧТ 2 снабжены регулируемыми блоками питания соответственно 10 и 11.

Способ осуществляют следующим образом. Предварительно осуществляют сравнение интегральных потоков исследуемого источника 1 и модели черного тела 2 путем попеременного оптического сопряжения излучения каждого из источников с фотоприемником 9 двум оптическим трактам с идентичными характеристиками, причем сопряжение производят с частотой синхронного детектирования и минимизирования выявленной разности указанных потоков путем регулирования выходной мощности блоков 10 и 11, затем осуществляют указанную операцию сравнения монохроматизированных при длине волны потоков, для чего также попеременно с частотой синхронного детектирования оптически сопрягают излучение от каждого из источников со спектрометром 6 по двум оптическим трактам с идентичными оптическими характеристиками, при этом измеряют разностный сигнал ΔR1(λ) от указанных монохроматизированных потоков источника излучения и МЧТ с температурой T1. Далее изменяют температуру МЧТ до значения T2, соответствующего соседней реперной точке температурной шкалы модели черного тела, вновь измеряют разностный сигнал ΔR2(λ) от источника и МЧТ с температурой T2 и с учетом значений указанных разностей сигналов находят значение СПЭЯ источника Lи(λ), решая следующую систему уравнений:

где Sλ - коэффициент преобразования лучистого потока в электрический сигнал оптическим трактом;
- зависимость Планка для СПЭЯ МЧТ при температуре Ti;
λ - длина волны.

Решение системы для величины Lи(λ) имеет вид


Среднеквадратичное отклонение (СКО) S результата измерения величины СПЭЯ из выражения (2) определяется выражением

где S2N

- СКО спектрометра;
S2мчт
- СКО МЧТ.

Поскольку разностный сигнал получен как разность сигналов от источника и МЧТ по трактам с идентичными оптическими характеристиками, то все собственные излучения элементов тракта, включая излучение модулятора, вычитаются и на разностный сигнал не влияют. С другой стороны, поскольку вклад в сигнал от рассеянного света определяется главным образом величиной интегрального потока от источника или МЧТ, то выравнивание их приводит к равенству уровней рассеянного света в разных фазах модуляции и, следовательно, к вычитанию их в разностном сигнале. Наконец, при тех же, что и в известных решениях, величинах потока ИК-излучения источника в данном способе необходимо регистрировать значительно меньшие перепады сигнала, поскольку тепловые источники имеют гладкие спектры и выравнивание интегральных потоков приводит к тому, что сравниваемые монохроматизированные потоки являются величинами одного порядка. Поэтому в способе необходим значительно меньший динамический диапазон, что приводит к уменьшению погрешности из-за нелинейности приемно-усилительной системы. Таким образом, в предлагаемом способе уменьшено влияние на результат определения СПЭЯ основных источников погрешности, что повышает точность определения СПЭЯ источников теплового ИК-излучения.

Похожие патенты SU1477053A1

название год авторы номер документа
Способ измерения абсолютной спектральной чувствительности ИК МФПУ 2018
  • Патрашин Александр Иванович
  • Ковшов Владимир Сергеевич
  • Никонов Антон Викторович
RU2696364C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КВАНТОВОЙ ЭФФЕКТИВНОСТИ ФОТОДИОДНЫХ ПРИЕМНИКОВ ИНФРАКРАСНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ 2023
  • Ходунков Вячеслав Петрович
RU2807168C1
РАДИАЦИОННЫЙ ПИРОМЕТР 1992
  • Чугунов А.В.
  • Алипов Б.А.
  • Буц Т.П.
  • Федюнина С.А.
RU2053489C1
СПОСОБ ДЕТЕКТИРОВАНИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ВОЛН В ТЕРАГЕРЦОВОМ ДИАПАЗОНЕ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2009
  • Китаева Галия Хасановна
  • Пенин Александр Николаевич
  • Тучак Антон Николаевич
  • Якунин Павел Владимирович
RU2448399C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО ЭКСПРЕСС-АНАЛИЗА КОНЦЕНТРАЦИИ САХАРА И ДРУГИХ ОПТИЧЕСКИ АКТИВНЫХ ВЕЩЕСТВ В ПРОЗРАЧНЫХ РАСТВОРАХ 1998
  • Бадалян А.М.
  • Поляков О.В.
  • Беднаржевский С.С.
  • Акинина Е.В.
  • Смирнов Г.И.
RU2145418C1
Способ установки заданной облученности от МЧТ 2018
  • Патрашин Александр Иванович
  • Козлов Кирилл Владимирович
  • Ковшов Владимир Сергеевич
  • Стрельцов Вадим Александрович
  • Никонов Антон Викторович
RU2679307C1
СПОСОБ ДОСТАВКИ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ДВИЖУЩИЙСЯ ОБЪЕКТ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2013
  • Прилипко Александр Яковлевич
  • Павлов Николай Ильич
RU2541505C2
Способ измерения температуры модели черного тела 1983
  • Саприцкий В.И.
  • Мальцев В.В.
  • Столяревская Р.И.
SU1123357A1
Эталон спектральной плотности энергетической яркости для калибровки источника излучения 1986
  • Иванов Сергей Николаевич
  • Китаева Галия Хасановна
  • Михайлин Виталий Васильевич
  • Пенин Александр Николаевич
  • Шепелев Андрей Вадимович
SU1339412A1
ПИРОМЕТР 2016
  • Александров Сергей Евгеньевич
  • Гаврилов Геннадий Андреевич
  • Капралов Александр Анатольевич
  • Матвеев Борис Анатольевич
  • Ременный Максим Анатольевич
  • Сотникова Галина Юрьевна
RU2726901C2

Реферат патента 1998 года СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОЙ ПЛОТНОСТИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ ЯРКОСТИ ИК-ИЗЛУЧЕНИЯ ТЕПЛОВЫХ ИСТОЧНИКОВ

Изобретение относится к спектрорадиометрии источников теплового ИК-излучения, например, для передачи размера единиц спектральной плотности энергетической яркости (СПЭЯ) в Государственной поверочной системе. Целью изобретения является повышение точности. Сущность изобретения заключается в регистрации разностных сигналов от исследуемого и эталонного излучения с предварительно выровненными интегральными потоками, причем потоки преобразуются в сигналы по идентичным трактам, попеременно оптически сопрягаемым фотоприемником с приемно-усилительной системой с частотой синхронного детектирования. Суждение об определяемой величине СПЭЯ по разностным сигналам выносится на основании двух измерений с эталонным излучением модели черного тела при двух температурах. Изобретение позволяет повысить точность определения СПЭЯ. 1 ил.

Формула изобретения SU 1 477 053 A1

Способ определения спектральной плотности энергетической яркости ИК-излучения тепловых источников, заключающийся в сравнении модулированных монохроматизированных потоков излучения от исследуемого источника и модели черного тела (МЧТ) с известной температурой, соответствующей реперной точке температурной шкалы МЧТ, путем синхронного с частотой модуляции детектирования сигналов приемника излучения и определения значения спектральной плотности энергетической яркости (СПЭЯ) по найденному в результате сравнения отношению, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, дополнительно осуществляют сравнение потоков исследуемого источника и МЧТ путем попеременного оптического сопряжения излучения источника и МЧТ с интегральным приемником излучения по трактам с идентичными оптическими характеристиками, причем сопряжение производят с указанной частотой синхронного детектирования, уравнивают указанные потоки, затем сравнивают попеременно с частотой синхронного детектирования монохроматизированные при длине волны λ потоки излучения источника и МЧТ с температурой T1, оптически сопрягаемые со спектрометром по тем же, что и для интегрального приемника, трактам, измеряют сигнал ΔR1(λ), пропорциональный разности указанных монохроматизированных потоков, измеряют температуру МЧТ до значения T2, соответствующего соседней реперной точке температурной шкалы МЧТ, измеряют сигнал ΔR2(λ), пропорциональный разности потоков источника и МЧТ, и с учетом значений ΔR1(λ) и ΔR2(λ) находят значение спектральной плотности энергетической яркости (СПЭЯ) источника Lu(λ) по зависимости

где L(λ,Ti) = C15i

π(exp C2/λTi-1)]-1 [Вм/стер•м3] СПЭЯ МЧТ при температуре T1 по закону Планка;
C1, C2 - первая и вторая постоянные по закону Планка.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1998 года SU1477053A1

Shneider W.E
et al
Broadband lamp Standard for UV, visible and IR calibration to 6,0 6,0 μm,, - Proc
Opt
Instr
Eng, 1981, v
Автоматический переключатель для пишущих световых вывесок 1917
  • Клобуков В.Н.
SU262A1
Видоизменение прибора с двумя приемами для рассматривания проекционные увеличенных и удаленных от зрителя стереограмм 1919
  • Кауфман А.К.
SU28A1
Методические указания
Средства измерений, образцовые и рабочие, спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения и спектральной плотности энергетической освещенности непрерывного оптического излучения в диапазоне длин волн 0,22-10,6 мкм
Методы и средства поверки
М.: Изд-во Стандартов, 1984, раздел 4, ГОСТ 8
Пылеочистительное устройство к трепальным машинам 1923
  • Меньшиков В.Е.
SU196A1

SU 1 477 053 A1

Авторы

Виноградов Е.А.

Калинин А.В.

Саприцкий В.И.

Даты

1998-11-10Публикация

1987-04-02Подача