Устройство для определения размеров и глубины залегания скрытых дефектов в изделиях Советский патент 1958 года по МПК G01N29/04 G01B17/00 

Описание патента на изобретение SU115743A1

Известны СчЮС.обы определения 11аз мерО:3 скрЬТых дефектов тфи обна) их в твердых телах .методами зльтраэвуковой дефектоскопии. Cnocoi6b эти оснозаны на сравнении зоЛИчины сигнала, лолучег иого от де1 :твителнного дефекта, с си1 чалом-от плоского круглОГо отражателя искусственного дефекта, Р ас.п о л ож ен н ог о пери ем д ику л яр« о ;- аира;злению у.ПзТразвукОВых лучей }1л то.м же Расстоянии от приемника излучени, что и исследуемый дефект. Плоп1адь отражателя, оигна. от которого равен сигналу полученному от дефекта, служит для оцеики его раЗ.мерое.

ПедостгггкоМ опи-саниого метода язл5:ется необходимость большого ко/1ичества эталониьгх образцов с ис1кусстзе 1нь ми дефекта ми разных раз мероз, расположенны.ми на раз:1 ой глубине, под )азными углами к поверхности об;оазц,а, соответственио углу наклона иох.ателя.

Особенность предложенного согласно изобретению устройства для осуществления указанного способа опрСделения размера дефекта с помощью вспомогате,пьнои ультразву-кОЗой модели исследуемого тела, еоставле;тной из заполненного жидкосгью сосуда с дву.мя электродами: из;1учатслем и отражателем, заключается ВТОМ, что электрод-излучатель вькшлнен подвижным, а электрод-отражатель состоит из сверliyroii в сдираль ..металлической ленты, с.матываеМО : со спирали или намагы:зоемч)й на нее для возможности плазно1о Изменения площади -i: скгрЭ;;,а отражателя.

и а . 1 схематически изображеио 11редложс1П- ое уетройетво, а на фиг. 2-его видоизменение.

Устройство это, приведенное На фиг. представляет собою модель акустЛЧеГКого тракта дефектоскопа, вы:;олпенную в жидкости.

O.HO состоит из заполненного жидкостью сосуда 1, внутрь которого введень; два электрода 2 и 3. Один из них , служащий излучателем ультразвуХовых колебаний может перемещаться в продольном нанраз.тонил, причем положение его ф:хс:р -стся указателем на 1пкале.

Ллощадь iBTiopOio электроаа-от 1а жателя 5 может изменяться путем навИйхи на его конец металличеоко ; ленты 5, вращением оси электродаотражателя 2. Раамер площади -намотанной в виде спирали ленты указыв-ается на шкале 6.

Процесс пользозалия устройством заклкэчается в сравнении на экране осциллографа изображений сигналов: полученных в дефектоскопе при проверке действительного изделия с сигналом, полученным от модели.

Как уже было указано, излучатель может перемещаться относительно отр:ажателя 2, в резЗльтате чего служебный нмпульс перемещается вдоль линии развертки по экр.аичу электронного осциллографа. Путем перемотки ленты площадь отражателя 2 также может изменяться, благодар:я чему изменяется величина отраженного сигнала принятого излучателем 5.

Таким образом для определения эквивалентйой площади дефекта нео|бходимо пере-мещать излучатель 5 и изменять площадь отражателя 2, пока служебный импульс от модели на экраде не совпадает по величине и положению с импульсом, отражеппым от действительного дефекта. После этого экви/валентная площадь дефекта и -расстояние до дефекта определяются па ;мо-дели по щкалам 4 yi 6.

На ф.иг. 2 приведен другой щариаат предложенного устройства. В нем также применен за.-полпенный Жидкостыо СО-суд с двумя электродами и-злучателем 7 и отраж-ателем 8. Оба электрода выполнены подвижными и их положение фиксируется на щкалах 9 и 10. Между электродами расположена диафрагмн //с Kpyr.iibiM регулируе.мым (п,ii-e,i:j-iicM, дмалтегр ко1ч ро:го может быть отсчитан па шкале 12.

В этом случае сигнал от излучателя, прошедший через диафрагму, прини.м-ается отражателем 8, ра-сположенным на том же расстоянии от диафрагмы, что и излучатель 7, по -.|,ругую сторону от нее.

П JD е д мет и з о б р е т е в и я

1. Устройство для о-пределения размеров и гл-убины залегания окры1Ъ х дефектов в изделиях, путем сравпепая сигнала, получеппого в ультразеуковом дефектоскопе от дс1 1ст;зительного дефекта, с сигпа.TOiM ПОЛучеИЯЫЛ с nOMOHlblO -ВСПО1М01.ательпой ультразвуковой модели исследуемого тела составленного из заполненного жидкостью с расположенными в нем двумя электродами-лзлучателем и отражателем, о т л -и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью п-рои-ззольного изменения раз.мероз и глубины залегания ис;кусст1венн:оГ0 дефект-а, электродизлучатель выполнен передвижным, а элек-трпд-отраисатель состоит из свернутой в опир.аль металлической ленты, сматываемой со спирали или пг.л-1атываем1ой на пее для плавного изменения пл-ощади электрода-отражателя с тем, чтобы путем изме - ения расстояния между эл-ектродамл и площади электрода-отраж-ателя М-ЭЖ1П-0 было измснять гюложение и форму сигнала получаемопо от модели.

2. Впдоиз.менение стр-ойства по п. 1,0 т л и ч а 0 щ е е с я те-м, что для изменения ра-зме:ров дефекта на .модели применена расположенная между электродами диафрагма, с регулируемым по величи - е отверстием.

RI.U: .J,i.:...UJJJJJ.U- - -lJl-J, I

Похожие патенты SU115743A1

название год авторы номер документа
Устройство для ультразвуковой дефектоскопии труб 1960
  • Ермолов И.Н.
  • Краковяк М.Ф.
  • Матвеев А.С.
SU136088A1
Ультразвуковой прибор для измерения толщины стенок изделий 1960
  • Ермолов И.Н.
  • Краковяк М.Ф.
  • Матвеев А.С.
SU147771A1
Устройство для модуляции частоты колебаний 1959
  • Ермолов И.Н.
  • Краковяк М.Ф.
  • Матвеев А.С.
SU127486A1
Ультразвуковой дефектоскоп 1951
  • Богословский Ю.В.
  • Королев В.Д.
  • Краковяк М.Ф.
  • Матвеев А.С.
  • Рахманов В.Б.
SU97470A1
Способ люминесцентной дефектоскопии изделий 1960
  • Ермолов И.Н.
  • Иванов О.В.
  • Краковяк М.Ф.
SU133670A1
Способ измерения температуры среды 1955
  • Ермолов И.Н.
  • Краковяк М.Ф.
SU105484A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СКОРОСТИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ ПРОДОЛЬНЫХ И ПОПЕРЕЧНЫХ ВОЛН В РАЗЛИЧНЫХ ТВЕРДЫХ МАТЕРИАЛАХ 1991
  • Еськов Ю.Б.
  • Бондаренко Ю.К.
  • Мельников А.С.
  • Шекеро А.Л.
RU2011192C1
Способ дефектометрии плоских диэлектрических материалов 1989
  • Кожаринов Валерий Владимирович
  • Швайко Александр Николаевич
  • Крутов Григорий Федорович
SU1698725A2
СПОСОБ АКУСТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ 1990
  • Лещенко А.С.
  • Торопчин О.П.
  • Косьмирова Н.В.
SU1745044A1
Способ неразрушающего контроля дефектности углеграфитовой продукции с использованием ультразвукового томографа 2017
  • Блескин Григорий Сергеевич
  • Бутакова Татьяна Валерьевна
  • Спекторук Алексей Александрович
  • Кванин Алексей Леонидович
  • Матвеев Анатолий Владимирович
RU2668637C1

Иллюстрации к изобретению SU 115 743 A1

Реферат патента 1958 года Устройство для определения размеров и глубины залегания скрытых дефектов в изделиях

Формула изобретения SU 115 743 A1

, 11 111 I.ILIIJJA.H

.iU. OUJJ iluigijjiimi

SU 115 743 A1

Авторы

Ермолов И.Н.

Краковяк М.Ф.

Матвеев А.С.

Даты

1958-01-01Публикация

1957-10-23Подача