Устройство для контроля и сигнализации о ходе технологического процесса Советский патент 1988 года по МПК G01N21/47 

Описание патента на изобретение SU1136603A1

Изобретение относится к области автоматического контроля и сигнализации о ходе технологического процесса, например сварки, и может быть применено для дистанционного наблюдения и контгроля качества сварного шва, размера стыка, поперечного биения стыка, поперечных размеров сварочной ванны.

Известно устройство для контроля зеркальной поверхности, содержащее источник света с рефлектором.

Однако на зеркальной и блестящей поверхности наблюдается большой пере1 тад яркости освещения поверхности,

Наиболее близким техническим решением к изобретений является устройство для контроля и сигнализации о ходе технологического процесса, содержащее фотоэлектрический датчик, выход которого подключен к блоку регистрации и сигнализации, и блок подсвета, включакщий источник света с рефлектором.

Недостатком зтого устройства является то, что при контроле зеркальных поверхностей возникает блик мест поверхностей, с которых свет попадает в приемник отраженного света, и тени от мест, откуда освещающий свет полностью не попадает в приемник излучения.

Целью изобретения является повышение надежности контроля.

С этой целью в устройство для контроля и сигнализации о Ходе технрлогического процесса, преимущественно процесса электронно-лучевой сварки изделий с цилиндрической или сферической поверхностью, содержащее фотоэлектрический датчик, выход которого подключен к блоку регистрации и сигнализации, иблок подсвета, включаюпщй источник света с рефлектором, дополнительно введен контррефлектор со сферической рабочей поверхностью и экран, установленный на расстоянии не менее двойной апертуры воздействующего объекта в сторону фотоэлектрического датчика инарасстояНИИ h 1,5 dp от касательной к

LJ

контролируемой поверхности в точке воздействия, где Н -.высота, на которую поднят ot указанной касатель ной противоположный от экрана конец контррефлектора; L - расстояние от противоположного от экрана конца . контррефлектора до оси воздействующего объекта/ d - размер апертуры воздействукщего объекта. Причем центр кривизны контролируемой поверхности расположен в фокальной плоскости, а контррефлектор примыкает одной стороной к экрану и наклонен относительно блока подсвета и контролируемой поверхности таким образом, что прямая, соединяющая оптическую ось рефлектора с центральной точкой контррефлектора, симметрична относительно нормали к этой точке прямой, соединяющей центральную точку контррефлектора с центром кривизны контролируемой поверхности.

Данное техническое решение позволяет иск аочить появление бликов на контролируемой Поверхности и тем самим повысить качество контроля.

На чертеже дана схема устройства.

Устройство содержит фртоэлектрический датчик 1, выход которого подключён к блоку 2 регистрации и сигнализации, и блок подсвета, включающий источник света с рефлектором 3, контррефлектор А со сферической рабочей поверхностью и экран 5, установленный на расстоянии не. менее двойной апертуры воздействующего объекта 6 в сторону фотоэлектрического да тчика t, на

15 L d.

расстоянии ь а

от касательной к контролируемой поверхности в точке воздействия. При этом Н высота, на которую поднят противоположный от экрана 5 конец коитррефлектора 4; L - расстояние, от противоположного от экрана 5 конца контррефлектора 4 до оси воздействующего объекта dq - размер апертуры воздействующего объекта 6} h - расстояние от касательной к контролируемой поверхности в точке воздействия. Контррефлектор 4 примыкает одной стороной к экрану 5 и наклонен относительно блока подсвета, расположенного вне зоны 7 Технологического процесса, и контролируемой поверхности 8. Прямая 9, соединяющая оптическую ось 10 рефлектора 3с центральной точкой 11 контррефлектора 4, в фокальной плоскости 12 которого расположен центр 13 кривизны контролируемой поверхности 8, симметрична (относительно нормали 14 к центральной точке 11) прямой 15, соединяющей эту точку 11 с центром 13 кривизны контролгфуемой поверхности В. На

Похожие патенты SU1136603A1

название год авторы номер документа
Способ определения радиусов кривизны сферических поверхностей и устройство для его осуществления 1988
  • Парняков Евгений Серафимович
  • Парняков Юрий Серафимович
SU1562691A1
УСТРОЙСТВО ЮСТИРОВКИ ДВУХЗЕРКАЛЬНОЙ ЦЕНТРИРОВАННОЙ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ 2011
  • Балоев Виллен Арнольдович
  • Иванов Владимир Петрович
  • Ларионов Николай Петрович
  • Лукин Анатолий Васильевич
  • Мельников Андрей Николаевич
  • Скочилов Александр Фридрихович
  • Ураскин Андрей Михайлович
  • Чугунов Юрий Петрович
RU2467286C1
МНОГОЛУЧЕВАЯ НЕАПЛАНАТИЧЕСКАЯ ГИБРИДНАЯ ЗЕРКАЛЬНАЯ АНТЕННА 2001
  • Архипов Н.С.
  • Кочетков В.А.
  • Тихонов А.В.
  • Чаплыгин И.А.
  • Щекотихин В.М.
RU2181519C1
Сферометр 1986
  • Пизюта Борис Арсентьевич
  • Сырова Галина Александровна
  • Шульженко Петр Федорович
SU1379610A1
Устройство для контроля печатных плат 1989
  • Иванов Владислав Николаевич
  • Юшкевич Владимир Аркадьевич
SU1693493A1
Способ формирования размеров светового пятна на динамическом объекте и устройство для его осуществления 2018
  • Вовк Михаил Юрьевич
  • Кулалаев Виктор Валентинович
  • Марчуков Евгений Ювенальевич
  • Петриенко Виктор Григорьевич
RU2713128C1
Осесимметричная зеркальная антенна 1981
  • Васильченко Валерий Викторович
  • Полухин Геннадий Александрович
  • Шубов Анатолий Григорьевич
SU1137548A1
Способ снижения шумовой температуры многолучевых двухзеркальных антенн со смещенной фокальной осью 2022
RU2795755C1
Способ автоматической стабилизации радиотехнических характеристик поворотной крупногабаритной антенны радиотелескопа 1990
  • Страхов Алексей Федорович
  • Безродный Яков Шоломович
  • Бондаренко Владимир Михайлович
  • Белокрылов Валерий Денисович
  • Страхов Олег Алексеевич
SU1764112A1
Устройство для контроля центрирования оптических деталей 1987
  • Парняков Юрий Серафимович
SU1530962A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 136 603 A1

Реферат патента 1988 года Устройство для контроля и сигнализации о ходе технологического процесса

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ И СИГНАЛИЗАЦИИ О ХОДЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОГО ПРОЦЕССА, преимущественно процесса электронно-лучевой сварки изделий с цилиндрической или сферической поверхностью, содержащее фотрэлект| ический датчик, выход которого подключен к блоку регистрации и сигнализации, и блок подсвета, включ щий источник свет с рефлектором, отличающееся тем, что, с целью повышения надежности контроля, в устройство дополнительно введен контррефлектор со сферической рабочей поверхностью и экран, установленный на расстоянии не менее двойной апертуры воздействующего объекта в сторону фотоэлектрического датчика и 1 5 -5на расстоянии Н ifl от L касательной к контролируемой поверхности в точке воздействия, где Н высота, на которую поднят от указанной касательной противоположный от экрана конец контррефлектора;L - расстояние от противоположного от экрана конца контррефлектора до оси воздействующего объекта; J - размер апертуры воздействующего объекта, причем центр кривизны контролируемой поверхности расположен j в фокальной плоскости контррефсл лектора, а контррефяектор примыкает одйой стороной к экрану и наклонен относительно блока подсвета и контролируемой поверхности таким образом, что прямая, соединяющая оптическую ось рефлектора с центральной точкой контррефлектора, симметрична относительно нормали к этой точке со прямой, соединяющей центральную точOi ку контррефлектора с центром кривизСП) ны контролируемой поверхности. о со

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU1136603A1

УСТРОЙСТВО для ЗАЩИТЫ ГЛАЗ И ЛИЦА ЭЛЕКТРОСВАРЩИКА 0
SU252549A1
Устройство для сортировки каменного угля 1921
  • Фоняков А.П.
SU61A1
СПОСОБ УМЕНЬШЕНИЯ КОНТРАСТА МЕЖДУ СВАРОЧНОЙ 0
SU274271A1
Прибор для равномерного смешения зерна и одновременного отбирания нескольких одинаковых по объему проб 1921
  • Игнатенко Ф.Я.
  • Смирнов Е.П.
SU23A1

SU 1 136 603 A1

Авторы

Лифшиц М.Л.

Лобанова Н.Г.

Ефимов И.И.

Рябов Ю.Р.

Даты

1988-09-07Публикация

1983-03-21Подача