Изобретение относится к устройствам для измерения толщины материалов путем просвечивания их радиоактивными излучениями.
Устройства для измерения толщины материала, действие которых основано на просвечивании материала радиоактивными излучениями и сравнении интенсивности остаточного излучения, прошедшего сквозь испытываемый материал с интенсивностью излучения, прошедшего сквозь эталонный образец того же материала, выполненный в виде подвижной заслонки, вводимой между излучателем и приемником, известны. При этом уравнивание остаточных излучений осуществляется автоматически, например, при помощи реверсивного двигателя, перемещающего заслонку.
Известно также приспособление для изменения чувствительности усилителя приемника излучений в зависимости от измеряемых толщин, состоящее из переменного сопротивления, движок которого механически связан с подвижной заслонкой-эталоном.
Отличие описываемого устройства заключается в том, что в нем для поддержания чувствительности измерительного прибора в соответствии с пределами измеряемых толщин подвижная заслонка-эталон механически связана с переключателем шунтов, изменяющих чувствительность измерительного прибора в соответствии с пределами измеряемых толщин.
На чертеже изображена принципиальная схема устройства, где: /- источники радиоактивного излучения; 2-измеряемый материал; 5-рабочая ионизационная камера; 4-компенсационная ионизационная камера; 5-заслонка-эталон; 6-винтовой механизм; 7-тяга; 8-задающая шкала; 9 щунтирующие сопротивления; /О-измерительный прибор; //-электронный усилитель.
В зстройстве использованы две дифференциально В1счючениые ионизационные камеры 3 к 4, облучаемые двумя источниками радиоактивно
