ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ ИЗЛУЧАТЕЛЬНАЯ МНОГОПРОХОДНАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА Советский патент 2012 года по МПК H01S3/18 

Похожие патенты SU1165211A1

название год авторы номер документа
ИЗЛУЧАЮЩАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА С ВНУТРЕННИМ УСИЛЕНИЕМ ИНЖЕКЦИИ 2012
  • Бекирев Увеналий Афанасьевич
  • Потапов Борис Геннадьевич
RU2576345C2
ИЗЛУЧАТЕЛЬНАЯ МНОГОПРОХОДНАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА 1982
  • Бекирев У.А.
  • Инкин В.Н.
  • Степанищева Г.В.
SU1111645A1
МАТРИЦА ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ 2014
  • Патрашин Александр Иванович
  • Бурлаков Игорь Дмитриевич
  • Яковлева Наталья Ивановна
RU2571434C1
ИЗЛУЧАТЕЛЬНАЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ МНОГОПРОХОДНАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА 1983
  • Бекирев У.А.
SU1163777A1
Полупроводниковая гетероструктура для импульсного излучателя света 1990
  • Галченков Дмитрий Владимирович
  • Образцов Андрей Александрович
  • Стрельченко Станислав Сергеевич
SU1837369A1
ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ ИЗЛУЧАТЕЛЬНАЯ МНОГОПРОХОДНАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА 1983
  • Бекирев У.А.
SU1157994A1
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ИНЖЕКЦИОННЫЙ ЛАЗЕР 2004
  • Бекирев Увиналий Афанасьевич
RU2301486C2
ИЗЛУЧАТЕЛЬНАЯ МНОГОПРОХОДНАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА 1984
  • Бекирев У.А.
  • Инкин В.Н.
  • Степанищева Г.В.
SU1387821A1
ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА 2007
  • Одноблюдов Максим
  • Бугров Владислав
RU2431218C2
ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА 2005
  • Одноблюдов Максим
  • Бугров Владислав
RU2376680C2

Реферат патента 2012 года ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ ИЗЛУЧАТЕЛЬНАЯ МНОГОПРОХОДНАЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРА

Полупроводниковая излучательная многопроходная гетероструктура, включающая узкозонную область излучательной рекомбинации, расположенную между широкозонными слоями, отличающаяся тем, что, с целью понижения пороговой плотности тока накачки, между упомянутыми широкозонными слоями введены, по крайней мере, два дополнительных слоя с разными ширинами запрещенной зоны, меньшими ширины запрещенной зоны области излучательной рекомбинации, а суммарная толщина дополнительных слоев не менее обратной величины меньшего коэффициента поглощения в них излучения из области излучательной рекомбинации, но не более диффузионной длины неосновных носителей в этих слоях, толщина наиболее узкозонного дополнительного слоя d1 меньше толщины второго дополнительного слоя d2 в число раз, определяемое из соотношения

а разность ширины запрещенной зоны Δi области излучательной рекомбинации и каждого из дополнительных слоев выбрана из соотношения

где Pi - концентрация основных носителей дополнительного слоя (i=1,2);

τi - время жизни неосновных носителей дополнительного слоя;

Egi - ширина запрещенной зоны дополнительного слоя;

di - толщина дополнительного слоя;

P, τ, d - соответствующие параметры области излучательной рекомбинации;

L - диффузионная длина неосновных носителей в этой области;

К - постоянная Больцмана;

Т - температура структуры, K;

Si - скорость поверхностной рекомбинации на гетерограницах дополнительного слоя.

SU 1 165 211 A1

Авторы

Бекирев У.А.

Даты

2012-07-20Публикация

1982-12-01Подача