название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
ИЗЛУЧАЮЩАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА С ВНУТРЕННИМ УСИЛЕНИЕМ ИНЖЕКЦИИ | 2012 |
|
RU2576345C2 |
ИЗЛУЧАТЕЛЬНАЯ МНОГОПРОХОДНАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА | 1982 |
|
SU1111645A1 |
МАТРИЦА ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ | 2014 |
|
RU2571434C1 |
ИЗЛУЧАТЕЛЬНАЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ МНОГОПРОХОДНАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА | 1983 |
|
SU1163777A1 |
Полупроводниковая гетероструктура для импульсного излучателя света | 1990 |
|
SU1837369A1 |
ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ ИЗЛУЧАТЕЛЬНАЯ МНОГОПРОХОДНАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА | 1983 |
|
SU1157994A1 |
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ИНЖЕКЦИОННЫЙ ЛАЗЕР | 2004 |
|
RU2301486C2 |
ИЗЛУЧАТЕЛЬНАЯ МНОГОПРОХОДНАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА | 1984 |
|
SU1387821A1 |
ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА | 2007 |
|
RU2431218C2 |
ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА | 2005 |
|
RU2376680C2 |
Полупроводниковая излучательная многопроходная гетероструктура, включающая узкозонную область излучательной рекомбинации, расположенную между широкозонными слоями, отличающаяся тем, что, с целью понижения пороговой плотности тока накачки, между упомянутыми широкозонными слоями введены, по крайней мере, два дополнительных слоя с разными ширинами запрещенной зоны, меньшими ширины запрещенной зоны области излучательной рекомбинации, а суммарная толщина дополнительных слоев не менее обратной величины меньшего коэффициента поглощения в них излучения из области излучательной рекомбинации, но не более диффузионной длины неосновных носителей в этих слоях, толщина наиболее узкозонного дополнительного слоя d1 меньше толщины второго дополнительного слоя d2 в число раз, определяемое из соотношения
а разность ширины запрещенной зоны Δi области излучательной рекомбинации и каждого из дополнительных слоев выбрана из соотношения
где Pi - концентрация основных носителей дополнительного слоя (i=1,2);
τi - время жизни неосновных носителей дополнительного слоя;
Egi - ширина запрещенной зоны дополнительного слоя;
di - толщина дополнительного слоя;
P, τ, d - соответствующие параметры области излучательной рекомбинации;
L - диффузионная длина неосновных носителей в этой области;
К - постоянная Больцмана;
Т - температура структуры, K;
Si - скорость поверхностной рекомбинации на гетерограницах дополнительного слоя.
Авторы
Даты
2012-07-20—Публикация
1982-12-01—Подача