Способ измерения угла фарадеевского вращения Советский патент 1984 года по МПК G01N21/21 

Описание патента на изобретение SU1125513A1

ю

СП

ел

со Изобретение относится к контролю или анализу веществ материалов или изделий с помощью оптических методов и может найти применение при исследо ваниях магнитооптических эффектов первого и второго порядков, зависящи от величины и ориентации намагниченности оптически неактивных сред (диа-, пара- и ферромагнетиков) отно сительно направления распространения в них линейно поляризованного излучения. Изобретение предназначено для Исследования электрофизических параметров (концентраций носителей заряпов, эффективных их масс и т.п.) полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев на их основе. Кроме того, оно может быть исполь зовано в молекулярной и электронной спектроскопии, физической химии и медицинской биофизике, а также в устройствах управления интенсивностью, фазой, поляризацией или цветом. Известен способ измерения угла фарадеевского вращения .1 3, основанный на зависимости вида э ЛдСоз е , (1) где Лр , 3 - ийтейсивности линейно поляризованного света д и после анализатора; б - угол между плоскостями поляризации падающего света и света, пропуска емого анализатором. В процессе измерения угол 9 определяют по изменению интенсивности J либо по сдвигу зависимости при наложении на материал магнитного поля. Недостатком указанного способа является зависимость результата измерения угла фарадеевского вращения от погрешности преобразования измерительного тракта. Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ измерения угла фарадеевского вращения 2 3, согласно которому определяют экстремумы интенсивности линейно поляризованного зондирующего излучения на выходе из исследуемой сре ды при каждом из двух различных напряв лений Приложенного к среде магнитного поля ( и А, угол б определяют из соотношения ). 12) S 26 (J otKc MMH / м«кс мин Недостатком известного способа является.зависимость результата измерения угла фарадеевского вращения от погрешностей преобразования измерительного тракта, что снижает точность измерения. Цель изобретения - повьшение точности измерения. Указанная цель достигается тем, что согласно способу, основанному на определении экстремумов интенсивности линейно поляризованного зондирующего излучения на выходе его из исследуемой среды на каждом из двух различных направлений приложенного к среде магнитного поля, изменяют интенсивность зондирующего излучения и дополнительно Определяют его экстремумы, а угол 0 находят из соотношения„ i 1 лдин2 мин 1/ макс 2 MOKCI) , ; e-TC(rcsinrTv-г --j г;; ; Г«ИН2 МИН1/ м«кс2 МОКС1/ На чертеже изображена структурная схема устройства измерения угла фарадеевского вращения в оптическом ИК диапазоне длин волн. Технические параметры устройства: угол вращения плоскости поляризации 1,0°; пороговая чувствительность к измерению вращения плоскости поляризации 0,01-0,03°; возможность измерения на образцах с пропусканием Т 0,2 - 10 ; локальность измеAfiHH U лл рении 20 мкм; толщина измеряемых образцов (из арсенида галлия, кремния или германия) от сотен до единиц микрон, а также возможность измерения участков диффузии и эпитаксии с указанной локальностью. Излучение лазера 1 модулируется электрооптическим модулятором 2 с частотой модуляции 1 кГц и подается на вход ослабителя 3, выход которого соединен с измерительным трактом, состоящим из последовательно соединенных поляризатора 4; входной германиевой линзы 5, установленной на входе магнита 6, обеспечивающего напряженность поля 10-14 кГс, в котором установлен исследуемый образец 7, выходной германиевой линзы 8, анализатора 9, ориентированного под углом 45 относительно плоскости поляризации излучения, падающего на него, амплитудного ,делителя 10 мощности с калориметрической нагрузкой 11 на одном из его выходов и приемником 12 оптического излучения с фазовым детектором на другом, усилителя 13, аналого-цифрового преобразователя 14, микроЭВМ 15. Управление структурной схемой осуществляется по программе, введен ной в запоминающее устройство микроэвм 15, и с помощью команд, подаваемых от микроЭВМ 15 к лазеру модулятору 2, ослабителю 3, механиз му 16 поворота магнита 6, механизму 17 вертикального перемещения образца 7. Индикация результата измерения эффекта Фарадея осуществляется по команде микроЭВМ 15 на цифровом индикаторе 18. Устройство для осуществления способа работает следующим образом В исходном состоянии исследуемый образец 7 выведен с помощью устройства 17 из оптического канала. Первоначально по.команде микроЭВМ 15 включают лазер 1 и модулятор 2, установив необходимую частоту модуляции. Устанавливают такое ослабление ослабителя 3, чтобы в скрещенны поляризаторе 4 и анализаторе 9 выходной сигнал фазового детектора приемника 12 излучения находился в диапазоне линейного участка характеристики фазового детектора. После этого микроЭВМ фиксирует в оперативно-запоминающем устройств выходной сигнал аналого-цифрового преобразователя 14, соответствующий начальной интенсивности Л линейно поляризованного зондирующего излучения лазера 1 при общем коэффициен те 5 преобразования измерительного преобразователя относительной мультипликативной j и абсолютной аддитивной систематических погрешностях преобразования. Затем устанавливают на штативе исследуемый образец 7, ориентируют его под углом Брюстера по отношению к направлению распространения зондирующего излучения лазера 1 в опти ческом тракте между германиевыми линзами 5 и 8. По команде микроЭВМ 15 вводят с помощью механизма 17 в оптический канал между германиевыми линзами 5 и В исследуемый образец Далее по команде микроЭВМ.15с помощью механизма 16 поворачивают магнит 6 до тех пор, пока вектор магнитного поля не станет парал34лелен направлению распространения зондирующего излучения в исследуемом образце 7, а на выходе аналого-цифрового преобразователя 14 не появится выходной сигнал, который микроэвм 15 фиксирует в своем оперативно-запомина щем устройстве. После этого по команде микроЭВМ 15 с помощью механизма 16 поворачивают магнит 6 до тех пор, пока вектор магнитного поля не окажется под углом к направлению распространения зондирующего излучени я в исследуемом образце 7, а на выходе аналого-цифрового преобразователя 14 не появится выходной сигнал, который микроЭВМ 15 фиксирует в своем оперативно-запоминающем устройстве. Затем по команде микроЭВМ 15 изменяют (например, уменьшают) ослабление ослабителя 3 таким образом, что начальная интенсивность 17 зондирующего излучения лазера 1 увеличивается на различимое значение лЗо, а выходной сигнал фазового детектора приемника 12 излучения находится в пределе линейного участка выходной характеристики фазового детектора. После этого микроЭВМ фиксирует в оперативно-запоминающем устройстве выходной сигнал аналого-цифрового преобразователя 14, соответствующий интенсивности Л линейно поляризованного излучения лазера 1 . Затем по команде микроЭВМ 15 вводят с помощью механизма 17 исследуемый образец 7 в оптический канал между германиевыми линиями 5 и 8. Далее микроЭБМ 15 фиксирует в оперативно-запоминающем устройстве выходной сигнал аналого-цифрового преобразователя 14. После этого по команде микроЭВМ 15 с помощью механизма 16 поворачивают магнит 6 до тех пор, пока вектор магнитного поля не станет параллелен распространению зондирующего излучения в исследуемом образце 7, а на выходе аналого-цифрового преобразователя не появится выходной сигнал, который микроэвм 15 фиксирует в своем оперативно-запоминающем устройстве. Затем микроэвм 15, используя зафиксированны1е в ее оперативно-запоминающем устройстве значения выходных сигналов аналого-цифрового преобразователя 14, вычисляет алгоритм, который предварительно вводят в оперативно-запоминающее устройство микро

Похожие патенты SU1125513A1

название год авторы номер документа
Способ измерения спектрального показателя поглощения 1984
  • Таран Виктор Алексеевич
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Гаврилюк Григорий Иванович
  • Водотовка Владимир Ильич
SU1518734A1
Способ определения коэффициента пропускания средой волны электромагнитного излучения 1983
  • Таран Виктор Алексеевич
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Водотовка Владимир Ильич
SU1281986A1
Способ определения величины переменного электрического тока 1986
  • Таран Виктор Алексеевич
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Гаврилюк Григорий Иванович
  • Жукинский Игорь Николаевич
SU1396067A1
Способ определения диэлектрической проницаемости материалов 1989
  • Таран Виктор Алексеевич
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Глазков Леонид Александрович
SU1661674A1
Способ определения толщины пленочных материалов и покрытий 1988
  • Таран Виктор Алексеевич
  • Скрипник Юрий Алексеевич
SU1619035A1
Магнитооптический спектроанализатор 1983
  • Шмарев Евгений Константинович
SU1170375A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДИСТАНЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ОБЪЕКТА 1998
  • Акимов Н.П.
  • Гектин Ю.М.
  • Кисляков Ю.В.
  • Осипов П.А.
  • Смелянский М.Б.
RU2156453C1
ЛАЗЕРНЫЙ ДОПЛЕРОВСКИЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ 1993
  • Косовский Леонид Абрамович
  • Кормаков Анатолий Анатольевич
  • Погосов Григорий Ашотович
  • Полуян Владимир Петрович
RU2106658C1
Способ определения напряженности магнитного поля 1989
  • Давиденко Ирина Ивановна
  • Куц Петр Сергеевич
  • Тычко Александр Викторович
SU1705787A1
СПОСОБ ОЦЕНКИ ВИБРАЦИОННЫХ ИЛИ АКУСТИЧЕСКИХ СИГНАЛОВ ВДОЛЬ ПРОТЯЖЕННЫХ ОБЪЕКТОВ НА БАЗЕ ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКОГО КОГЕРЕНТНОГО РЕФЛЕКТОМЕТРА С АМПЛИТУДНОЙ И ФАЗОВОЙ МОДУЛЯЦИЕЙ ЗОНДИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ 2016
  • Ненашев Анатолий Сергеевич
  • Чернов Сергей Александрович
  • Дуркин Юрий Владимирович
RU2624594C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 125 513 A1

Реферат патента 1984 года Способ измерения угла фарадеевского вращения

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ УГЛА ФАРАДЕЕВСКОГО ВР,АЩЕНИЯ.е, основанный на определении экстремумов интенсивности линейно поляризованного зондирующего излучения на выходе его из исследуемой среды при каждом из двух различных направлений приложенного к . среде магнитного поля, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, изменя:от интенсивность зондирующего излучения и дополнительно определяют его экстремумы, а угол б находят из соотношения . i №VlH2 миН1/ л акс2 А(с1кс1 0 C rC5in (MH2 MHlV M«Kc2 Moi tci) где а макс1 МИН1 максг выходные сигналы минг измерительного преобразователя g экстремумов начальной (О и измен енной

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1984 года SU1125513A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Уханов Ю.И
Измерение эффекта Фарадея в полупроводниках
ФТТ
Водоотводчик 1925
  • Рульнев С.И.
SU1962A1
Аппарат, предназначенный для летания 0
  • Глоб Н.П.
SU76A1
Универсальный двойной гаечный ключ 1920
  • Лурье А.Б.
SU169A1
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Батавин В.В
Контроль параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев
М., Советское радио, 1976, с
Приспособление для плетения проволочного каркаса для железобетонных пустотелых камней 1920
  • Кутузов И.Н.
SU44A1

SU 1 125 513 A1

Авторы

Таран Виктор Алексеевич

Скрипник Юрий Алексеевич

Водотовка Владимир Ильич

Даты

1984-11-23Публикация

1982-12-16Подача